物体抓取方法及装置、下料方法及装置和计算机程序产品制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种物体抓取方法及装置、下料方法及装置和计算机程序产品。物体抓取方法包括：根据目标物体的目标点云和目标模板点云确定第一位姿；根据目标物体的目标图像和目标模板图像确定目标补偿值；根据目标补偿值调整第一位姿，得到第二位姿；根据第二位姿抓取目标物体。标物体。标物体。

【技术实现步骤摘要】
物体抓取方法及装置、下料方法及装置和计算机程序产品


[0001]本专利技术涉及下料
，具体而言，涉及一种物体抓取方法及装置、下料方法及装置和计算机程序产品。

技术介绍

[0002]压缩机下料场景包含压缩机抓取和压缩机放置两个部分。其中，在抓取压缩机时，需要按照特定的抓取位姿准确抓取压缩机的相应位置。然而，在目前的压缩机下料方法中，受压缩机的工装误差的影响，降低了压缩机的抓取精度，从而降低了压缩机的抓取效率。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
[0004]为此，本专利技术的第一个方面在于提出一种物体抓取方法。
[0005]本专利技术的第二个方面在于提出一种下料方法。
[0006]本专利技术的第三个方面在于提出一种物体抓取装置。
[0007]本专利技术的第四个方面在于提出一种下料装置。
[0008]本专利技术的第五个方面在于提出一种可读存储介质。
[0009]本专利技术的第六个方面在于提出一种计算机程序产品。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种物体抓取方法，其特征在于，包括：根据目标物体的目标点云和目标模板点云确定第一位姿；根据所述目标物体的目标图像和目标模板图像确定目标补偿值；根据所述目标补偿值调整所述第一位姿，得到第二位姿；根据所述第二位姿抓取所述目标物体。2.根据权利要求1所述的物体抓取方法，其特征在于，所述根据所述目标物体的目标图像和目标模板图像确定目标补偿值，包括：提取所述目标图像中的至少两个目标特征点；根据所述至少两个目标特征点的坐标信息，确定目标特征参数；根据所述目标特征参数和所述目标模板图像对应的模板特征参数，确定所述目标补偿值。3.根据权利要求1或2所述的物体抓取方法，其特征在于，所述根据目标物体的目标点云和目标模板点云确定第一位姿，包括：对所述目标点云和所述目标模板点云进行配准；根据所述目标点云和所述目标模板点云确定配准分数；在所述配准分数大于目标阈值的情况下，根据配准结果和所述目标模板点云对应的目标模板位姿确定所述第一位姿。4.根据权利要求3所述的物体抓取方法，其特征在于，所述根据所述目标点云和所述目标模板点云确定配准分数，包括：根据所述目标点云和所述目标模板点云，确定所述目标点云中的多个目标点位，所述多个目标点位与所述目标模板点云中的部分点云点位的分布规律相同；根据所述多个目标点位和所述目标模板点云的位置坐标，确定所述多个目标点位与所述目标模板点云的距离信息，得到多个第一距离值；根据预设范围从所述多个第一距离值中选取多个第二距离值；根据所述多个第二距离值确定所述配准分数。5.根据权利要求3所述的物体抓取方法，其特征在于，所述根据配准结果和所述目标模板点云对应的目标模板位姿确定所述第一位姿，包括：根据配准结果确定目标变换矩阵；根据所述目标变换矩阵确定所述目标点云的目标偏转信息；根据所述目标偏转信息和所述目标模板位姿，确定所述第一位姿。6.一种下料方法，其特征在于，包括：如权利要求1至5中任一项所述的物体抓取方法的步骤；按照目标位姿，将所述目标物体放置在目标放置装置上。7.根据权利要求6所述的下料方法，其特征在于，所述按照目标位姿，将所述目标物体放置在目标放置装置上，包括：根据所述目标放置装置的第一点云确定所述目标放置装置的第一图像，所述目标放置装置包括多个用于放置所述目标物体的容纳腔；根据所述第一图像确定所述第一点云中与任意一个容纳腔对应的第一子点云；对所述第一子点云和所述目标放置装置的第一模板点云中的第二子点云进行配准，根
据配准结果确定与所述任意一个容纳腔对应的目标位姿，所述第一子点云和所述第二子点云相对应；根...

【专利技术属性】
技术研发人员：许江涛，孙智宇，梁宇新，谭颖聪，庄瑞炎，
申请(专利权)人：美的集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：