物体抓取方法及装置、下料方法及装置和计算机程序产品制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种物体抓取方法及装置、下料方法及装置和计算机程序产品。物体抓取方法包括：根据目标物体的目标点云和目标模板点云确定第一位姿；根据目标物体的目标图像和目标模板图像确定目标补偿值；根据目标补偿值调整第一位姿，得到第二位姿；根据第二位姿抓取目标物体。标物体。标物体。

【技术实现步骤摘要】
物体抓取方法及装置、下料方法及装置和计算机程序产品


[0001]本专利技术涉及下料
，具体而言，涉及一种物体抓取方法及装置、下料方法及装置和计算机程序产品。

技术介绍

[0002]压缩机下料场景包含压缩机抓取和压缩机放置两个部分。其中，在抓取压缩机时，需要按照特定的抓取位姿准确抓取压缩机的相应位置。然而，在目前的压缩机下料方法中，受压缩机的工装误差的影响，降低了压缩机的抓取精度，从而降低了压缩机的抓取效率。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
[0004]为此，本专利技术的第一个方面在于提出一种物体抓取方法。
[0005]本专利技术的第二个方面在于提出一种下料方法。
[0006]本专利技术的第三个方面在于提出一种物体抓取装置。
[0007]本专利技术的第四个方面在于提出一种下料装置。
[0008]本专利技术的第五个方面在于提出一种可读存储介质。
[0009]本专利技术的第六个方面在于提出一种计算机程序产品。
[0010]有鉴于此，根据本专利技术的第一个方面，提出了一种物体抓取方法，该方法包括：根据目标物体的目标点云和目标模板点云确定第一位姿；根据目标物体的目标图像和目标模板图像确定目标补偿值；根据目标补偿值调整第一位姿，得到第二位姿；根据第二位姿抓取目标物体。
[0011]在本专利技术所提供的物体抓取方法中，在抓取目标物体的过程中，对目标物体进行拍摄，以采集目标物体的目标点云以及目标图像，同时，调取预存储的目标物体的目标模板点云以及目标模板图像。进一步地，对获取到的目标模板点云以及目标点云进行配准，并根据配准结果确定抓取目标物体的初始抓取位姿即第一位姿。进一步地，对获取到的目标模板图像以及目标图像进行处理分析，以基于目标模板图像以及目标图像的差别，确定一个目标补偿值。
[0012]在此基础上，通过确定的目标补偿值，对上述确定的初始抓取位姿即第一位姿进行补偿调整，以得到更加精准的第二位姿，并根据补偿得到的第二位姿抓取目标物体。如此，在抓取目标物体的过程中，在通过点云配准确定抓取目标物体的初始抓取位姿即第一位姿之后，再借助目标物体的二维图像，对目标物体的初始抓取位姿进行补偿，从而得到精准的第二位姿。这样，能够对目标物体在生产过程中所产生的工件误差进行补偿，从而提升了目标物体的抓取位姿的精确度，提升了对目标物体进行抓取的准确性，从而提升了抓取目标物体的速度和效率，增强了产线的稳定性，降低了人工成本。
[0013]根据本专利技术的上述物体抓取方法，还可以具有以下附加技术特征：
[0014]在一些技术方案中，可选地，根据目标物体的目标图像和目标模板图像确定目标
补偿值，包括：提取目标图像中的至少两个目标特征点；根据至少两个目标特征点的坐标信息，确定目标特征参数；根据目标特征参数和目标模板图像对应的模板特征参数，确定目标补偿值。
[0015]在该技术方案中，在通过对目标模板图像以及目标图像进行处理分析，从而确定上述目标补偿值的过程中，具体地，对目标图像进行特征提取，以提取得到目标图像中的至少两个目标特征点。进一步地，根据提取到的至少两个目标特征点的坐标信息，确定目标图像的目标特征参数，该目标特征参数对应目标物体的实际特征，通过目标特征参数，能够指示目标物体的实际特征信息如尺寸特征信息、结构特征信息等。进一步地，调取目标物体的目标模板点云所对应的目标模板图像，并获取目标模板图像中的模板特征参数。
[0016]在此基础上，再对上述目标特征参数以及模板特征参数进行比较，以确定目标特征参数以及模板特征参数的差异值，进而再根据该差异值，确定用于补偿上述第一位姿的目标补偿值。如此，通过特征提取确定目标图像的目标特征参数，进而再基于该目标特征参数与模板特征参数之间的差异值，分析目标模板图像与目标图像的差别，从而确定上述目标补偿值。这样，保证了目标补偿值确定的准确性，进而保证了第二位姿确定的准确性，提升了对目标物体进行抓取的准确性，从而提升了抓取目标物体的速度和效率。
[0017]在一些技术方案中，可选地，根据目标物体的目标点云和目标模板点云确定第一位姿，包括：对目标点云和目标模板点云进行配准；根据目标点云和目标模板点云确定配准分数；在配准分数大于目标阈值的情况下，根据配准结果和目标模板点云对应的目标模板位姿确定第一位姿。
[0018]在该技术方案中，在根据目标物体的目标模板点云以及目标点云，确定抓取目标物体的初始抓取位姿即第一位姿的过程中，具体地，对获取到的目标模板点云以及目标点云进行配准，并根据配准后的目标模板点云以及目标点云，确定对目标点云进行配准的配准分数。目标点云的配准分数用于指示目标点云的配准结果是否合理，也即用于指示目标点云是否配准成功，目标点云的配准分数越高，说明目标点云的配准结果越合理，也即说明目标点云配准成功。
[0019]在此基础上，将目标点云的配准分数与设定的目标阈值进行比较，仅在设定的目标阈值小于目标点云的配准分数的情况下，也即仅在目标点云的配准结果合理的情况下，也即仅在目标点云配准成功的情况下，才根据目标模板点云以及目标点云的配准结果，以及目标模板点云对应的目标模板位姿，确定抓取目标物体的初始抓取位姿即上述第一位姿。这样，仅在目标点云配准成功的情况下，才获取目标物体的初始抓取位姿即上述第一位姿，保证了第一位姿的可用性，进而保证了后续确定的第二位姿的准确性，提升了对目标物体进行抓取的准确性，提升了抓取目标物体的速度和效率。
[0020]在一些技术方案中，可选地，根据目标点云和目标模板点云确定配准分数，包括：根据目标点云和目标模板点云，确定目标点云中的多个目标点位，多个目标点位与目标模板点云中的部分点云点位的分布规律相同；根据多个目标点位和目标模板点云的位置坐标，确定多个目标点位与目标模板点云的距离信息，得到多个第一距离值；根据预设范围从多个第一距离值中选取多个第二距离值；根据多个第二距离值确定配准分数。
[0021]在该技术方案中，在根据目标模板点云以及目标点云，确定目标点云的配准分数的过程中，具体地，对目标模板点云以及目标点云进行分析，以根据目标模板点云以及目标
点云中的点云点位的分布情况，确定目标点云中的多个目标点位。该多个目标点位与目标模板点云中的部分点云点位的分布规律相同，也即，上述目标点位为目标点云中，与目标模板点云的点云点位分布规律相同的点云点位。
[0022]进一步地，根据目标模板点云以及每个目标点位的位置信息，计算目标模板点云与每个目标点位之间的距离信息，得到多个第一距离值。进一步地，根据设定的预设范围，对多个第一距离值进行筛选，以从多个第一距离值中筛选得到多个第二距离值。在此基础上，再根据筛选得到的多个第二距离值，确定目标点云的配准分数。具体地，计算多个第二距离值的平均值，进而再通过对该平均值进行归一化处理，得到取值范围位于0与1之间的配准分数。这样，基于目标模板点云以及目标点云中的点云点位的分布情况，确定目标点云的配准分数，保证了得到本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种物体抓取方法，其特征在于，包括：根据目标物体的目标点云和目标模板点云确定第一位姿；根据所述目标物体的目标图像和目标模板图像确定目标补偿值；根据所述目标补偿值调整所述第一位姿，得到第二位姿；根据所述第二位姿抓取所述目标物体。2.根据权利要求1所述的物体抓取方法，其特征在于，所述根据所述目标物体的目标图像和目标模板图像确定目标补偿值，包括：提取所述目标图像中的至少两个目标特征点；根据所述至少两个目标特征点的坐标信息，确定目标特征参数；根据所述目标特征参数和所述目标模板图像对应的模板特征参数，确定所述目标补偿值。3.根据权利要求1或2所述的物体抓取方法，其特征在于，所述根据目标物体的目标点云和目标模板点云确定第一位姿，包括：对所述目标点云和所述目标模板点云进行配准；根据所述目标点云和所述目标模板点云确定配准分数；在所述配准分数大于目标阈值的情况下，根据配准结果和所述目标模板点云对应的目标模板位姿确定所述第一位姿。4.根据权利要求3所述的物体抓取方法，其特征在于，所述根据所述目标点云和所述目标模板点云确定配准分数，包括：根据所述目标点云和所述目标模板点云，确定所述目标点云中的多个目标点位，所述多个目标点位与所述目标模板点云中的部分点云点位的分布规律相同；根据所述多个目标点位和所述目标模板点云的位置坐标，确定所述多个目标点位与所述目标模板点云的距离信息，得到多个第一距离值；根据预设范围从所述多个第一距离值中选取多个第二距离值；根据所述多个第二距离值确定所述配准分数。5.根据权利要求3所述的物体抓取方法，其特征在于，所述根据配准结果和所述目标模板点云对应的目标模板位姿确定所述第一位姿，包括：根据配准结果确定目标变换矩阵；根据所述目标变换矩阵确定所述目标点云的目标偏转信息；根据所述目标偏转信息和所述目标模板位姿，确定所述第一位姿。6.一种下料方法，其特征在于，包括：如权利要求1至5中任一项所述的物体抓取方法的步骤；按照目标位姿，将所述目标物体放置在目标放置装置上。7.根据权利要求6所述的下料方法，其特征在于，所述按照目标位姿，将所述目标物体放置在目标放置装置上，包括：根据所述目标放置装置的第一点云确定所述目标放置装置的第一图像，所述目标放置装置包括多个用于放置所述目标物体的容纳腔；根据所述第一图像确定所述第一点云中与任意一个容纳腔对应的第一子点云；对所述第一子点云和所述目标放置装置的第一模板点云中的第二子点云进行配准，根
据配准结果确定与所述任意一个容纳腔对应的目标位姿，所述第一子点云和所述第二子点云相对应；根...

【专利技术属性】
技术研发人员：许江涛，孙智宇，梁宇新，谭颖聪，庄瑞炎，
申请(专利权)人：美的集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：