一种用于半导体器件耐火性测试的定位机构制造技术

本发明专利技术公开了一种用于半导体器件耐火性测试的定位机构，涉及定位机构技术领域，包括滑板一，滑板一倾斜设置；滑板二，滑板二倾斜设置，且滑板二与滑板一的倾斜角度一致；滑板二的上端与滑板一的下端通过活页铰接；定位架，定位架包括两个弧形侧板，两个弧形侧板的下端分别对称式铰接于滑板一的外侧，且两个弧形侧板下端连接有同一块设于滑板一下方的底板；两个弧形侧板远离底板的一端之间连接有连接板，连接板下侧设置有压辊；驱动机构一，用以带动定位架以弧形侧板与滑板一的铰接点转动；驱动机构二，用以带动滑板二以滑板二与滑板一的铰接点转动；该机构可以自动解除定位并从定位的位置上自动转移。位置上自动转移。位置上自动转移。

【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体器件耐火性测试的定位机构


[0001]本专利技术涉及定位机构
，具体涉及一种用于半导体器件耐火性测试的定位机构。

技术介绍

[0002]半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换。半导体器件的半导体材料是硅、锗或砷化镓，可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材。为了与集成电路相区别，有时也称为分立器件。
[0003]半导体器件在投入使用之前需要进行多种性能测试，其中，耐火性测试就是十分重要的一项测试，在进行耐火性测试时，需要通过定位机构将半导体器件固定住，随后使用测试机对半导体器件进行测试。
[0004]现有的用于半导体器件耐火性测试的定位机构，在使用时，需要将半导体器件放置在定位机构上，通过定位机构进行定位，随后进行耐火性测试，测试完成后，再通过定位机构解除定位，最终将半导体器件从定位机构上取下，操作繁琐，费时费力。
[0005]因此，亟需提供一种定位机构，可以在半导体器件在完成测试后自本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于半导体器件耐火性测试的定位机构，其特征在于，包括滑板一(100)，所述滑板一(100)倾斜设置；滑板二(200)，所述滑板二(200)倾斜设置，且所述滑板二(200)与所述滑板一(100)的倾斜角度一致；所述滑板二(200)的上端与所述滑板一(100)的下端通过活页铰接；定位架(300)，所述定位架(300)包括两个弧形侧板(301)，两个所述弧形侧板(301)的下端分别对称式铰接于所述滑板一(100)的外侧，且两个所述弧形侧板(301)下端连接有同一块设于滑板一(100)下方的底板(302)；两个所述弧形侧板(301)远离底板(302)的一端之间连接有连接板(303)，所述连接板(303)下侧设置有压辊(305)；驱动机构一(400)，所述驱动机构一(400)设于底板(302)下方，用以带动定位架(300)以弧形侧板(301)与滑板一(100)的铰接点转动；驱动机构二(500)，所述驱动机构二(500)设置于滑板二(200)下方，用以带动滑板二(200)以滑板二(200)与滑板一(100)的铰接点转动；限位板(600)，所述限位板(600)设置于所述滑板二(200)下端；测试机(700)，所述测试机(700)设置于所述滑板二(200)上方，用以对半导体器件进行耐火性测试。2.根据权利要求1所述的用于半导体器件耐火性测试的定位机构，其特征在于，所述滑板一(100)上端设置有传送带一(800)，用以将待测试的半导体器件转移至滑板一(100)上；所述滑板二(200)下端设置有传送带二(900)，用以承接从滑板二(200)上滑落的完成测试的半导体器件。3.根据权利要求1所述的用于半导体器件耐火性测试的定位机构，其特征在于，所述滑板一(100)上表面两侧均设置有挡板一(101)，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：詹翠萍，史加奎，杨洋，郑洁，
申请(专利权)人：合肥大网格技术合伙企业有限合伙，
类型：发明
国别省市：