提高测试仪同测芯片数的方法技术

技术编号:39242202 阅读:25 留言:0更新日期:2023-10-30 11:54
本发明专利技术提供一种提高测试仪同测芯片数的方法,包括:提供测试仪,测试仪包括多个数字IO通道;提供若干待测的芯片,芯片包括一个信号IO管脚,对于每个芯片的信号IO管脚都分配两个数字IO通道,第一数字IO通道直接连接到信号IO管脚上,第二数字IO通道串联一个电阻连接到信号IO管脚上;利用第一数字IO通道做输出驱动和输入比较测试;利用第二数字IO通道通过不同的状态测试芯片的输入输出信号,输出信号包括电流负载能力。第二数字IO通道串联一个电阻连接到信号IO管脚,第二数字IO通道通过不同的状态起到负载电流的作用。在测试仪包含的通道中,不是所有通道都具备电流负载测试功能的工况下,提升芯片CP测试的同测能力。提升芯片CP测试的同测能力。提升芯片CP测试的同测能力。

【技术实现步骤摘要】
提高测试仪同测芯片数的方法


[0001]本专利技术属于集成电路测试
,具体涉及一种提高测试仪同测芯片数的方法。

技术介绍

[0002]常规存储器芯片管脚(PAD)包括:电源管脚、地管脚以及例如四个信号管脚。四个信号管脚分别为时钟信号管脚、复位信号管脚、模拟信号管脚和IO(输入输出)信号管脚,一个常规存储器芯片四个信号管脚,需要测试仪配置四个数字IO通道。四个信号管中只有IO信号管脚较特殊,IO信号中的输出信号包括电流负载能力,因此需要测试仪分配给IO信号管脚的数字IO通道自带电流负载测试模块,亦即该通道具备可编程电流负载功能;而一个常规存储器芯片除IO信号管脚以外的其他三个信号管脚需测试仪分配的三个数字IO通道均不需具备可编程电流负载功能。
[0003]基于一个常规存储器芯片四个信号管脚只有一个信号管脚需要测试仪对应的的数字IO通道具备可编程电流负载功能。因此不少主流的测试仪在大幅增加数字IO通道的同时,为了节省成本,简化了数字IO通道性能,比如把数字IO通道的重要功能“可编程电流负载”做了改动,把N个数字IO通道中每个数字IO通本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提高测试仪同测芯片数的方法,其特征在于,包括:提供测试仪,所述测试仪包括多个数字IO通道;提供若干待测的芯片,所述芯片包括一个信号IO管脚,对于每个所述芯片的所述信号IO管脚都分配两个所述数字IO通道,两个所述数字IO通道分别命名为第一数字IO通道和第二数字IO通道;其中,所述第一数字IO通道直接连接到所述信号IO管脚上,所述第二数字IO通道串联一个电阻连接到所述信号IO管脚上;利用所述第一数字IO通道做输出驱动和输入比较测试;利用所述第二数字IO通道通过不同的状态测试所述芯片的输入输出信号,所述输出信号包括电流负载能力。2.如权利要求1所述的提高测试仪同测芯片数的方法,其特征在于,所述电阻与所述第二数字IO通道之间的电压定义为输出驱动电压,所述不同的状态包括:第一状态:所述输出驱动电压是电源电压时,对所述信号IO管脚产生一个灌电流,起到上拉电阻的作用;第二状态:所述输出驱动电压是地电位时,对所述信号IO管脚产生一个抽电流,起到下拉电阻的作用;第三状态:输出驱动断开,所述信号IO管脚处于无电流负载状态。3.如权利要求1所述的提高测试仪同测芯片数的方法,其特征在于,所述芯片的管脚只有三个,包括电源管脚、地管脚和所述信号IO管脚,所述芯片定义为单信号管脚芯片。4.如权利要求3所述的提高测试仪同测芯片数的方法,其特征在于,所述测试仪包括偶数个所述数字IO通道,所述测试仪同测所述芯片的数量是所述数字IO通道总数量的一半。5.如权利要求1所述的提高测试仪同测芯片数的方法,其特征在于,所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱渊源
申请(专利权)人:上海华虹宏力半导体制造有限公司
类型:发明
国别省市:

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