一种存储测试设备及其测试方法技术

本发明专利技术提供了一种存储测试设备及其测试方法，包括：多功能测试板，多功能测试板上设置中央处理器和调试端口，中央处理器和调试端口交替与待测设备电性连接；录制模块，电性连接于待测设备，在中央处理器对待测设备写入预设数据时，录制模块记录写入待测设备的预设数据，并形成第一数据包；电源管理模块，设置在多功能测试板上，且电性连接于待测设备，在写入预设数据的过程中，电源管理模块将待测设备断电；数据抓取模块，在待测设备重新上电后，数据抓取模块从待测设备读出预设数据，形成第二数据包；以及数据对比模块，接收并对比第一数据包和第二数据包，数据对比模块输出数据量差值。本发明专利技术能够准确衡量存储设备的存储安全性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种存储测试设备及其测试方法


[0001]本专利技术涉及存储测试
，特别涉及一种存储测试设备及其测试方法。

技术介绍

[0002]计算器的内存为非易失性存储器。非易失性存储器在存储进程中发生掉电也不会丢失数据。而非易失性存储器可以直接和中央处理器（Central Processing Unit，CPU）进行数据交换，非易失性存储器也可以通过缓存与中央处理器进行数据交换。其中，缓存是指可以进行高速数据交换的存储器。由于缓存先于内存与中央处理器交换数据，因此缓存的数据交换速率很快。
[0003]在缓存的存储进程中发生突然掉电，缓存中的暂存数据会丢失。在异常掉电发生时，不同的存储设备丢失的数据量不同。且对于不同的存储设备，不能确定异常掉电发生前多久写入时间的数据为安全数据。而缓存有关掉电存储的参数会直接影响到存储设备性能，以及对存储设备的调整方式和设计方式。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种存储测试设备及其测试方法，可以准确衡量存储安全性。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术是通过以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储测试设备，其特征在于，包括：多功能测试板，所述多功能测试板上设置中央处理器和调试端口，所述中央处理器和所述调试端口交替与待测设备电性连接；录制模块，电性连接于所述待测设备，在所述中央处理器对所述待测设备写入预设数据时，所述录制模块记录写入所述待测设备的所述预设数据，并形成第一数据包；电源管理模块，设置在所述多功能测试板上，且电性连接于所述待测设备，在写入所述预设数据的过程中，所述电源管理模块将所述待测设备断电；数据抓取模块，在所述待测设备重新上电后，所述数据抓取模块从所述待测设备读出所述预设数据，形成第二数据包；以及数据对比模块，接收并对比所述第一数据包和所述第二数据包，所述数据对比模块输出数据量差值。2.根据权利要求1所述的一种存储测试设备，其特征在于，在所述待测设备断电后，所述待测设备与所述调试端口电性连接，所述电源管理模块对所述待测设备重新上电。3.根据权利要求1所述的一种存储测试设备，其特征在于，所述存储测试设备包括时间节点记录模块，所述时间节点记录模块存储第一时间节点和第二时间节点，其中第一时间节点为所述录制模块开始录制的时间点，所述第二时间节点为所述待测设备断电的时间点。4.根据权利要求3所述的一种存储测试设备，其特征在于，所述存储测试设备包括统计模块，所述统计模块电性连接于所述数据对比模块和所述时间节点记录模块，所述统计模块中存储多个所述待测设备的所述数据量差值和数据写入时长，其中数据写入时长为所述第一时间节点和所述第二时间节点的间隔时间。5.根据权利要求1所述的一种存储测试设备，其特征在于，所述存储测试设备包括插座，所述插座设置在所述多功能测试板上，且所述插座连接于中央处理器、所述调试端口和主机，其中所述待测设备以可插拔方式与所述插座电性连接。6.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：余玉，许展榕，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：