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本发明提供一种提高测试仪同测芯片数的方法，包括：提供测试仪，测试仪包括多个数字IO通道；提供若干待测的芯片，芯片包括一个信号IO管脚，对于每个芯片的信号IO管脚都分配两个数字IO通道，第一数字IO通道直接连接到信号IO管脚上，第二数字IO通...
该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

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