一种半导体模具零件的检测治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体模具零件的检测治具，涉及模具检测领域，包括设备底座和检测治具，检测治具包括固定座、滑动板和测量板，固定座顶端滑动连接有滑动板，滑动板一侧滑动连接有测量板，固定座包括固定座主体、置物槽和固定杆，固定座主体顶端开设有置物槽，固定座主体顶端与固定杆一端固定连接，固定杆设有两组且对称设置在固定座主体顶端，滑动板包括滑动板主体、圆形开孔、滑道和刻度线，该一种半导体模具零件的检测治具，该检测治具可对模具零件的制造精度进行测量，保证零件的尺寸在设定的误差范围内，该治具可根据零件的尺寸进行高度的调整，且一组治具有四组工位，提供了整体的检测效率。了整体的检测效率。了整体的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体模具零件的检测治具


[0001]本技术涉及模具检测领域，具体是一种半导体模具零件的检测治具。

技术介绍

[0002]模具，工业生产上用以注塑、吹塑、挤出、压铸或锻压成型、冶炼、冲压等方法得到所需产品的各种模子和工具。简而言之，模具是用来制作成型物品的工具，这种工具由各种零件构成，不同的模具由不同的零件构成，在模具的制造过程中，需要对模具的尺寸进行精度的测量，以避免不合规的模具流入产线。
[0003]现有专利(公开号为CN211012742U)公开了一种半导体模具零件的检测治具，包括检测治具，所述检测治具包括治具以及设置在治具用于安装半导体模具零件的安装孔和用于半导体模具零件的锁紧螺丝；所述锁紧螺丝设置于检测治具的四侧，并与安装孔连接；所述安装孔设置有四个，四个所述的安装孔对称设置在检测治具中心线的两侧，其相邻两个所述安装孔之间设置有磁铁，所述磁铁位于检测治具的中心线。
[0004]该技术具有以下优点：设计新颖，结构简单、合理，能够通过设置的治具批量安装待检测的半导体模具零件，且治具上设置的磁铁有助于辅助半导体模具零件的安装固定。
[0005]然而该装置使用时仍存在较多缺点，例如：只有一组检测结构，效率较低，且在检测时不能够直观的反映零件具体的误差尺寸是多少。
[0006]针对现有技术中存在的问题，本技术的目的在于提供一种半导体模具零件的检测治具。

技术实现思路

[0007]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体模具零件的检测治具，包括设备底座和检测治具，所述设备底座顶端固定连接有检测治具，检测治具设有四组且均匀设置在设备底座顶端。
[0008]作为本技术进一步的方案：所述检测治具包括固定座、滑动板和测量板，固定座顶端滑动连接有滑动板，滑动板一侧滑动连接有测量板。
[0009]作为本技术进一步的方案：所述固定座包括固定座主体、置物槽和固定杆，固定座主体顶端开设有置物槽，固定座主体顶端与固定杆一端固定连接，固定杆设有两组且对称设置在固定座主体顶端。
[0010]作为本技术进一步的方案：所述滑动板包括滑动板主体、圆形开孔、滑道和刻度线，滑动板主体顶端开设有贯穿的圆形开孔，圆形开孔设有两组且对称设置在滑动板主体顶端，滑动板主体一端固定连接有滑道，滑道设有两组且对称设置在滑动板主体一端，滑动板主体一端表面蚀刻有刻度线，刻度线设有两组且对称设置在滑动板主体一端表面。
[0011]作为本技术进一步的方案：所述测量板包括测量板主体、压板和转动把手，测量板主体一端固定连接有压板，测量板主体顶端开设有贯穿的螺纹开口，螺纹开口内螺纹
连接有转动把手。
[0012]作为本技术进一步的方案：所述固定杆与圆形开孔一一对应，压板与置物槽相互对应，测量板主体另一端对应滑道处开设有滑槽。
[0013]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0014]该一种半导体模具零件的检测治具，该检测治具可对模具零件的制造精度进行测量，保证零件的尺寸在设定的误差范围内，该治具可根据零件的尺寸进行高度的调整，且一组治具有四组工位，提供了整体的检测效率。
附图说明
[0015]图1为本技术半导体模具零件的检测治具示意图；
[0016]图2为本技术半导体模具零件的检测治具的检测治具拆解图一；
[0017]图3为本技术半导体模具零件的检测治具的检测治具拆解图二。
[0018]如图所示：1、设备底座；2、检测治具；3、固定座；4、滑动板；5、测量板；6、固定座主体；7、置物槽；8、固定杆；9、滑动板主体；10、圆形开孔；11、滑道；12、刻度线；13、测量板主体；14、压板；15、转动把手。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0020]请参阅图1—3，本技术实施例中，一种半导体模具零件的检测治具，包括设备底座1和检测治具2，设备底座1顶端固定连接有检测治具2，检测治具2设有四组且均匀设置在设备底座1顶端，该检测治具可对模具零件的制造精度进行测量，保证零件的尺寸在设定的误差范围内，该治具可根据零件的尺寸进行高度的调整，且一组治具有四组工位，提供了整体的检测效率。
[0021]检测治具2包括固定座3、滑动板4和测量板5，固定座3顶端滑动连接有滑动板4，滑动板4一侧滑动连接有测量板5，在进行使用时，将待测量的模具零件放置在固定座3顶部的凹槽内，根据零件的尺寸将滑动板4在固定座3表面进行位移，调整至合适位置后，将测量板5底部卡在零件顶部，通过观察测量板5在滑动板4表面的位移长度来确定零件的尺寸是否在误差范围内。
[0022]固定座3包括固定座主体6、置物槽7和固定杆8，固定座主体6顶端开设有置物槽7，固定座主体6顶端与固定杆8一端固定连接，固定杆8设有两组且对称设置在固定座主体6顶端，在使用时将模具零件放置在置物槽7内进行固定。
[0023]滑动板4包括滑动板主体9、圆形开孔10、滑道11和刻度线12，滑动板主体9顶端开设有贯穿的圆形开孔10，圆形开孔10设有两组且对称设置在滑动板主体9顶端，滑动板主体9一端固定连接有滑道11，滑道11设有两组且对称设置在滑动板主体9一端，滑动板主体9一端表面蚀刻有刻度线12，刻度线12设有两组且对称设置在滑动板主体9一端表面，测量板5包括测量板主体13、压板14和转动把手15，测量板主体13一端固定连接有压板14，测量板主体13顶端开设有贯穿的螺纹开口，螺纹开口内螺纹连接有转动把手15，固定杆8与圆形开孔10一一对应，压板14与置物槽7相互对应，测量板主体13另一端对应滑道11处开设有滑槽，
在进行测量时，将测量板5的转动把手15进行拧动，使得测量板主体13在滑道11表面进行上下的位移，直至压板14贴合在零件顶端，通过观察测量板主体13在刻度线12上的刻度来观察零件的长度，当遇到不合规的零件时，测量板主体13在刻度线12上的刻度会有变化，此时可将不合规的零件进行取下，在测量不同尺寸的零件时，可将滑动板4通过圆形开孔10在固定杆8表面进行滑动调节，使得测量板5与零件相适配。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体模具零件的检测治具，包括设备底座(1)和检测治具(2)，其特征在于：所述设备底座(1)顶端固定连接有检测治具(2)，检测治具(2)设有四组且均匀设置在设备底座(1)顶端，检测治具(2)包括固定座(3)、滑动板(4)和测量板(5)，固定座(3)顶端滑动连接有滑动板(4)，滑动板(4)一侧滑动连接有测量板(5)。2.根据权利要求1所述的一种半导体模具零件的检测治具，其特征在于：所述固定座(3)包括固定座主体(6)、置物槽(7)和固定杆(8)，固定座主体(6)顶端开设有置物槽(7)，固定座主体(6)顶端与固定杆(8)一端固定连接，固定杆(8)设有两组且对称设置在固定座主体(6)顶端。3.根据权利要求1所述的一种半导体模具零件的检测治具，其特征在于：所述滑动板(4)包括滑动板主体(9)、圆形开孔(10)、滑道(11)和刻度线(12)，滑动板主体(9)顶端...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗文骏，
申请(专利权)人：太仓顶艺半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：