测试辅助装置及测试电路制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施方式提出一种测试辅助装置及测试电路，属于射频电路测试领域，测试辅助装置包括高通滤波器和基波阻抗匹配电路，基波阻抗匹配电路的输入端和高通滤波器的输入端均与射频电路的信号输出端连接，高通滤波器的输出端与频谱分析仪的信号输入端连接，通过基波阻抗匹配电路的作用，使射频电路输出的基波信号能终结在基波阻抗匹配电路，不产生明显的反射，而各次谐波信号以低损耗通过高通滤波器，并最终进入频谱分析仪，以使尽量多的基波信号在基波阻抗匹配电路处终结，尽量多的各次谐波进入频谱分析仪，缩小基波信号和各次谐波信号的幅值差，更为准确地测量各次谐波的幅值。值。值。

【技术实现步骤摘要】
测试辅助装置及测试电路


[0001]本技术涉及射频电路测试领域，具体而言，涉及一种测试辅助装置及测试电路。

技术介绍

[0002]射频电路产品的合规性认证，对射频电路的发射功率有明确的要求。即，从产品的射频连接器输出的基波及杂散信号都需要满足要求，不能超过最大限值。从傅里叶分析来看，杂散信号主要指的就是基波的各次谐波信号。
[0003]在合规性认证中，通常使用频谱分析仪完成射频电路的谐波测试。在使用频谱分析仪进行谐波测试时，需要关注频谱分析仪的动态范围性能指标。动态范围被认为是分析测量谐波相关信号和两个或多个信号互相作用所生成信号的能力，动态范围的性能直接影响小信号的测量精度。然而，若射频电路输出的射频信号中的基波和各次谐波的幅值差超过了频谱分析仪的动态范围，就无法准确测量各次谐波的准确幅值。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本技术的目的在于提供一种测试辅助装置及测试电路，在射频电路输出的射频信号中的基波和各次谐波的幅值差超过频谱分析仪的动态范围的情况下，其能够更为准确测量各次谐波的幅值。
[0005]为了实现上述目的，本技术实施方式采用的技术方案如下：
[0006]第一方面，本技术实施方式提供一种测试辅助装置，包括高通滤波器和基波阻抗匹配电路；
[0007]所述高通滤波器的输入端用于与待测试的射频电路的信号输出端连接，所述高通滤波器的输出端用于与频谱分析仪的信号输入端连接；
[0008]所述基波阻抗匹配电路的输入端用于与待测试的射频电路的信号输出端连接。/>[0009]进一步的，所述基波阻抗匹配电路包括低通滤波器和阻性负载；
[0010]所述低通滤波器的输入端用于与待测试电路的射频电路的信号输出端连接，所述低通滤波器的输出端与所述阻性负载连接。
[0011]进一步的，所述阻性负载包括阻值为50欧姆的负载。
[0012]进一步的，所述低通滤波器包括LC低通滤波电路。
[0013]进一步的，所述LC低通滤波电路包括第一串联电感、第二串联电感和第一并联电容；
[0014]所述第一串联电感的一端与待测试电路的输入端连接，所述第一串联电感的另一端分别与所述第二串联电感的一端所述第一并联电容的一端连接，所述第二串联电感的另一端与所述阻性负载连接，所述第一并联电容的另一端接地。
[0015]进一步的，所述高通滤波器包括LC高通滤波电路。
[0016]进一步的，所述LC高通滤波电路包括第一并联电感、第一串联电容和第二串联电
容；
[0017]所述第一串联电容的一端与待测试电路的输入端连接，所述第一串联电容的另一端分别与所述第二串联电容的一端及所述连接所述第一并联电感的一端连接，所述第二串联电容的另一端与所述频谱分析仪的信号输入端连接，所述第一并联电感的另一端接地。
[0018]进一步的，所述LC低通滤波电路为五阶LC低通滤波电路。
[0019]进一步的，所述LC高通滤波电路为五阶LC高通滤波电路。
[0020]第二方面，本技术实施方式提供一种测试电路，包括射频电路和频谱分析仪，以及如第一方面所述的测试辅助装置；
[0021]所述测试辅助装置包括高通滤波器和基波阻抗匹配电路；
[0022]所述高通滤波器的输入端与所述射频电路的信号输出端连接，所述高通滤波器的输出端与所述频谱分析仪的信号输入端连接；
[0023]所述基波阻抗匹配电路的输入端与所述射频电路的信号输出端连接。
[0024]本技术实施方式提供的测试辅助装置及测试电路，测试辅助装置包括高通滤波器和基波阻抗匹配电路，将基波阻抗匹配电路的输入端和高通滤波器的输入端均与待测试的射频电路的信号输出端连接，将高通滤波器的输出端与频谱分析仪的信号输入端连接，通过基波阻抗匹配电路的作用，使射频电路输出的射频信号中的基波信号能终结在基波阻抗匹配电路，不产生明显的反射，而射频信号中的各次谐波信号以低损耗通过高通滤波器，并最终进入频谱分析仪，以使尽量多的基波信号在基波阻抗匹配电路处终结，尽量多的各次谐波进入频谱分析仪，以尽可能缩小基波信号和各次谐波信号的幅值差，更为准确地测量各次谐波的幅值。
[0025]为使本技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施方式，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本技术实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施方式，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0027]图1示出了本技术实施方式提供的测试辅助装置的结构示意图之一。
[0028]图2示出了本技术实施方式提供的测试辅助装置的结构示意图之二。
[0029]图3示出了本技术实施方式提供的高通滤波器的电路结构示意图之一。
[0030]图4示出了本技术实施方式提供的高通滤波器的电路结构示意图之二。
[0031]图5示出了本技术实施方式提供的低通滤波器的电路结构示意图之一。
[0032]图6示出了本技术实施方式提供的低通滤波器的电路结构示意图之二。
[0033]附图标记：10
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射频电路；20
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高通滤波器；30
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频谱分析仪；40
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基波阻抗匹配电路；401
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低通滤波器；402
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阻性负载；L1
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第一并联电感；C1
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第一串联电容；C2
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第二串联电容；L2
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第一串联电感；L3
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第二串联电感；C3
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第一并联电容。
具体实施方式
[0034]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0035]因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0036]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0037]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试辅助装置，其特征在于，包括高通滤波器和基波阻抗匹配电路；所述高通滤波器的输入端用于与待测试的射频电路的信号输出端连接，所述高通滤波器的输出端用于与频谱分析仪的信号输入端连接；所述基波阻抗匹配电路的输入端用于与待测试的射频电路的信号输出端连接。2.根据权利要求1所述的测试辅助装置，其特征在于，所述基波阻抗匹配电路包括低通滤波器和阻性负载；所述低通滤波器的输入端用于与待测试电路的射频电路的信号输出端连接，所述低通滤波器的输出端与所述阻性负载连接。3.根据权利要求2所述的测试辅助装置，其特征在于，所述阻性负载包括阻值为50欧姆的负载。4.根据权利要求2或3所述的测试辅助装置，其特征在于，所述低通滤波器包括LC低通滤波电路。5.根据权利要求4所述的测试辅助装置，其特征在于，所述LC低通滤波电路包括第一串联电感、第二串联电感和第一并联电容；所述第一串联电感的一端与待测试电路的输入端连接，所述第一串联电感的另一端分别与所述第二串联电感的一端所述第一并联电容的一端连接，所述第二串联电感的另一端与所述阻性负载连接，所述第一并联电容的另一端接地。6.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：山峰，
申请(专利权)人：宁波三星医疗电气股份有限公司，
类型：新型
国别省市：