本发明专利技术公开了一种芯片夹具的保养方法及辅助装置，涉及到集成电路技术领域，其包括：日常保养S100，芯片夹具每使用一万次进行一次日常保养S100；精细保养S200，芯片夹具每使用五十万次进行一次精细保养S200；本发明专利技术通过日常保养S100对芯片夹具进行日常的保养，去除芯片夹具外部裸露位置的污物，以及去除粘连污物比较频繁的探针进行清理，当芯片夹具使用次数达到五十万次后，通过精细保养S200将芯片夹具分拆，并且将体型较小的探针与芯片夹具其他零部件分开进行清洁，并通过显微镜观察各零部件状态，及时更换损坏的零部件，避免后续生产测试产生问题，造成不必要的损失。造成不必要的损失。造成不必要的损失。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片夹具的保养方法及辅助装置
[0001]本专利技术涉及集成电路
，具体为一种芯片夹具的保养方法及辅助装置。
技术介绍
[0002]随着芯片封装类型越来越复杂，为了保证芯片的良品率，芯片测试成为芯片出厂的重要环节，尤其在这个芯片尺寸不断缩小、信号传输速度不断提高的时代，愈发受到行业的重视，推动产品向着更稳定、更可靠方向迈进，在测试时需要通过芯片测试插座来对产品进行夹持放置，避免产品没有正确放置给后续的测试带来困难。
[0003]芯片测试插座(IC Socket)是连接芯片与PCB板的连接器插座，主要作用就是满足芯片引脚端子与PCB测试主板的连接需求。最大优势是在芯片测试环节可以随时拆换芯片，不损坏芯片和PCB，从而实现快速高效的测试。具有操作简单、故障定位准确、方便快捷、测试良率高等特点。
[0004]芯片测试插座是由三个关键部件组成：一是插座本体：一种由金属或是塑料制成的组件，含有精密的切割腔体；二是插入测试座孔径的弹簧探针/弹片：提供具有机械性的电路径，将芯片连接至测试系统；三是保持托板：固定探针或弹片的部件，精准定位，保证芯片和探针能紧密接触。除了以上三大组成部件，有些IC Socket根据应用的不同，还会装备机械压合盖，用来压合芯片，提供匹配的压力供弹簧探针和芯片引脚端子及PCB Pad接触。
[0005]芯片测试插座在使用测试过程中插座本体及探针可能附着溶剂、润湿剂、树脂、缓蚀剂和活化剂等多种成分，导致不能测试或测试性能不稳定，甚至芯片模组损毁的问题，有鉴于此，亟需一种芯片夹具的保养方法。
技术实现思路
[0006]针对现有技术中存在的问题，本专利技术用以下技术结构解决此问题。
[0007]为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
[0008]一种芯片夹具的保养方法，包括：
[0009]芯片夹具，所述芯片夹具包括插座、若干探针，所述插座包括用于固定若干探针的内部旋盖；
[0010]包括：
[0011]日常保养S100，将所述芯片夹具进行整机清洗，清除芯片夹具裸露部分的附着物，所述芯片夹具每使用一万次进行一次日常保养S100；
[0012]精细保养S200，所述芯片夹具每使用五十万次进行一次精细保养S200；
[0013]所述精细保养S200包括：
[0014]S210：将所述芯片夹具分拆成零件，在显微镜下检查每一个零件，将损坏的零件进行更换；
[0015]S220：对拆下来的零件进行精细清洗；
[0016]S230：将清洗后的零件复位，组装成芯片夹具。
[0017]其进一步特征在于，
[0018]所述日常保养S100包括：
[0019]S110：使用防静电刷，蘸上酒精，对若干所述探针裸露部分进行洗刷；
[0020]S120：将所述芯片夹具放入装有清洗液的器皿中，并用超声波进行清洗；
[0021]S130：用气枪对清洗后的芯片夹具喷吹，将酒精、清洗液和残渣清除。
[0022]所述精细清洗包括探针清洁S221及插座清洗S222。
[0023]所述探针清洁S221包括：
[0024]S2211：将拆出的探针全部放入器皿中，然后加入酒精直至把所有探针完全淹没；
[0025]S2212：将盛装探针的器皿放入超声波振荡器中振荡清洗15分钟；
[0026]S2213：将若干探针从器皿中取出放置在无尘纸上晾干；
[0027]S2214；将探针放入烤箱烘烤，烘干探针内部水分。
[0028]所述插座清洗S222包括：
[0029]S2221：将探针以外的其他零件平摊在装有酒精的器皿中；
[0030]S2222：将装有探针以外的其他零件的器皿放入超声波振荡器中振荡清洗15分钟；
[0031]S2223：将清洗后的零件平摊在无尘纸上晾置1分钟；
[0032]S2224；使用尼龙刷子刷所述插座的针孔。
[0033]所述探针清洁S221及插座清洗S222完成后，使用显微镜观察所述芯片夹具的每个零件的清洁状况。
[0034]将探针放入烤箱烘烤时间为40分钟，烘烤温度为60度。
[0035]所述清洗后的零件平摊在无尘纸上晾置时，使用气枪将零件依次吹干。
[0036]一种芯片夹具的保养辅助装置，包括：
[0037]基座，所述基座的内部开设有与芯片夹具探针区域匹配的通孔，所述基座的底面于通孔的两侧开设有用于插接在插座顶面壳体上的卡槽，所述基座的两侧均安装有便于将基座下压的按压臂。
[0038]所述基座顶面设置有围绕通孔一周的斜面。
[0039]采用本专利技术上述结构可以达到如下有益效果：
[0040](1)通过日常保养S100对芯片夹具进行日常的保养，去除芯片夹具外部裸露位置的污物，以及去除粘连污物比较频繁的探针进行清理，当芯片夹具使用次数达到五十万次后，通过精细保养S200将芯片夹具分拆，并且将体型较小的探针与芯片夹具其他零部件分开进行清洁，并通过显微镜观察各零部件状态，及时更换损坏的零部件，避免后续生产测试产生问题，造成不必要的损失。
[0041](2)并且本申请还设计了一种便于日常保养S100的保养辅助装置，通过将辅助装置放置于芯片夹具的内部旋盖上，下压基座，使内部旋盖在插座内部下移，使所有探针裸露，便于清洁。
附图说明
[0042]图1为实施例二的结构示意图。
[0043]图中：1、第一铜层；2、绝缘层；3、第二铜层；4、修整槽；5、导电体；6、盲孔。
具体实施方式
[0044]实施例一，本实施例公开一种芯片夹具的保养方法，包括：芯片夹具，芯片夹具包括插座、若干探针，插座包括用于固定若干探针的内部旋盖；
[0045]包括：日常保养S100，将芯片夹具进行整机清洗，清除芯片夹具裸露部分的附着物，芯片夹具每使用一万次进行一次日常保养S100；
[0046]日常保养S100包括：
[0047]S110：使用防静电刷，蘸上酒精，对若干探针裸露部分进行洗刷；
[0048]S120：将芯片夹具放入装有清洗液的器皿中，并用超声波清洗；
[0049]S130：用气枪对清洗后的芯片夹具喷吹，喷吹的气压大致为6.2～6.8bar，将酒精、清洗液和残渣清除。
[0050]精细保养S200，芯片夹具每使用五十万次进行一次精细保养S200；
[0051]精细保养S200包括：
[0052]S210：将芯片夹具分拆成零件，在显微镜下检查每一个零件，将损坏的零件进行更换；
[0053]S220：对拆下来的零件进行精细清洗；
[0054]S230：将清洗后的零件复位，组装成芯片夹具。
[0055]精细清洗包括探针清洁S221及插座清洗S222。
[0056]探针清洁S221包括：
[0057]S2211：将拆出的探针全部放入器皿中，然后加入酒精本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片夹具的保养方法，包括：芯片夹具，所述芯片夹具包括插座、若干探针，所述插座包括用于固定若干探针的内部旋盖；其特征在于，包括：日常保养S100，将所述芯片夹具进行整机清洗，清除芯片夹具裸露部分的附着物，所述芯片夹具每使用一万次进行一次日常保养S100；精细保养S200，所述芯片夹具每使用五十万次进行一次精细保养S200；所述精细保养S200包括：S210：将所述芯片夹具分拆成零件，在显微镜下检查每一个零件，将损坏的零件进行更换；S220：对拆下来的零件进行精细清洗；S230：将清洗后的零件组装复位。2.根据权利要求1所述的一种芯片夹具的保养方法，其特征在于：所述日常保养S100包括：S110：使用防静电刷，蘸上无水酒精，按压内部旋盖，使探针裸露，再对若干所述探针裸露部分进行洗刷；S120：将所述芯片夹具放入装有清洗液的器皿中，并用超声波进行清洗；S130：用气枪对清洗后的芯片夹具喷吹，将酒精、清洗液和残渣清除。3.根据权利要求1所述的一种芯片夹具的保养方法，其特征在于：所述精细清洗包括探针清洁S221及插座清洗S222。4.根据权利要求3所述的一种芯片夹具的保养方法，其特征在于：所述探针清洁S221包括：S2211：将拆出的探针全部放入器皿中，然后加入酒精直至把所有探针完全淹没；S2212：将盛装探针的器皿放入超声波振荡器中振荡清洗15分钟；S2213：将若干探针从器皿中取出放置在无尘纸上晾...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨恭乾，
申请(专利权)人：无锡伟测半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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