MTF测试设备及MTF测试方法技术

本申请提供一种MTF测试设备及MTF测试方法。MTF测试设备包括：样品固定架，用于固定待测试器件；偏振光光源组件，用于向待测试器件投射偏振光图案；多个成像装置，成像装置用于接收待测试器件投射的图像；多个第一偏振器，多个第一偏振器和多个成像装置一一对应设置，第一偏振器设置于对应的成像装置的接收端。本申请实施例中的MTF测试设备，其包括有偏振光光源组件，偏振光源组件用于向待测试器件投射偏振光图案，偏振光图案经过待测试器件的偏振光系统后形成投射图像，投射图像经过第一偏振器后被成像装置接收，根据图像数据可以进一步得到偏振光系统的MTF。本申请中的MTF测试设备能够对偏振光系统的MTF进行有效的测量。能够对偏振光系统的MTF进行有效的测量。能够对偏振光系统的MTF进行有效的测量。

【技术实现步骤摘要】
MTF测试设备及MTF测试方法


[0001]本专利技术涉及光学测量
，特别是涉及一种MTF测试设备及MTF测试方法。

技术介绍

[0002]调制传递函数(MTF)是可用于对光学系统的性能进行评价的一个重要参数，设计人员经常使用MTF来对不同的光学系统的性能进行比较。目前，MTF是可用于在解析度和对比度方面对光学系统的整体成像性能进行量化评价的最佳工具之一。
[0003]然而，相关技术中的MTF测试设备只能用于对非偏振光系统进行测量，对于偏振光系统(例如应用于VR设备的Pancake光学系统)则无法进行有效的测量。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要提供一种MTF测试设备及MTF测试方法，可用于对偏振光系统进行有效的测量。
[0005]本申请第一方面的实施例提出了一种MTF测试设备，用于对待测试器件的MTF进行测量，所述待测试器件包括偏振光系统，其特征在于，所述MTF测试设备包括：样品固定架，用于固定所述待测试器件；偏振光光源组件，用于向所述待测试器件投射偏振光图案；多个成像装置，所述成像装置用于接收所述待测试器件投射的图像；以及多个第一偏振器，所述多个第一偏振器和所述多个成像装置一一对应设置，所述第一偏振器设置于对应的所述成像装置的接收端。
[0006]本申请实施例中的MTF测试设备，其包括有偏振光光源组件，偏振光源组件用于向设置在样品固定架上的待测试器件投射偏振光图案，偏振光图案经过待测试器件的偏振光系统后形成投射图像，投射图像经过第一偏振器后被成像装置接收，根据成像装置接收的图像数据可以进一步得到偏振光系统的MTF。由此，本申请实施例中的MTF测试设备能够对偏振光系统的MTF进行有效的测量。
[0007]在本申请的一些实施例中，所述多个成像装置包括第一成像装置和第二成像装置；所述第一成像装置的数量为一个且设置于所述待测试器件的光轴上；所述第二成像装置的数量为两个以上，且所述第二成像装置围绕所述第一成像装置设置。由此，通过设置第一成像单元和第二成像单元，可以进行不同场位置处的MTF测量。
[0008]在本申请的一些实施例中，所述第一偏振器以可转动的方式连接与所述成像装置连接，以使所述第一偏振器能够绕所述成像装置的光轴旋转。在进行测量的过程中，可以实时调整第一偏振器的旋转角度，并通过成像装置接收每一时刻待测试器件投射的图像，由于当出光光轴与偏振器同向时图像最为清晰，因此，获取最清晰的图像所对应的第一偏振器的旋转角度，即可获取对应场位置处的出光的偏振方向。
[0009]在本申请的一些实施例中，所述偏振光光源组件包括：背光源；光源图形板，所述光源图形板设置于所述背光源的出光侧，所述光源图形板设置有多个透光孔，多个所述透光孔组合成预设图案；以及第二偏振器，所述第二偏振器设置于所述光源图形板背离所述
背光源的一侧。背光源发出的光依次经过光源图形板和第二偏振器后，即形成偏振光图案。
[0010]在本申请的一些实施例中，所述偏振光光源组件还包括匀光片，所述匀光片设置于所述背光源和所述光源图形板之间。匀光片可以对背光源发出的光进行匀光处理，经过匀光处理后的光能量分布更为均匀。这样，有利于提高偏振光光源组件发出的偏振光图案在各个位置处的能量分布均匀性。
[0011]在本申请的一些实施例中，所述第二偏振器为线偏振器、圆偏振器或椭圆偏振器。
[0012]在本申请的一些实施例中，所述第一偏振器为圆偏振器、线偏振器或椭圆偏振器。
[0013]在本申请的一些实施例中，所述MTF测试设备还包括处理单元，所述处理单元与各所述成像装置电连接，各所述成像装置配置为将图像数据传输给所述处理单元，所述单元配置为根据所述图像数据获取调制传递函数MTF。
[0014]本申请第二方面的实施例提出了一种MTF测试方法，所述MTF测试方法包括：
[0015]将待测试器件固定于样品固定架，所述待测试器件包括偏振光系统；
[0016]利用偏振光光源组件向所述待测试器件投射偏振光图案；
[0017]提供多个成像装置，每个所述成像装置的接收端均设置有一个第一偏振器，通过多个所述成像装置接收所述待测试器件投射的图像；
[0018]根据图像数据获取调制传递函数MTF。
[0019]本申请实施例中的MTF测试方法，利用偏振光光源组件向待测试器件提供偏振光图案，偏振光图案经过待测试器件的偏振光系统后形成投射图像，投射图像经过第一偏振器后被成像装置接收，根据成像装置接收的图像数据可以进一步得到偏振光系统的MTF。由此，本申请实施例中的MTF测试方法能够对偏振光系统的MTF进行有效的测量。
[0020]在本申请的一些实施例中，所述利用偏振光光源组件向所述待测试器件投射偏振光图案，包括：
[0021]利用包括背光源、光源图形板以及第二偏振器的偏振光光源组件向待测试器件投射偏振光图案，其中，光源图形板设置于背光源的出光侧，光源图形板设置有多个透光孔，多个透光孔组合成预设图案。
[0022]如此设置，背光源发出的光依次经过光源图形板和第二偏振器后，即形成偏振光图案。
[0023]在本申请的一些实施例中，第一偏振器以可转动的方式连接与成像装置连接，以使第一偏振器能够绕成像装置的光轴旋转。
[0024]在进行测量的过程中，可以实时调整第一偏振器的旋转角度，并通过成像装置接收每一时刻待测试器件投射的图像，由于当出光光轴与偏振器同向时图像最为清晰，因此，获取最清晰的图像所对应的第一偏振器的旋转角度，即可获取对应场位置处的出光的偏振方向。
附图说明
[0025]图1为本申请一实施例中的MTF测试设备的结构示意图；
[0026]图2为本申请一实施例中的偏振光光源组件的结构示意图；
[0027]图3为本申请一实施例中的光源图形板的结构示意图；
[0028]图4为当出光光轴与第一偏振器同向时的图像；
[0029]图5为当出光光轴与第一偏振器不同向时的图像；
[0030]图6为本申请一实施例中的MTF测试方法的流程示意图。
[0031]附图标记如下：
[0032]10、MTF测试设备；
[0033]20、待测试器件；
[0034]21、偏振光系统；
[0035]100、样品固定架；
[0036]200、偏振光光源组件；
[0037]210、背光源；
[0038]220、光源图形板；
[0039]221、透光孔；
[0040]230、第二偏振器；
[0041]240、匀光片；
[0042]300、第一成像装置；
[0043]400、第二成像装置；
[0044]500、第一偏振器。
具体实施方式
[0045]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术。但是本发本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MTF测试设备，用于对待测试器件的MTF进行测量，所述待测试器件包括偏振光系统，其特征在于，所述MTF测试设备包括：样品固定架，用于固定所述待测试器件；偏振光光源组件，用于向所述待测试器件投射偏振光图案；多个成像装置，所述成像装置用于接收所述待测试器件投射的图像；以及多个第一偏振器，所述多个第一偏振器和所述多个成像装置一一对应设置，所述第一偏振器设置于对应的所述成像装置的接收端。2.根据权利要求1所述的MTF测试设备，其特征在于，所述多个成像装置包括第一成像装置和第二成像装置；所述第一成像装置的数量为一个且设置于所述待测试器件的光轴上；所述第二成像装置的数量为两个以上，且所述第二成像装置围绕所述第一成像装置设置。3.根据权利要求1所述的MTF测试设备，其特征在于，所述第一偏振器以可转动的方式连接与所述成像装置连接，以使所述第一偏振器能够绕所述成像装置的光轴旋转。4.根据权利要求1所述的MTF测试设备，其特征在于，所述偏振光光源组件包括：背光源；光源图形板，所述光源图形板设置于所述背光源的出光侧，所述光源图形板设置有多个透光孔，多个所述透光孔组合成预设图案；以及第二偏振器，所述第二偏振器设置于所述光源图形板背离所述背光源的一侧。5.根据权利要求4所述的MTF测试设备，其特征在于，所述偏振光光源组件还包括匀光片，所述匀光片设置于所述背光源...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄觐懋，
申请(专利权)人：业成光电深圳有限公司业成光电无锡有限公司英特盛科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：