【技术实现步骤摘要】
一种版图拆分方法、装置、计算机可读介质及设备
[0001]本专利技术涉及集成电路掩模拆分
,特别涉及一种版图拆分方法、装置、计算机可读介质及设备。
技术介绍
[0002]随着集成电路制造技术的发展,版图图形特征尺寸不断缩小,设计图形的复杂程度不断提高,晶体管数量也在相同的面积内极大地增加。但是光刻的分辨率有极限值,在光学系统的不完善性以及衍射效应下,掩模上的图形与光刻胶上的图形不完全一致,不仅会影响电路的电学性能,甚至会导致功能的失效。
[0003]为了解决这个问题,通常采用双层掩模版技术,即DPT(double pattern technology),即将原来的原始掩模版图一分为二,这样拆分出的版图上就不会出现最小间距问题,就避免了光刻机单次曝光的极限的瑕疵问题,从而保证图形转移的质量。
[0004]在光学邻近校正过程中,将设计版图一分为二的过程是关键的一步,拆分结果的好坏对最终的结果有很大的影响。由于拆分时要计算图形间的空间关系,所以需要大量的计算过程。现有的DPT拆分技术由于版图图形密集, ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种版图拆分方法,其特征在于:所述版图拆分方法包括以下步骤:获取初始版图,根据预设规则将初始版图划分多个初始单元;基于预设标准将初始单元分类为大单元或小单元;对大单元进行再划分处理,获得子单元;对所述小单元及子单元进行运算并输出拆分版图。2.如权利要求1所述的版图拆分方法,其特征在于:根据预设规则将初始版图划分多个初始单元包括以下步骤:扫描初始版图以获取图形空间关系,图形关系包括图形间距;将图形间距小于预设值的相邻图形划分到同一初始单元。3.如权利要求1所述的版图拆分方法,其特征在于:将图形数目和/或单元面积超过预设数值的所述初始单元定义为大单元,反之则定义为小单元。4.如权利要求1所述的版图拆分方法,其特征在于:对所述大单元进行再划分前,建立所述大单元内图形间的相互关系。5.如权利要求4所述的版图拆分方法,其特征在于:建立大单元内图形间的相互关系包括以下步骤:获取大单元内图形的空间关系;根据预设规则对图形做冲突或不冲突标识。6.如权利要求1所述的版图拆分方法,其特征在于:对大单元进行再划分...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘思,张逸中,陈钊,
申请(专利权)人:东方晶源微电子科技上海有限公司,
类型:发明
国别省市:
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