一种用于激光粒度仪样品池的清洗装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种用于激光粒度仪样品池的清洗装置，涉及激光粒度仪技术领域，包括进水装置、蓄水池、激光粒度仪样品池、排水装置、冲洗泵和清洗液池；所述进水装置与蓄水池相连，所述蓄水池通过第一管路与激光粒度仪样品池相连，所述激光粒度仪样品池通过第二管路与排水装置相连，所述激光粒度仪样品池上方设置有第三管路的出口端，所述第三管路的入口端与冲洗泵相连，所述冲洗泵通过管路与清洗液池相连。本实用新型专利技术省去了人工清洗流动样品池的繁琐步骤，实现了通过清洗装置来清洗设备，提高了设备的工作效率，并减少了对设备的损耗。并减少了对设备的损耗。并减少了对设备的损耗。

【技术实现步骤摘要】
一种用于激光粒度仪样品池的清洗装置


[0001]本技术涉及激光粒度仪
，尤其涉及一种用于激光粒度仪样品池的清洗装置。

技术介绍

[0002]激光粒度仪是通过颗粒的衍射或散射光的空间分布来分析颗粒大小的仪器，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。
[0003]现有的双镜头光学系统高性能激光粒度仪，由半导体体激光器发出激光，经滤波、扩束、准值后变成一束平行光，在该平行光束中放置激光粒度仪样品池，在准直透镜焦平面上放置一组接收较大颗粒产生的前向散射光的探测器，在侧向放置一组接收较小颗粒产生的侧向散射光的探测器，后面放置一组接收接收亚微米颗粒产生的后向散射光探测器。将前向、侧向和后向探测器的信号传输到电脑中进行反演计算，从而得到所测样品的粒度分布。
[0004]随着测量过程的进行，激光粒度仪样品池会受到不同因素的污染，从而导致测量结果不准确。此时需要将激光粒度仪样品池进行清洗，再进行使用。现有的激光粒度仪的清洗方法需要人力手动将激光粒度仪样品池拆卸下来清洗，此操作浪费人力浪费时间的同时，还容易损坏设备或零部件。

技术实现思路

[0005]本技术提供一种用于激光粒度仪样品池的清洗装置，解决了现有激光粒度仪激光粒度仪样品池清洗方法易损坏设备或零件的问题。
[0006]为达到以上目的，本技术采取的技术方案是：
[0007]一种用于激光粒度仪样品池的清洗装置，包括：进水装置、蓄水池、激光粒度仪样品池、排水装置、冲洗泵和清洗液池；
[0008]所述进水装置与蓄水池相连，所述蓄水池通过第一管路与激光粒度仪样品池相连，所述激光粒度仪样品池通过第二管路与排水装置相连，所述激光粒度仪样品池上方设置有第三管路的出口端，所述第三管路的入口端与冲洗泵相连，所述冲洗泵通过管路与清洗液池相连。
[0009]进一步地，所述第一管路上设置有第一开关，所述第二管路上设置有第二开关。
[0010]进一步地，所述第三管路向下弯折。
[0011]进一步地，所述蓄水池、冲洗泵和清洗液池设置于激光粒度仪样品池的侧方，所述排水装置设置于激光粒度仪样品池的下方。
[0012]进一步地，所述第三管路的出口端出设置有喷头。
[0013]进一步地，所述第三管路上设置有单向阀。
[0014]进一步地，所述蓄水池设置于激光粒度仪的超声波分散器上方。
[0015]本技术的有益效果在于：
[0016]本技术通过设置和控制第一管路、第二管路和第三管路的开关，达到了可以通过装置对污染的激光粒度仪样品池进行清洗液清洗和清水冲洗的效果。免去了人工冲洗浪费人力的同时，因采用高压清洗液清洗，避免了人力清洗损坏设备或零部件。
[0017]本技术的第三管路出口端设置有喷头，避免水流方向的单一性，导致样品池角落污渍冲洗不到位。
附图说明
[0018]为了更清楚的说明本技术的实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本技术装置示意图。
[0020]附图标号说明：
[0021]1、进水装置；2、蓄水池；3、激光粒度仪样品池；4、排水装置；5、冲洗泵；6、清洗液池；7、第一管路；8、第二管路；9、第三管路；10、第一开关；11、第二开关；12、喷头；13、单向阀；14、超声波分散器。
具体实施方式
[0022]需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。
[0023]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本技术及其应用或使用的任何限制。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本技术的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
[0025]除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本技术的范围。同时，应当清楚，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
[0026]在本技术的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术保护范围的限制：方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。
[0027]为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在
……
之上”、“在
……
上方”、“在
……
上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其位器件或构造之下”。因而，示例性术语“在
……
上方”可以包括“在
……
上方”和“在
……
下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。
[0028]此外，需要说明的是，使用“第一”、“第二”等词语本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于激光粒度仪样品池的清洗装置，其特征在于，包括：进水装置(1)、蓄水池(2)、激光粒度仪样品池(3)、排水装置(4)、冲洗泵(5)和清洗液池(6)；所述进水装置(1)与蓄水池(2)相连，所述蓄水池(2)通过第一管路(7)与激光粒度仪样品池(3)相连，所述激光粒度仪样品池(3)通过第二管路(8)与排水装置(4)相连，所述激光粒度仪样品池(3)上方设置有第三管路(9)的出口端，所述第三管路(9)的入口端与冲洗泵(5)相连，所述冲洗泵(5)通过管路与清洗液池(6)相连。2.根据权利要求1所述的用于激光粒度仪样品池的清洗装置，其特征在于：所述第一管路(7)上设置有第一开关(10)，所述第二管路(8)上设置有第二开关(11)。3.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈将俊，李岩，高珺，吴博，刘春静，
申请(专利权)人：大连海外华昇电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：