本实用新型专利技术涉及电容式触摸按键测试装置，包括机台以及设于机台上方的移动平台，该机台上设有容置槽，以用于盛装待测试触摸组件；该移动平台上设有触点区域，该触点区域设于该容置槽上方，且至少具有一导电的触点；还包括检测电路，该检测电路包括至少一电容支路，该检测支路包括一电容器，该电容器一端接地，另一端与该触点电连接。通过检测电路的电容器，量化模拟人的手指容抗，经由触点接触待测试触摸组件上的弹簧，实现了自动化触摸按键测量，解决了现有触摸屏按键功能测试复杂，灵敏度差的问题。问题。问题。
【技术实现步骤摘要】
电容式触摸按键测试装置
[0001]本技术属于测试设备
，具体的涉及一种电容式触摸按键功能测试的装置。
技术介绍
[0002]电容式触摸按键的触摸模式在家电控制领域中存在广泛的应用。很多家电产品上存在10个以上的触摸按键，数量较多，在这类产品的生产制造中，采用传统的手工触摸按键进行触摸按键的功能测试，不仅效率慢，对按键的灵敏度还无法进行量化。市面上存在的触摸按键自动测试工装大多为机械式模拟人手触摸按压测试，设计复杂，且成本较高，不易实现。
技术实现思路
[0003]本技术旨在提供一种电容式触摸按键测试装置，以解决现有触摸屏按键功能测试复杂，灵敏度差的问题。
[0004]具体方案如下：一种电容式触摸按键测试装置，包括机台以及设于机台上方的移动平台，该机台上设有容置槽，以用于盛装待测试触摸组件；该移动平台上设有触点区域，该触点区域设于该容置槽上方，且至少具有一导电的触点；还包括检测电路，该检测电路包括至少一电容支路，该检测支路包括一电容器，该电容器一端接地，另一端与该触点电连接。
[0005]本技术的进一步技术方案为：还包括一控制器，该导电触点还并联有至少两条该电容支路，每一电容支路均串接有一电控开关，该电控开关与该控制器电连接。
[0006]本技术的进一步技术方案为：该电控开关为光耦合器，每一该导电触点并联有三条该电容支路，以分别电连接标准电容器，上限电容器以及下限电容器。
[0007]本技术的进一步技术方案为：还包括显示器，该显示器与该控制器电连接，以显示电控开关状态。
[0008]本技术的进一步技术方案为：该移动平台上设有一电触PCB板，该检测电路以及该触点区域均设于该电触PCB板上，该触点区域具有多个该触点，每一该触点均电连接该电容支路。
[0009]其中，优选的，还包括竖直设置于该机台一侧的升降滑轨，该移动平台安装于该升降滑轨上，以具有贴近以及远离该机台上端面的检测位置和待机位置。
[0010]更进一步的，该机台上还设有环绕该容置槽的限位凸台，该限位凸台设于该移动平台投影下方位置。
[0011]更进一步的，该限位凸台为四周环绕容置槽的凸出条，且该凸出条上至少设有一操作缺口。
[0012]有益效果：一种电容式触摸按键测试装置，包括机台以及设于机台上方的移动平台，该机台上设有容置槽，以用于盛装待测试触摸组件；该移动平台上设有触点区域，该触
点区域设于该容置槽上方，且至少具有一导电的触点；还包括检测电路，该检测电路包括至少一电容支路，该检测支路包括一电容器，该电容器一端接地，另一端与该触点电连接。通过检测电路的电容器，量化模拟人的手指容抗，经由触点接触待测试触摸组件上的弹簧，实现了自动化触摸按键测量，解决了现有触摸屏按键功能测试复杂，灵敏度差的问题。
附图说明
[0013]图1示出了本技术电容式触摸按键测试装置；
[0014]图2示出了图1的另一视角结构示意图；
[0015]图3示出了本技术测试装置电路原理示意图。
具体实施方式
[0016]为进一步说明各实施例，本技术提供有附图。这些附图为本技术揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本技术的优点。图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。
[0017]现结合附图和具体实施方式对本技术进一步说明。
[0018]结合图1和图2所示，该实施例提供了电容式触摸按键测试装置，包括机台1以及设于机台1上方的移动平台2。其中，该实施例中优选的，移动平台2的移动方式为，还包括竖直设置于该机台一侧的升降滑轨20，该移动平台2安装于该升降滑轨20上，以沿着滑轨，以竖直方向A升降，从而具有贴近以及远离该机台1上端面的检测位置和待机位置。
[0019]该机台1上设有容置槽，以用于盛装待测试触摸组件10，该容置槽的具体结构为：该容置槽为机台1上端面的矩形区域，该机台1上还设有环绕该容置槽的限位凸台11，该限位凸台设于该移动平台2投影的下方位置。限位凸台突伸出机台1，实现了对移动平台2下压位置的限位，避免移动平台压坏触摸组件10或者形成不足导致的部分接触不良误测等。
[0020]其中，优选的，该限位凸台11为四周环绕容置槽的凸出条，且该凸出条上至少设有一操作缺口，以用于取放待测试的触摸组件10，实现了手工快速更换，且环形保护触摸组件10上的弹簧按键12。
[0021]再结合图2和图3所示，该移动平台上设有触点区域，该实施例中，该触点区域为设于该容置槽上方的电触PCB板，该电触PCB板的下侧面具有多个导电的触点21；该触点21的位置与弹簧按键12一一对应，且在移动平台2的检测位置，触点21与弹簧按键12对应抵触且压紧弹簧按键12，实现电路导通。
[0022]在该实施例中，电触PCB板上还设置有该检测电路，该检测电路包括一控制器22，对应每一个触点21，该检测电路均包括与触点21并联的三条该电容支路。
[0023]每一电容支路上，均包括一个电容器，该电容器一端接地，另一端与该触点21电连接。由图3可见，三电容支路的串接电容值各不相同，分别为10PF的标准电容器，20PF的上限电容器以及5PF的下限电容器，以适应性模拟标准手指触摸电容状态，最低手指感应状态以及超出手指电容状态，更进一步实现精确定量模拟。当然，在其他的具体实施方式中，各个电容器的实际容值可依据需要调整。
[0024]为实现对实时接入触点21的电容支路控制，每一电容支路均串接有一电控开关，
在该实施例中，其分别为光耦合器K1、光耦合器K2以及光耦合器K3，作为电控开关的光耦合器K1、光耦合器K2以及光耦合器K3，其光控端分别与该控制器的IO1端口、IO2端口、IO3端口电连接，即实现了三电容支路择一导通至触点21，即将标准电容器，上限电容器以及下限电容器择一电连接至弹簧按键12，实现不同容值触摸状态的模拟。该实施例中，选用光耦合器，其电路简单，抗干扰能力强，且对引入容值影响基本可忽略，检测精度高。
[0025]为实现不同电容值接入的显示，该实施例还包括一显示器23，该显示器23与该控制器22电连接，以显示电控开关状态。
[0026]可以理解的是，该移动平台2上的电触PCB板该触点区域可以具有多个该触点，且每一该触点均电连电容支路，在此不再赘述。更进一步的，触摸组件10的电控芯片IC可以与控制器22串口通讯连接，光耦输出端，发射极接感应电容，集极接至弹簧触点模块，弹簧触点模块通过治具下压与弹簧完全接触；三个光耦发射极分别接至不同电容容值，用于模拟电容式触摸容抗的上限值、标准值、下限值，当接标准值的光耦导通时，被测板触摸芯片应能接收到触摸按键触发信号，并将接收到结果通过串口通信传给测试装置；当接电容上限值或下限值的光耦导通时，应不能使触摸芯片被触发，如此本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电容式触摸按键测试装置，包括机台以及设于机台上方的移动平台，其特征在于：该机台上设有容置槽，以用于盛装待测试触摸组件；该移动平台上设有触点区域，该触点区域设于该容置槽上方，且至少具有一导电的触点；还包括检测电路，该检测电路包括至少一电容支路，该电容支路包括一电容器，该电容器一端接地，另一端与该触点电连接。2.根据权利要求1所述的电容式触摸按键测试装置，其特征在于：还包括一控制器，该导电触点还并联有至少两条该电容支路，每一电容支路均串接有一电控开关，该电控开关与该控制器电连接。3.根据权利要求2所述的电容式触摸按键测试装置，其特征在于：该电控开关为光耦合器，每一该导电触点并联有三条该电容支路，以分别电连接标准电容器，上限电容器以及下限电容器。4.根据权利要求2所述的电容式触摸按键测试装置，其特征在于：还包括显示器，该显示...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾采虹，柯志坚，陈影华，肖俊，
申请(专利权)人：厦门华联电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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