一种高浓度硫铁矿矿浆快速分析仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种高浓度硫铁矿矿浆快速分析仪，包括：激发光源装置包括X射线发生器和高压发生器，高压发生器用于激发X射线发生器发出X射线；滤光片控制系统包括滤光片和电机驱动装置，电机驱动装置用于驱动滤光片；样品侧照装置与所述滤光片相连接，并产生特征X射线；信号探测装置用于探测并接收所述特征X射线；信号处理装置用于接收信号探测装置产生的脉冲信号，并传送到所述一体化嵌入式计算机；其中，一体化嵌入式计算机与单片机控制器相连接，单片机控制器与激发光源装置相连接。本实用新型专利技术的优点：能够快速稳定、高精度测量并分析硫铁矿矿浆中高浓度硫含量，且其安装操作方便。作方便。作方便。

【技术实现步骤摘要】
一种高浓度硫铁矿矿浆快速分析仪


[0001]本技术涉及一种分析仪器，尤其涉及一种高浓度硫铁矿矿浆快速分析仪。

技术介绍

[0002]硫精矿主要用作化工原料，生产硫酸。准确测定硫精矿中的硫元素含量，对硫精矿质量控制具有重要意义。在硫精矿的选矿工艺中，硫含量的测定采用传统方法：《GBT2462
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1996硫铁矿和硫精矿中有效硫含量的测定方法》，该方法是：试样在850℃空气流中嫩烧，单体硫与硫化物中的硫转变为二氧化硫气体逸出，用过氧化氢溶液吸收并氧化成硫酸。以甲基红一亚甲基蓝为混合指示剂，用氢氧化钠标准滴定溶液滴定。
[0003]采用该方法主要的缺点是：矿浆样品需要烘干，磨细，然后进行分析，过程很复杂，时间较长，分析一个矿浆样品，需要2个多小时。这样对选矿的指导有严重的滞后效应，无法及时调整配比，及时控制选矿过程，影响硫精矿的品位及尾矿的质量控制。
[0004]X射线分析方法是一种现场快速的分析方法。特别是近年来X射线分析技术的快速发展，使X射线分析仪的分析精度、现场适应性等大大提高。X射线分析仪传统上采用正比计数管探测器，该探测器分析精度低，不能满足高精度的硫含量测定，近年来，随着高分辨率高计数率的电制冷半导体探测器的发展，使X射线分析仪越来越多地应用于矿山选矿工业。但目前使用的X射线分析仪对硫精矿的测定，需要先对硫矿浆进行烘干，磨细到180
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200目，然后进行压片，再把压好的片样品送到仪器中进行分析，因此整个过程时间较长，大约需要30多分钟，如金堆城钼业股份有限公司监测中心赵永宏发表的《X荧光光谱法测定硫精矿中硫元素》(化学分析计量2015.11)，对指导选矿也有较大的滞后，因此也不适合现场硫铁矿矿浆高浓度硫含量快速监测。

技术实现思路

[0005]针对现有技术中存在的不足，本技术的目的之一在于提供一种高浓度硫铁矿矿浆快速分析仪，用于硫矿浆中的硫含量的快速准确分析。
[0006]为实现以上目的，本技术采取的技术方案：
[0007]一种高浓度硫铁矿矿浆快速分析仪，包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、滤光片控制系统、样品侧照装置、一体化嵌入式计算机和单片机控制器；所述激发光源装置，包括X射线发生器和高压发生器，所述高压发生器用于激发所述X射线发生器发出X射线；
[0008]所述滤光片控制系统，包括滤光片和电机驱动装置，所述电机驱动装置用于驱动所述滤光片；
[0009]所述样品侧照装置，与所述滤光片相连接，并产生特征X射线；
[0010]所述信号探测装置，用于探测并接收所述特征X射线；
[0011]所述信号处理装置，用于接收所述信号探测装置产生的脉冲信号，并传送到所述一体化嵌入式计算机；
[0012]其中，所述一体化嵌入式计算机与所述单片机控制器相连接，所述单片机控制器与所述激发光源装置相连接。
[0013]优选地，所述信号探测装置，包括SI
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PIN电制冷探测器和探测器电源，所述探测器电源用于为所述SI
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PIN电制冷探测器供电。
[0014]优选地，所述SI
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PIN电制冷探测器设置在所述X射线发生器的下方。
[0015]优选地，所述信号处理装置，包括放大器、模数转换器和单片机，所述放大器与所述模数转换器的一端相连接，所述模数转换器的另一端与所述单片机相连接。
[0016]优选地，所述滤光片设置在所述X射线发生器前。
[0017]优选地，所述X射线发生器采用Be窗厚度为75微米的韧致辐射型X光管。
[0018]优选地，所述一体化嵌入式计算机连接有一体化触摸式显示器、微型打印机。
[0019]优选地，所述一体化嵌入式计算机上设有USB接口、RS232串口和以太网通信接口。
[0020]优选地，所述样品侧照装置采用上侧为X射线发生器，下侧为信号探测装置的测量方式。
[0021]本技术的有益效果为：
[0022]采用内置一体化嵌入式计算机等装置，集成高浓度硫铁矿矿浆快速分析仪，能够快速稳定、高精度测量并分析硫铁矿矿浆中高浓度硫含量，还可以提高抗震动及抗干扰能力，减少外界的影响，并且安装操作方便。
附图说明
[0023]图1为一种高浓度硫铁矿矿浆快速分析仪的原理框图；
[0024]图2为样品侧照方式测试装置的侧视图；
[0025]图3为样品侧照方式测试装置的正视图。
[0026]图中标记如下：1、激发光源装置；101、X射线发生器；102、高压发生器；2、信号探测装置；201、SI
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PIN电制冷探测器；202、探测器电源；3、信号处理装置；301、放大器；302、模数转换器；303、单片机；4、滤光片；5、样品侧照装置；501、样品瓶支撑架；502、样品瓶；503、测量窗口；6、微型打印机；7、一体化嵌入式计算机；8、鼠标键盘；9、单片机控制器；10、电机驱动装置；11、迈拉膜。
具体实施方式
[0027]为使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，下面结合附图和具体实施方式对本技术的内容做进一步详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本技术，而非对本技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部内容。
[0028]如图1至图3所示，本技术提供了一种高浓度硫铁矿矿浆快速分析仪，包括激发光源装置1、信号探测装置2、信号处理装置3、滤光片控制系统、样品侧照装置5、一体化嵌入式计算机7和单片机控制器9；
[0029]激发光源装置1，包括X射线发生器101和高压发生器102，高压发生器102以高压50KV作为激发源，用于激发X射线发生器101发出X射线；
[0030]滤光片控制系统，包括滤光片4和电机驱动装置10，电机驱动装置10用于驱动滤光
片4；
[0031]样品侧照装置5，与滤光片4相连接，并产生特征X射线；
[0032]信号探测装置2，用于探测并接收特征X射线；
[0033]信号处理装置3，用于接收信号探测装置2产生的脉冲信号，并传送到一体化嵌入式计算机7；
[0034]其中，一体化嵌入式计算机7与单片机控制器9相连接，单片机控制器9与激发光源装置1相连接。
[0035]本技术的工作原理：
[0036]在工作时，把封装有迈拉膜11的样品瓶502直接放置于样品侧照装置5的支撑架501上的测试位置，X射线发生器101发出X射线经过滤光片4后激发测量样品，使测量样品中各个元素的原子中的核外电子受激发而放出，特别是K层电子，并且在原来位置产生一个空穴，此时外层电子就会填充这个空穴位置，特别是L层电子，多余的能量就以特征X射线的形式放出，这些特征X射线进入SI
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PIN电制冷探测器201产生脉冲信号，经过放大器301的放大与脉冲成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高浓度硫铁矿矿浆快速分析仪，包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、滤光片控制系统、样品侧照装置、一体化嵌入式计算机和单片机控制器，其特征在于，所述激发光源装置，包括X射线发生器和高压发生器，所述高压发生器用于激发所述X射线发生器发出X射线；所述滤光片控制系统，包括滤光片和电机驱动装置，所述电机驱动装置用于驱动所述滤光片；所述样品侧照装置，与所述滤光片相连接，并产生特征X射线；所述信号探测装置，用于探测并接收所述特征X射线；所述信号处理装置，用于接收所述信号探测装置产生的脉冲信号，并传送到所述一体化嵌入式计算机；其中，所述一体化嵌入式计算机与所述单片机控制器相连接，所述单片机控制器与所述激发光源装置相连接。2.根据权利要求1所述的高浓度硫铁矿矿浆快速分析仪，其特征在于：所述信号探测装置，包括SI
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PIN电制冷探测器和探测器电源，所述探测器电源用于为所述SI
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PIN电制冷探测器供电。3.根据权利要求2所述的高浓度硫铁矿矿浆快速分析仪，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈前忠，徐彦飞，郭荣才，谭佳茂，李锋，赖国望，郭元超，刘书生，曾旭峰，高月琴，闵元勇，
申请(专利权)人：广东广业云硫矿业有限公司，
类型：新型
国别省市：