【技术实现步骤摘要】
一种用于大型晶圆研磨机改善晶圆形貌的研磨工艺
[0001]本专利技术涉及一种半导体晶圆加工工艺,具体涉及一种用于大型晶圆研磨机改善晶圆形貌的研磨工艺,属于半导体晶圆加工
技术介绍
[0002]晶圆的加工过程一般包括切片、倒角、研磨、腐蚀和抛光等。切片过程会在晶圆表面产生深度约为20
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50μm的机械应力损伤层,如果这些机械损伤残留在晶圆表面,会在氧化过程中产生氧化诱导层错等缺陷,因此,切片得到的晶圆需要进行研磨处理。
[0003]晶圆研磨的主要目的是消除晶圆的表面损伤层,同时提高晶圆的平坦度。TTV是衡量晶圆平坦度的一个重要指标。TTV指的是晶圆的总厚度变化,即晶圆在厚度测量值中的最大厚度与最小厚度的差值,单位为微米(μm)。TTV越小,表明晶圆的平坦度越高,因此质量越高。
[0004]晶圆的平坦度与研磨工艺有密切的关系。因此,有必要研究一种新的研磨工艺,保证研磨后得到高平坦度晶圆的同时避免边缘塌陷。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的在于提供一种用于大型晶 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于大型晶圆研磨机改善晶圆形貌的研磨工艺,其特征在于,包括以下步骤:(1)使用A磨砂研磨晶圆,A磨砂配制的研磨液各组分所占质量百分比为:A磨砂15%
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38%、研磨剂1.5%
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2.8%,其余为水;研磨晶圆时使用的磨液流量为900
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1500mL/min;研磨压力为600
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1500kg;研磨转速为25
‑
50rpm,转速比为0.3
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0.6;(2)使用B磨砂研磨晶圆,B磨砂配制的研磨液各组分所占质量百分比为:B磨砂13%
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36%、研磨剂2.2%
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3.8%,其余为水;研磨晶圆时使用的磨液流量为900
‑
1500mL/min;研磨压力为600...
【专利技术属性】
技术研发人员:何丙才,郑宇,韩萍,李广振,刘鹏亮,张亮,姜伟,田凤阁,陈克强,韩佩鑫,
申请(专利权)人:有研半导体硅材料股份公司,
类型:发明
国别省市:
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