质谱数据的分析方法技术

提供了一种质谱数据的分析方法，包括：获得原始实验质谱数据；使用反卷积算法、宽的第一输入参数集和宽的第一输出参数集来执行原始实验质谱数据的第一次反卷积，以获得反卷积输出；从反卷积输出获得离散峰数据；模拟离散峰数据的第一峰的原始数据，以获得参考模拟原始离散数据；模拟离散峰数据的第二峰的原始数据，以获得疑似模拟原始离散数据；以及通过将疑似模拟原始离散数据与参考模拟原始离散数据进行比较来确定第二峰是否可能是伪迹或物质的指示。质的指示。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】质谱数据的分析方法


[0001]本公开涉及一种质谱数据的分析方法，具体但非排他地，涉及一种确定反卷积输出中的峰是否可能是伪迹或物质的指示的方法。

技术介绍

[0002]使用反卷积算法对原始实验质谱进行反卷积是已知的。在原始实验质谱的反卷积中，对原始实验质谱数据(通常是m/z相对于强度的图)进行反卷积以提供反卷积输出(通常是物质相对于强度的图)。存在许多已知的用于原始实验质谱数据的反卷积的算法以提供反卷积输出。反卷积算法可能会在反卷积输出中产生伪迹，特别是在当使用非理想设置来减少处理时间或由于数据内容的不确定性的时候。典型的伪迹是在当分析物在分析的样品中不存时，出现在物质的反卷积输出相对于分析物的物质的强度指示的峰。
[0003]本公开的非排他目的是解决反卷积输出中的伪迹的问题。

技术实现思路

[0004]提供了一种质谱数据的分析方法，包括：
[0005]获得原始实验质谱数据；
[0006]使用反卷积算法、宽的第一输入参数集和宽的第一输出参数集来执行所述原始实验质谱数据的第一次反卷积，以获得反卷积输出；
[0007]从反卷积输出获得离散峰数据；
[0008]模拟离散峰数据的第一峰的原始数据，以获得参考模拟原始离散数据；
[0009]模拟离散峰数据的第二峰的原始数据，以获得疑似模拟原始离散数据；以及
[0010]通过将疑似模拟原始离散数据与参考模拟原始离散数据进行比较来确定第二峰是否可能是伪迹或物质的指示。
[0011]离散峰数据的第一峰可以是离散峰数据的最强峰。
[0012]离散峰数据的第二峰可以是离离散峰数据的第一峰最近的物质。
[0013]将疑似模拟原始离散数据与参考模拟原始离散数据进行比较可以包括将疑似模拟原始离散数据的m/z值与参考模拟原始离散数据的m/z值进行比较。
[0014]将疑似模拟原始离散数据的m/z值与参考模拟原始离散数据的m/z值进行比较可以包括计算在考虑中的m/z值的电荷状态z处的理论同位素分布的宽度。
[0015]如果疑似模拟原始离散数据的所有m/z值都在参考模拟原始离散数据的m/z值内，则第二峰可以被识别为可能是伪迹。
[0016]如果疑似模拟原始离散数据的m/z值不在参考模拟原始离散数据的m/z值内，则第二峰可被识别为可能是物质的指示。
[0017]一旦第二峰被识别为可能是物质的指示，则可以停止将疑似模拟原始离散数据与参考模拟原始离散数据进行比较。
[0018]一旦第二峰被识别为可能是物质的指示，则疑似模拟原始离散数据就可以被添加
到参考模拟原始离散数据中。
[0019]质谱数据的分析方法可以：
[0020]还包括模拟离散峰数据的其他峰的原始数据，以获得其他疑似模拟原始离散数据；以及
[0021]还包括通过将其他疑似模拟原始离散数据与参考模拟原始离散数据进行比较来确定其他峰是否可能是伪迹或物质的指示。
[0022]质谱数据的分析方法还可以包括：
[0023]确定窄的第二输入参数集，包括：
[0024]设定输入谱阈值百分比；
[0025]将参考模拟原始离散数据中高于输入谱阈值百分比的最小m/z值设置为所述窄的第二输入参数集的下限；和/或
[0026]将参考模拟原始离散数据中高于输入谱阈值百分比的最大m/z值设置为所述窄的第二输入参数集的上限。
[0027]确定窄的第二输入参数集还可以包括：
[0028]如果第二峰被确定为可能是物质的指示：
[0029]并且如果疑似模拟原始离散数据中高于输入谱阈值百分比的最小m/z值小于所述窄的第二输入参数集的下限，则将疑似模拟原始离散数据中的最小m/z值设置为所述窄的第二输入参数集的下限；和/或
[0030]并且如果疑似模拟原始离散数据中高于输入谱阈值百分比的最大m/z值大于所述窄的第二输入参数集的上限，则将疑似模拟原始离散数据中的最大m/z值设置为所述窄的第二输入参数集的上限。
[0031]确定窄的第二输入参数集还可以包括：
[0032]如果所述或其他峰被确定为可能是物质的指示：
[0033]如果其他疑似模拟原始离散数据中高于输入谱阈值百分比的最小m/z值小于所述窄的第二输入参数集的下限，则将其他疑似模拟原始离散数据中的最小m/z值设置为所述窄的第二输入参数集的下限；和/或
[0034]如果其他疑似模拟原始离散数据中高于输入谱阈值百分比的最大m/z值大于所述窄的第二输入参数集的上限，则将所述疑似模拟原始离散数据中的最大m/z值设置为所述窄的第二输入参数集的上限。
[0035]输入谱阈值百分比可被设为零。
[0036]质谱数据的分析方法还可以包括：
[0037]确定窄的第二输出参数集，包括：
[0038]设置偏移值；以及
[0039]将第一峰、第二峰和/或被确定为物质的指示的任何其他峰减去所述偏移值中的最小者设置为所述窄的第二输出参数集的下限；和/或
[0040]将第一峰、第二峰和/或被确定为物质的指示的任何其他(一个或多个)峰加上所述偏移值中的最大者设置为所述窄的第二输出参数集的上限。
[0041]质谱数据的分析方法还可以包括：
[0042]确定窄的第二输出参数集，包括：
[0043]设置偏移值；以及
[0044]将第一峰、第二峰和/或被确定为物质的指示加上和减去所述偏移值的任何其他(一个或多个)峰设置为包括在所述窄的第二输出参数集中。
[0045]质谱数据的分析方法还可以包括：
[0046]使用反卷积算法和使用本文的方法确定的窄的第二输入参数集来执行原始实验质谱数据的第二反卷积；
[0047]和/或，使用本文的方法确定的窄的第二输出参数集以获得第二反卷积输出。
[0048]还提供了一种确定在反卷积输出中的第二峰是否可能是伪迹或物质的指示的方法，包括：
[0049]从反卷积输出中获得离散峰数据；
[0050]模拟离散峰数据的第一峰的原始数据，以获得参考模拟原始离散数据；
[0051]模拟离散峰数据的第二峰的原始数据，以获得疑似模拟原始离散数据；以及
[0052]通过将所述疑似模拟原始离散数据与所述参考模拟原始离散数据进行比较来确定所述第二峰是否可能是伪迹或物质的指示。
[0053]确定反卷积输出中的第二峰是否可能是伪迹或物质的指示的方法还可以包括本文描述的质谱数据的分析方法的一个或多个或所有特征。
[0054]还提供了一种质谱数据的分析方法，包括：
[0055]获得原始实验质谱数据；
[0056]使用反卷积算法、宽的第一输入参数集和宽的第一输出参数集来执行原始实验质谱数据的第一次反卷积，以获得反卷积输出；
[0057]识别所述反卷积输出中的峰；
[0058]模拟所述反卷积输出的第一峰的原始数据，以获得参考模拟原始数据；
[0本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种质谱数据的分析方法，包括：获得原始实验质谱数据；使用反卷积算法、宽的第一输入参数集和宽的第一输出参数集来执行所述原始实验质谱数据的第一次反卷积，以获得反卷积输出；从所述反卷积输出获得离散峰数据；模拟所述离散峰数据的第一峰的原始数据，以获得参考模拟原始离散数据；模拟所述离散峰数据的第二峰的原始数据，以获得疑似模拟原始离散数据；以及通过将所述疑似模拟原始离散数据与所述参考模拟原始离散数据进行比较来确定所述第二峰是否可能是伪迹或物质的指示。2.根据权利要求1所述的质谱数据分析方法，其中，所述离散峰数据的第一峰是所述离散峰数据的最强峰。3.根据权利要求1或2所述的质谱数据分析方法，其中，所述离散峰数据的第二峰是最接近所述离散峰数据的第一峰的物质。4.根据权利要求1、2或3所述的质谱数据的分析方法，其中，将所述疑似模拟原始离散数据与所述参考模拟原始离散数据进行比较包括将所述疑似模拟原始离散数据的m/z值与所述参考模拟原始离散数据的m/z值进行比较。5.根据权利要求4所述的质谱数据分析方法，其中，将所述疑似模拟原始离散数据的m/z值与所述参考模拟原始离散数据的m/z值进行比较包括计算在考虑的m/z值的电荷状态z下的理论同位素分布的宽度。6.根据权利要求4或5所述的质谱数据分析方法，其中，如果所述疑似模拟原始离散数据的所有m/z值都在所述参考模拟原始离散数据的m/z值内，则所述第二峰被识别为可能是伪迹。7.根据权利要求4、5或6所述的质谱数据分析方法，其中，如果所述疑似模拟原始离散数据的m/z值不在所述参考模拟原始离散数据的m/z值内，则所述第二峰被识别为可能是物质的指示。8.根据前述权利要求中任一项所述的质谱数据分析方法，其中，一旦所述第二峰被识别为可能是物质的指示，则停止将所述疑似模拟原始离散数据与所述参考模拟原始离散数据进行比较。9.根据前述权利要求中任一项所述的质谱数据分析方法，其中，一旦所述第二峰被识别为可能是物质的指示，则将所述疑似模拟原始离散数据添加到所述参考模拟原始离散数据中。10.根据前述权利要求中任一项所述的质谱数据分析方法，还包括模拟所述离散峰数据的其他峰的原始数据，以获得其他疑似模拟原始离散数据；以及通过将所述其他疑似模拟原始离散数据与所述参考模拟原始离散数据进行比较来确定所述其他峰是否可能是伪迹或物质的指示。11.根据前述权利要求中任一项所述的质谱数据分析方法，还包括：确定窄的第二输入参数集，包括：设定输入谱阈值百分比；
将所述参考模拟原始离散数据中高于所述输入谱阈值百分比的最小m/z值设置为所述窄的第二输入参数集的下限；和/或将所述参考模拟原始离散数据中高于所述输入谱阈值百分比的最大m/z值设置为所述窄的第二输入参数集的上限。12.根据权利要求11所述的质谱数据的分析的方法，其中，确定所述窄的第二输入参数集还包括：如果所述第二峰被确定为可能是物质的指示：如果所述疑似模拟原始离散数据中高于所述输入谱阈值百分比的最小m/z值小于所述窄的第二输入参数集的下限，则将所述疑似模拟原始离散数据中的最小m/z值设置为所述窄的第二输入参数集的下限；和/或以及，如果所述输入谱阈值百分比以上的所述疑似模拟原始离散数据中的最大m/z值大于所述窄的第二输入参数集的上限，则将所述疑似模拟原始离散数据中的最大m/z值设置为所述窄的第二输入参数集的上限。13.根据权利要求11或12所述的质谱数据的分析的方法，其中，确定所述窄的第二输入参数集还包括：如果所述或其他峰被确定为可能是物质的指示：如果所述其他疑似模拟原始离散数据中高于所述输入谱阈值百分比的最小m/z值小于所述窄的第二输入参数集的下限，则将所述其他疑似模拟原始离散数据中的最小m/z值设置为所述窄的第二输入参数集的下限；和/或如果所述其他疑似模拟原始离散数据中高于...

【专利技术属性】
技术研发人员：P，
申请(专利权)人：沃特世科技爱尔兰有限公司，
类型：发明
国别省市：