【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】一种用于校准质谱仪的方法
[0001]本专利技术涉及一种对数据进行拟合以用于校准质谱仪的方法，且更具体地涉及出于校准谱仪的目的而对来自四极质谱仪的数据进行拟合。
技术介绍
[0002]四极质谱仪(QMS)是在质谱法的领域中使用的质量分析仪的类型。QMS在其相对简单和容易操作方面提供了优势，但产生了比像飞行时间(TOF)仪器之类的一些质谱仪设计更低的分辨率。
[0003]在使用之前，通过建立针对具有已知成分的化合物的质荷比的输出分析来校准QMS，例如使得荷质的“正确”(即，期望)同位素模式是已知的。然后，将正确或已知模式与由QMS输出的模式进行比较，以在模式的峰的位置之间建立发散程度。以该方式，可以建立：QMS的输出具有足够品质。
[0004]如果跨质量范围的质峰的品质是差的，则它可以指示QMS的制造中的缺陷或者它未被正确地调谐。在确定期望同位素模式与由QMS产生的模式之间的未对准或偏移时，可以调整QMS以便计及该偏移，以便减小或消除任何偏移。可替换地，在不调整QMS自身的情况下，可以相应地调整后续使用QMS而...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种评定所获取的质谱的方法，所述方法包括下述步骤：针对已知元素成分的化合物而获得模型同位素模式，在所述化合物的分析中提供从质谱仪获得的质谱数据，以及通过将所述质谱数据与所述同位素模式进行比较以将所述同位素模式中的参考位置与所述质谱数据中的相应对应候选位置进行匹配，来执行位置匹配，所述位置匹配包括：在所述质谱数据上确定似然函数，其表示所述质谱数据中的每个位置正确对应于所述同位素模式的参考位置的似然性，确定候选位置的集合，每个候选位置对应于所确定的似然函数中的局部最大值，以及在每个候选位置处，基于所述似然函数在该位置处的曲率来确定关联误差棒。2.根据权利要求1所述的方法，其中确定关联误差棒包括：在每个候选位置处评定与所述质谱数据相关联的方差，以便计及数据中的噪声。3.一种评定由四极质谱仪获得的所获取的质谱的方法，包括下述步骤：针对已知元素成分的化合物而获得模型同位素模式，在所述化合物的分析中提供从四极质谱仪获得的质谱数据，获得初始容限参数和目标容限，通过将所述质谱数据与所述同位素模式进行比较以将所述同位素模式中的参考位置与所述质谱数据中的候选位置的集合进行匹配、确定所述候选位置与所述参考位置之间的偏移以及确定所述候选位置的具有比所述容限参数小的偏移的子集，来执行位置匹配，以及后续重复以下步骤，直到所述容限参数达到所述目标容限：i)确定校准函数以拟合候选位置的当前子集，ii)将所述校准函数拟合到所述质谱数据，并通过将经拟合的函数与候选位置的整个集合进行比较以确定所述偏移、以及将所述当前子集更新成仅包括具有比所述容限参数小的偏移的那些候选位置，来执行位置匹配，以及iii)如果所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：M，
申请(专利权)人：沃特世科技爱尔兰有限公司，
类型：发明
国别省市：
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