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一种用于校准质谱仪的方法技术
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文档序号:37971598
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我们提供了一种评定所获取的质谱的方法,所述方法包括下述步骤:针对已知元素成分的化合物而获得模型同位素模式,在所述化合物的分析中提供从质谱仪获得的质谱数据,以及通过将所述质谱数据与所述同位素模式进行比较以将所述同位素模式中的参考位置与所述质谱...
该专利属于沃特世科技爱尔兰有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过沃特世科技爱尔兰有限公司授权不得商用。
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