【技术实现步骤摘要】
一种高精度磁矩测量系统及方法
[0001]本专利技术涉及磁矩测量
，尤其涉及一种高精度磁矩测量系统及方法。
技术介绍
[0002]目前，国际上普遍采用IEC60404
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14测量磁体的磁矩，与之对应的国家标准为GB/T 38437，采用探测线圈和磁通计，通过抽拉和翻转方式来测量永磁材料的磁矩。但是，由于探测线圈是一个面积很大的电磁信号接收器，不仅会接收到被测磁体的信号，甚至会接收到周围环境带来的磁干扰信号带来磁通计读数的明显波动，导致测量出现偏差。虽然可通过竖直放置探测线圈来减小外界干扰信号的影响，但仍不足以将干扰信号降低到可忽略的程度。此外，亥姆霍兹线圈的尺寸越大，其对外界干扰越敏感，进而降低测量重复性。
[0003]为了减小外界磁性干扰带来的影响，可采用同轴的不同直径、相同匝面积，且感应方向相反的两组线圈组成的磁矩测量线圈系统，两组线圈的几何中心和轴线均重合，在磁矩测量线圈系统的实际制作过程中，通过理论计算得到的线圈匝面积，往往理论计算与实际制作的线圈差异较大，不能达到完全补偿的效果。
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高精度磁矩测量系统，包括探测线圈，所述探测线圈包括第一亥姆霍兹线圈和第二亥姆霍兹线圈，所述第一亥姆霍兹线圈和第二亥姆霍兹线圈反向串联，其特征在于，所述第一亥姆霍兹线圈和第二亥姆霍兹线圈之间设置有磁通计，所述第一亥姆霍兹线圈和第二亥姆霍兹线圈分开放置用以消除磁耦合且位于同一轴线上，所述第一亥姆霍兹线圈和第二亥姆霍兹线圈中磁通变化值相对较大的线圈上设置有可调电阻。2.根据权利要求1所述一种高精度磁矩测量系统，其特征在于，所述第一亥姆霍兹线圈和第二亥姆霍兹线圈的匝面积相同或者相近。3.根据权利要求1所述一种高精度磁矩测量系统，其特征在于，所述可调电阻为电位器、滑线电阻器、电阻箱或可变电阻器中的一种。4.一种高精度磁矩测量方法，其特征在于，包括以下步骤：a获取第一亥姆霍兹线圈和第二亥姆霍兹线圈分别得到磁通变化值；b选择磁通变化值较小的线圈作为测量试样磁矩的线圈，磁通变化值较大的线圈作为补偿外界磁场干扰的线圈，将可调电阻设置在补偿外界磁场干扰的线圈上；c通过调整所述可调电阻使得所述第一亥姆霍兹线圈和第二亥姆霍兹线圈磁通变化值相等用...
【专利技术属性】
技术研发人员：龚文杰，侯瑞芬，张志高，贺建，曹明星，林安利，杨天，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：
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