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本发明公开了一种高精度磁矩测量系统及方法，包括探测线圈、磁通计，所述探测线圈包括第一亥姆霍兹线圈和第二亥姆霍兹线圈，所述第一亥姆霍兹线圈和第二亥姆霍兹线圈反向串联，所述第一亥姆霍兹线圈和第二亥姆霍兹线圈之间设置有磁通计，所述第一亥姆霍兹线圈...
该专利属于中国计量科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量科学研究院授权不得商用。

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