半导体集成电路、控制方法及信息处理装置制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种半导体集成电路、控制方法及信息处理装置。所述半导体集成电路包括：电路块，其经由总线而连接到算术处理单元；电源噪声数据发生器，其被构造成通过对在使所述电路块操作的电源的电源电压中所产生的电源噪声进行转换来生成电源噪声数据信号；错误检测器，其被构造成对从所述电路块输出给所述总线的数据的错误进行检测；以及写入控制器，其被构造成，将基于所述电源噪声数据信号的电源噪声信息与所述总线上的数据相关联并将该数据写入存储单元中，并响应于所述错误检测器检测到错误而停止写入所述数据。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种半导体集成电路，包括：　电路块，其经由总线而连接到算术处理单元；　电源噪声数据发生器，其通过对在使所述电路块操作的电源的电源电压中所产生的电源噪声进行转换来生成电源噪声数据信号；　错误检测器，其对从所述电路块输出给所述 总线的数据的错误进行检测；以及　写入控制器，其将基于所述电源噪声数据信号的电源噪声信息与所述总线上的数据相关联并将该数据写入存储单元中，并响应于所述错误检测器检测到错误而停止写入所述数据。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：山本崇史，石塚孝治，植木俊和，大胁威，诸泽笃史，
申请(专利权)人：富士通株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]