基于BP神经网络的集成电路电参数处理方法技术

本发明专利技术公开了基于BP神经网络的集成电路电参数处理方法，包括：采集原有设备的参数数据；采集当前设备的参数数据；对所获取的原有设备以及当前设备的参数数据均进行标准化处理；对原有设备数据运用BP神经网络进行处理后拟合获得第一多项式曲线；对当前设备的数据运用BP神经网络进行回归处理，拟合得到第二多项式曲线；将当前设备和原有设备的数据点进行映射从而对当前设备的数据进行调整，然后对映射后的数据进行拟合处理，得到当前设备的拟合函数，根据原有设备的数据采用该拟合函数推断当前设备的数据；本发明专利技术的优点在于：统一测试参数限值标准，提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
基于BP神经网络的集成电路电参数处理方法


[0001]本专利技术涉及集成电路测试领域，具体涉及基于BP神经网络的集成电路电参数处理方法。

技术介绍

[0002]随着CMOS工艺水平的飞速发展，集成电路测试技术也随之快速发展，芯片的制造规模越来越大，电子元器件的密集程度和电路复杂性也不断提高，单个芯片上晶体管的集成数量呈指数增长，但先进的制造线程也带来了新的问题，故障类型和故障发生的可能性也随之增大，在对芯片进行测试时，测试人员通过收集电路性能参数等数据对芯片进行诊断，设置测试限值，筛选故障芯片。而行业内大多是对不同厂商不同电路的参数辨识方法或者参数提取方法，例如中国专利公开号CN114896943A公开的集成电路器件模型提取参数的数据选取方法、系统及装置。因此，行业内缺乏统一的国际标准来衡量测试参数和测试限值。
[0003]即使是具有相同测试功能而非同一生产厂商的测试设备，都是采用厂商自己的标准进行校准与测试。这种现象，导致了生产、设计、测试厂家在使用这些测试设备时，仅能对同一设备的测试数据进行数据的处理和分析，这也导致了测试设备间共同本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于BP神经网络的集成电路电参数处理方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤A、采集原有设备的参数数据；步骤B、采集当前设备的参数数据；步骤C、对所获取的原有设备以及当前设备的参数数据均进行标准化处理；步骤D、对原有设备数据运用BP神经网络进行处理后拟合获得第一多项式曲线；步骤E、对当前设备的数据运用BP神经网络进行回归处理，拟合得到第二多项式曲线；步骤F、将当前设备和原有设备的数据点进行映射从而对当前设备的数据进行调整，然后对映射后的数据进行拟合处理，得到当前设备的拟合函数，根据原有设备的数据采用该拟合函数推断当前设备的数据。2.根据权利要求1所述的基于BP神经网络的集成电路电参数处理方法，其特征在于，所述BP神经网络的激活函数为其中，x为输入BP神经网络的数据。3.根据权利要求1所述的基于BP神经网络的集成电路电参数处理方法，其特征在于，所述原有设备数据以及当前设备的数据运用BP神经网络进行处理的过程为：设置BP神经网络中的神经元的连接权重和阈值，将输入信号输入BP神经网络，向前传输，得到BP神经网络的输出结果。4.根据权利要求3所述的基于BP神经网络的集成电路电参数处理方法，其特征在于，运用BP神经网络进行数据处理还包括参数更新的过程：根据BP神经网络的输出层的输出结果，对照与之对应的期望结果，并计算其均方误差，若未达到期望值，则将输出结果进行反向传播，重新对BP神经网络的连接权重和阈值进行调整。5.根据权利要求4所述的基于BP神经网络的集成电路电参数处理方法，其特征在于，所述均方误差的计算公式为：其中，Y
i
为BP神经网络的输出层第i个神经元的输出结果，为BP神经网络的输出层第i个神经...

【专利技术属性】
技术研发人员：詹文法，张鲁萍，冯学军，潘盼，章礼华，吴兆旺，梁琦，陈庆庆，郑江云，蔡雪原，胡心怡，郝凯明，余储贤，
申请(专利权)人：安庆师范大学，
类型：发明
国别省市：