随机行走在电容抽取中的细粒度的并行处理方法技术

本发明专利技术提供了随机行走在电容抽取中的细粒度的并行处理方法，属于集成电路计算机辅助设计技术领域，其方法包括：生成实际电版图的线网几何包络，基于所述线网几何包络得到线网高斯面；在所述线网高斯面上进行随机采样，得到若干线网导线段；分别统计每个线网导线段的第一长度，并对第一长度按照细粒度标准进行切段，构造得到每个切段的等效RC电路；确定每个线网导线段中的切段数量，且结合处理器的允许最大处理数量，对不同线网导线段以及同线网导线段中的不同切段进行处理配置；对配置结果中包含的切段进行并行处理，获取所包含的每个等效RC电路的返回电容估计值。解决了网格边界的精度无法保证，影响最终电容结果的准确性的问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
随机行走在电容抽取中的细粒度的并行处理方法


[0001]本专利技术涉及集成电路计算机辅助设计
，特别涉及随机行走在电容抽取中的细粒度的并行处理方法。

技术介绍

[0002]目前，集成电路设计的流程一般先要进行软硬件划分，将设计基本分为两部分：芯片硬件设计和软件协同设计，在物理设计验证中，一个重要的环节称为寄生参数提取，为了提高计算精度，需要对电感、电容等参数进行更加准确的提取计算，但是现有的随机行走并行处理的方法网格边界的精度无法保证，影响最终电容结果的准确性的问题。
[0003]因此，本专利技术提出随机行走在电容抽取中的细粒度的并行处理方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供随机行走在电容抽取中的细粒度的并行处理方法，通过生成实际电版图的线网几何包络，并根据线网几何包络得到线网高斯面，在线网高斯面上进行随机采样，得到若干线网导线段，并对若干线网导线段按照细粒度标准进行切段，构造得到每个切段的等效RC电路，确定每个线网导线段中的切段数量，且结合处理器的允许最大处理数量，对不同切段进行处理配置，对配置结果中包含的切段进行并行处理，获取所包含的每个等效RC电路的返回电容估计值，解决了
技术介绍
中网格边界的精度无法保证，影响最终电容结果的准确性的问题。
[0005]本专利技术提出随机行走在电容抽取中的细粒度的并行处理方法，该方法包括：步骤1：生成实际电版图的线网几何包络，基于所述线网几何包络得到线网高斯面；步骤2：在所述线网高斯面上进行随机采样，得到若干线网导线段；步骤3：分别统计每个线网导线段的第一长度，并对第一长度按照细粒度标准进行切段，构造得到每个切段的等效RC电路；步骤4：确定每个线网导线段中的切段数量，且结合处理器的允许最大处理数量，对不同线网导线段以及同线网导线段中的不同切段进行处理配置；步骤5：对配置结果中包含的切段进行并行处理，获取所包含的每个等效RC电路的返回电容估计值。
[0006]优选的，生成实际电版图的线网几何包络，基于所述线网几何包络得到线网高斯面之前，还包括：获取电路中晶体管的特性参数，并根据晶体管的特性参数对晶体管进行分组；根据各组中晶体管的类型以及传输至晶体管各极的信号，对各组中的晶体管进行匹配以形成多个版图组；根据电路中晶体管之间的电连接关系、晶体管与信号线的电连接关系，对所述多个版图组中的部分晶体管进行层叠设置，并将多个版图组中的晶体管连接以形成与电路对
应的完整版图。
[0007]优选的，生成实际电版图的线网几何包络，基于所述线网几何包络得到线网高斯面，包括：获取实际电版图中每个导体的几何数据和位置数据；基于所述几何数据和位置数据生成实际电版图的线网几何包络；确定每个导体的电容；根据所述实际电版图的线网几何包络且基于每个导体的电容，得到线网高斯面。
[0008]优选的，在所述线网高斯面上进行随机采样，得到若干线网导线段，包括：将目标导体对应的高斯面按照预设规则划分为多个面积相等的面积元；将所有面积元分配给多个工作线程；在所述工作线程进行随机行走时，在工作线程所对应的面积元上进行随机采样，得到工作线程所对应的面积元上的采样点；基于相邻采样点的间隔得到若干线网导线段。
[0009]优选的，分别统计每个线网导线段的第一长度，并对第一长度按照细粒度标准进行切段，构造得到每个切段的等效RC电路，包括：测量每个线网导线段的第一长度并进行统计；根据细粒度标准确定切段的参考长度，根据参考长度将第一长度进行切段，获得多个第二长度；获取每个第二长度包含的电容和电阻参数；基于所述电容和电阻参数构造得到每个切段的等效RC电路。
[0010]优选的，确定每个线网导线段中的切段数量，且结合处理器的允许最大处理数量，对不同线网导线段以及同线网导线段中的不同切段进行处理配置，包括：统计每个线网导线段中的切段数量；根据处理器的允许最大处理数量和每个线网导线段中的切段数量，确定对于每个线网导线段的切段处理性能指数以及不同线网导线段的线段处理性能指数；获取不同处理性能指数对应的标准配置要求；根据所述标准配置要求，对不同线网导线段以及同线网导线段中的不同切段进行处理配置。
[0011]优选的，对配置结果中包含的切段进行并行处理，获取所包含的每个等效RC电路的返回电容估计值，包括：通过进程调度器对配置结果中包含的切段进行并行处理进程配置；检测在并行处理进程中切段的处理状态；若处理状态为正在处理，则继续等待直到处理状态为完成处理为止，若处理状态为完成处理，获取所包含的每个等效RC电路的返回电容估计值。
[0012]优选的，对不同切段进行处理配置之后，还包括：将处理配置数据与相应待处理线段输入到预设数据分析模型中，得到第一输出数据；将所述第一输出数据进行聚类处理，得到若干个数据类别；分别获取每一数据类别对应的数据属性，得到每一数据类别在所述第一输出数据
中的属性权重；分别获取每一数据类别对应的数据量，得到每一数据类别在所述第一输出数据中的含量权重；基于所述属性权重和含量权重，得到所述第一输出数据中每一数据段对应的数据可信度，利用所述数据可信度修正所述处理配置数据；当第一输出数据中含有数据可信度低于预设可信度的第一数据段时，判定所述处理配置数据不合理；获取可信度低于预设可信度的第一数据段，并在所述第一输出数据中标记所述第一数据段的第一位置；对所述处理配置数据进行反向分析，确定所标记的每个第一位置的第一数据段在所述处理配置数据中的第二位置，并获取所述第二位置的子配置数据；获取所述第二位置的标准数据规格与解析所述子配置数据得到的子数据规格的规格差，在预设数据库中查找所述子配置数据的不合理属性；基于所有不合格属性，对所述处理配置数据进行修正；当第一输出数据中不含有数据可信度低于预设可信度的数据段时，判定所述的处理配置数据合理。
[0013]与现有技术相比，本申请的有益效果如下：通过生成实际电版图的线网几何包络，并根据线网几何包络得到线网高斯面，在线网高斯面上进行随机采样，得到若干线网导线段，并对若干线网导线段按照细粒度标准进行切段，构造得到每个切段的等效RC电路，确定每个线网导线段中的切段数量，且结合处理器的允许最大处理数量，对不同切段进行处理配置，对配置结果中包含的切段进行并行处理，获取所包含的每个等效RC电路的返回电容估计值，解决了
技术介绍
中网格边界的精度无法保证，影响最终电容结果的准确性的问题。
[0014]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
[0015]下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
[0016]附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1为本专利技术实施例中随机行走在电容抽取中的细粒度的并行处理方法的流程图；图2为本专利技术实施例中获取完整版图的流程图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.随机行走在电容抽取中的细粒度的并行处理方法，其特征在于，该方法包括：步骤1：生成实际电版图的线网几何包络，基于所述线网几何包络得到线网高斯面；步骤2：在所述线网高斯面上进行随机采样，得到若干线网导线段；步骤3：分别统计每个线网导线段的第一长度，并对第一长度按照细粒度标准进行切段，构造得到每个切段的等效RC电路；步骤4：确定每个线网导线段中的切段数量，且结合处理器的允许最大处理数量，对不同线网导线段以及同线网导线段中的不同切段进行处理配置；步骤5：对配置结果中包含的切段进行并行处理，获取所包含的每个等效RC电路的返回电容估计值。2.根据权利要求1所述的随机行走在电容抽取中的细粒度的并行处理方法，其特征在于，生成实际电版图的线网几何包络，基于所述线网几何包络得到线网高斯面之前，还包括：获取电路中晶体管的特性参数，并根据晶体管的特性参数对晶体管进行分组；根据各组中晶体管的类型以及传输至晶体管各极的信号，对各组中的晶体管进行匹配以形成多个版图组；根据电路中晶体管之间的电连接关系、晶体管与信号线的电连接关系，对所述多个版图组中的部分晶体管进行层叠设置，并将多个版图组中的晶体管连接以形成与电路对应的完整版图。3.根据权利要求1所述的随机行走在电容抽取中的细粒度的并行处理方法，其特征在于，生成实际电版图的线网几何包络，基于所述线网几何包络得到线网高斯面，包括：获取实际电版图中每个导体的几何数据和位置数据；基于所述几何数据和位置数据生成实际电版图的线网几何包络；确定每个导体的电容；根据所述实际电版图的线网几何包络且基于每个导体的电容，得到线网高斯面。4.根据权利要求1所述的随机行走在电容抽取中的细粒度的并行处理方法，其特征在于，在所述线网高斯面上进行随机采样，得到若干线网导线段，包括：将目标导体对应的高斯面按照预设规则划分为多个面积相等的面积元；将所有面积元分配给多个工作线程；在所述工作线程进行随机行走时，在工作线程所对应的面积元上进行随机采样，得到工作线程所对应的面积元上的采样点；基于相邻采样点的间隔得到若干线网导线段。5.根据权利要求1所述的随机行走在电容抽取中的细粒度的并行处理方法，其特征在于，分别统计每个线网导线段的第一长度，并对第一长度按照细粒度标准进行切段，构造得到每个切段的等效RC电路，包括：测量每个线网导线段的第一长度并进行统计；根据细粒度标准确定切段的参考长度，根据参考长度将第一长度进行切段，获得多个第二长度；获取每个第二长度包含的...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙延辉，马胜军，孙玕，陈瑞，韦欣，袁鹏飞，李世密，
申请(专利权)人：青岛展诚科技有限公司，
类型：发明
国别省市：