调试电路制造技术

本发明专利技术提供一种调试电路，在变换块（１４０）中，把由选择块（１２０）输出的异常的原因解析中认为有效的多个内部信号，用从时间生成块（１３０）输出的信号进行栓锁，并变换为串行数据输出到输出块（１５０），因此，可以用少量的外部管脚观测ＬＳＩ内部的多个信号，可以迅速并且可靠地执行ＬＳＩ的动作异常的解析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种调试电路，特别是涉及在LSI(大规模集成电路) 的逻辑电路动作异常时调试LSI逻辑电路的时间(timing)的电路。
技术介绍
一般来说，LSI是把非常多的电路高密度地集成，所以不仅需要 在设计试制阶段保证各电路正常工作，而且还需要保证电路相互间的 动作。特别是由于在通往这些电路的信号线路上不可避免地伴随着传 播延迟等，所以有时会发生由于信号的时间离散(偏离)而产生动作 异常的情况。当产生异常时，需要进行调试，研究其原因并予以解决。作为现 有的LSI动作异常的调试技术，根据程序顺序和从连接在LSI外部端 子上的逻辑分析器等的测定器中的波形中观测得到的有限的信息推定 内部的状态，判断此状态理论上在设计数据中是否适宜。另外，还提出了这样的电路，即，把LSI内部的时间信号预先输 入多个选择电路，译码从LSI外部进行寄存器设定的寄存器的值输入 多个选择电路，可以从外部端子直接观测所希望的信号(例如，参照 专利文献l)。专利文献1_特开2000-259441号公报(第1-4页，图1)但是，在上述现有的技术中，在前者时，因为必须根据少量的信 息推定/假定LSI的内部状态，所以存在在LSI动作异常的原因调查中 需要花费许多时间这一问题。另外，对于后者，因为把LSI内部的信号照原样输出到外部，所以存在着为了解析原因而需要很多专用的外部管脚(pin)这一问题。而且，因为在内部时间信号中高速动作的信 号很多，所以为了在LSI外部观测，还存在需要与此速度相应的测量 器这一问题。另外，在内部时间信号单体中还存在着不能发生用于开 始解析问题的触发(trigger)这一 问题。
技术实现思路
本专利技术就是为了解决上述现有这一问题而提出的，其目的在于 提供一种调试电路，该调试电路包括选择电路以及可以从LSI外部改 写的寄存器，能高效率地选择逻辑电路内部的并行信号，并将其变换 为串行信号，据此可以以较少的外部管脚来观测LSI内部的多个状态。另外，本专利技术的目的在于提供一种通过对选择出的逻辑电路的 内部信号进行运算处理并输出数据，据此可以在解析时生成在设计阶 段没有设想的时间的触发信号的调试电路。另外，本专利技术的目的在于提供一种可以检测所选择出的逻辑电 路的内部高速信号的检测点，通过使该信号反转，或者变更该信号的 脉冲宽度，可以比较容易地取入高速变化的信号观测的调试电路。而且，本专利技术的目的在于提供一种把选择出的逻辑电路的内部 信号与由寄存器设定的值比较，通过把该结果输出到LSI外部，可以 以少量的外部管脚进行LSI内部的异常数据解析的调试电路。为了解决上述现有这一问题，本专利技术1所述的调试电路其特征在 于在调试包含实现所希望的逻辑功能的逻辑电路的LSI的功能的调 试电路中包括从由上述逻辑电路输出的多个时间信号或者多个状态 信号中，选择输出规定的信号的选择块；从由上述逻辑电路输出的多 个基准信号中选择规定的基准信号的时间生成块；把由上述选择块选 择的规定信号在从上述时间生成块输出的基准信号的时刻进行并行串 行变换，输出变换后的串行信号的变换块；把从上述变换块输出的串 行信号输出到外部的输出块。据此，因为可以把并行信号变换为串行信号输出，所以可以以少量的外部管脚观测非常多的LSI内部状态，不需要在LSI内部組装复 杂的电路，就可以比较简单可靠地进行调试。另外，本专利技术2所述的调试电路其特征在于在本专利技术l所述的 调试电路中，上述时间生成块包括可以从LSI外部改写的寄存器，并 以上述寄存器的值为基础进行从上述逻辑电路输出的多个基准信号的 选择。据此，即使LSI在动作中也可以自由地变更上述时间生成块的输 出信号，不需要在LSI内部组装复杂的电路，就可以比较简单可靠地 进行调试。本专利技术3所述的调试电路其特征在于在本专利技术1所述的调试电 路中，上述变换块和输出上述串行信号的时间同步，输出选通信号。据此，可以容易判断串行数据的有效范围，不需要在LSI内部组 装复杂的电路，就可以比较简单可靠地进行调试。本专利技术4所述的调试电路其特征在于在本专利技术1所述的调试电 路中，上述变换块在上述串行信号前或者后，或者前以及后附加规定 的基准信号来进行输出。据此，可以容易判断串行数据的有效范围，不需要在LSI内部组 装复杂的电路，就可以比较简单可靠地进行调试。本专利技术5所述的调试电路其特征在于在本专利技术1所述的调试电 路中，上述变换块包括从由上述选择块输出的信号中选择规定的信号 的选择电路，仅把由上述选择电路选择的信号进行并行串行变换输出 到上述输出块，把上述选择出的信号以外的信号照原样输出到上述输 出块。据此，例如，还可以分为调试详细的时间的信号和调试状态的信 号输出。可以以少量的外部管脚观测LSI内部的多个状态，不需要在 LSI内部组装复杂的电路，就可以比较简单可靠地进行调试。本专利技术6所述的调试电路其特征在于在本专利技术5所述的调试电 路中，上述变换块还包括可以从LSI外部改写的寄存器，上述选择电 路以上述寄存器的值为基础来进行从上述选择块输出的信号的选择。据此，即使在LSI动作中也可以自由地变更上述变换块的输出信 号，不需要在LSI内部组装复杂的电路，就可以比较简单可靠地进行 调试。本专利技术7所述的调试电路，其特征在于在调试包含实现所希望 的逻辑功能的逻辑电路的LSI的功能的调试电路中包括从由上述逻 辑电路输出的多个时间信号或者多个状态信号中选择规定的信号来进 行输出的选择块；逻辑运算用上述选择块选择的规定信号，把其结果 作为触发信号输出的触发信号生成块；把由上述选择块选择的规定信 号以及上述触发信号输出到外部的输出块。据此，可以生成在设计阶段未设想的时间的触发信号，不需要在 LSI内部组装复杂的电路，就可以比较筒单可靠地进行调试。本专利技术8所述的调试电路其特征在于在上述本专利技术7所述的调 试电路中，上述选择块包括多个可以从LSI外部改写的寄存器，以上述多个寄存器的值为基础分别单独地选择输出到上述触发信号发生块 的信号，和输出到上述输出块的信号输出。据此，还可以把在触发信号生成中使用的信号，以及此外的信号 输出到LSI外部，不需要在LSI内部组装复杂的电路，就可以比较简 单可靠地进行调试。本专利技术9所述的调试电路其特征在于在上述本专利技术7所述的调 试电路中，上述触发信号生成块包括可以从LSI外部改写的寄存器， 并以上述寄存器的值为基础，选择预先确定的逻辑运算模式内的一个 进行逻辑运算。据此，即使在LSI动作中也可以自由地变更上述触发信号生成块 的逻辑运算，不需要在LSI内部组装复杂的电路，就可以比较筒单可 靠地进行调试。本专利技术IO所述的调试电路，其特征在于在调试包含实现所希望 的逻辑功能的逻辑电路的LSI的功能的调试电路中包括从由上述逻 辑电路输出的多个时间信号或者多个状态信号中选择规定的信号来进 行输出的选择块；由上述选择块选择的每个规定的信号中检测变化点，在检测出的变化点上使上述规定的信号反转输出的变化点反转块；把 由上述变化点反转块变换的规定信号输出到外部的输出块。据此，可以比较容易地取入高速变化的信号，不需要在LSI内部 组装复杂的电路，就可以比较简单可靠地进行调试。本专利技术11所述的调试电路其特征在于在本专利技术10所述的调试 电路中，上述变化点反转块包括可以从L本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种调试电路，调试包含实现所希望逻辑功能的逻辑电路的ＬＳＩ的功能，其特征在于：包括：　从由上述逻辑电路输出的多个时间信号或者多个状态信号中选择规定信号来进行输出的选择块；　对由上述选择块选择出的规定信号的电平和由可以从ＬＳＩ外部 改写的第一寄存器设定的值进行比较判别，并输出其结果的信号电平判别块；和　把由上述选择块选择的规定信号以及上述电平判别结果输出到外部的输出块，　上述逻辑电路包括：　可以从ＬＳＩ外部改写的第二寄存器；和　根据上述第二寄存 器的值来进行多个时间信号、多个状态信号或者多个基准信号的选择的选择电路，　上述信号电平判别块对上述第一寄存器的多个位的电平和与各个位对应的、由上述选择块选择出的规定信号的电平进行比较，根据比较结果是否完全一致来变更输出。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：上田泰志，岡崎诚，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]