功耗检测方法、翻转次数检测电路及设备技术

本公开提供一种功耗检测方法、翻转次数检测电路及设备，涉及集成电路技术领域。该方法包括：获取处理芯片在仿真过程中的至少一个目标信号以及每个目标信号分别对应的功耗系数，功耗系数用于表示目标信号所代表的一类信号，在翻转时所对应的总耗电量；获取目标信号在处理芯片的运行过程中，单位时长内的翻转次数；根据每个目标信号分别对应的翻转次数和功耗系数，确定处理芯片在运行过程中的功耗。本公开实施例在运行过程中，仅需要检测信号的翻转次数即可检测到功耗，这样，可以有效降低功耗的检测时延。的检测时延。的检测时延。

【技术实现步骤摘要】
功耗检测方法、翻转次数检测电路及设备


[0001]本公开涉及集成电路
，尤其涉及一种功耗检测方法、翻转次数检测电路及设备。

技术介绍

[0002]在集成电路
中，常用的处理芯片可以包括但不限于：中央处理单元(central processing unit，CPU)、图像处理单元(graph processing unit，GPU)。为了提高处理芯片的性能，需要对处理芯片的多个性能参数进行测量，例如，测量处理芯片的功耗。
[0003]现有技术中，CPU和GPU通常通过输入输出(input/output，IO)系统连接，且CPU、GPU和IO系统集成在一块系统芯片(system on a chip，SOC)上。因此，可以在该SOC上设置传感器，以在SOC运行过程中，检测其中CPU和GPU在单位时长内的耗电量，作为它们各自的功耗。
[0004]然而，上述方案存在功耗检测时延较大的问题。

技术实现思路

[0005]本公开提供一种功耗检测方法、翻转次数检测电路及设备，用以降低功耗检测时延。<br/>[0006]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种功耗检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取处理芯片在仿真过程中的至少一个目标信号以及每个所述目标信号分别对应的功耗系数，所述功耗系数用于表示所述目标信号所代表的一类信号，在翻转时所对应的总耗电量；获取所述目标信号在所述处理芯片的运行过程中，单位时长内的翻转次数；根据每个所述目标信号分别对应的所述翻转次数和所述功耗系数，确定所述处理芯片在运行过程中的功耗。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取处理芯片在仿真过程中的至少一个目标信号以及每个所述目标信号分别对应的功耗系数，包括：对所述处理芯片进行仿真以获取所述处理芯片的各信号的时序，以及，获取所述处理芯片在仿真过程中的仿真功耗；选取至少一个信号作为至少一个当前目标信号，并为所述当前目标信号确定初始的当前功耗系数；通过所述仿真功耗、所述至少一个当前目标信号的时序和对应的所述当前功耗系数，拟合得到至少一个目标信号和对应的功耗系数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述拟合包括多轮迭代，所述通过所述仿真功耗、所述至少一个当前目标信号的时序和对应的所述当前功耗系数，拟合得到至少一个目标信号和对应的功耗系数，包括：在所述拟合的每轮迭代中，根据所述当前目标信号的时序确定所述当前目标信号在单位时长内的翻转次数；根据所述当前目标信号在单位时长内的翻转次数和对应的当前功耗系数，确定所述处理芯片的预测功耗；若所述预测功耗和所述仿真功耗不满足预设收敛条件，则对所述当前目标信号和/或所述当前功耗系数进行调整，以进行下一轮迭代，直至所述预测功耗和所述仿真功耗满足所述预设收敛条件时，将所述当前目标信号作为所述目标信号，以及，将所述当前功耗系数作为所述功耗系数。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述获取所述目标信号在所述处理芯片的运行过程中，单位时长内的翻转次数，包括：若所述目标信号为不受使能信号控制的独立信号，则在每个时钟周期检测到所述独立信号的至少一个比特出现电平翻转时，更新所述独立信号的翻转次数；若所述目标信号为使能信号控制的时钟信号，则在每个时钟周期检测到所述使能信号处于有效电平时，更新所述时钟信号的翻转次数。5.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述根据每个所述目标信号分别对应的所述翻转次数和所述功耗系数，确定所述处理芯片在运行过程中的功耗，包括：对于每个所述目标信号，通过所述目标信号的所述翻转次数和所述功耗系数，确定所述目标信号所代表的一类信号在所述单位时长内的总耗电量；将所有所述目标信号所代表的一类信号在所述单位时长内的总耗电量之和作为所述处理芯片在运行过程中的功耗。6.一种翻转次数检测电路，其特征在于，包括：至少一个翻转计数电路，每个所述翻转
计数电路对应一个目标信号；在所述目标信号为使能信号控制的时钟信号时，所述时钟信...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾凡，邢金璋，
申请(专利权)人：龙芯中科技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：