【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】切割胶带的张力异常检测装置和方法
[0001]本专利技术涉及切割胶带的张力异常检测装置及方法。
技术介绍
[0002]在半导体制造领域中,存在将硅晶圆等的半导体衬底(以下,称为“工件”)割断成晶片(chip)的工序,在该工序中,粘贴于工件上的切割胶带约束各个晶片的位置,由此能够高效地进行晶片的割断。
[0003]在专利文献1中记载了如下内容:通过粘贴用辊的加压力将扩展胶带E粘贴于吸附固定在工作台211上的晶圆W上。此外,附图标号是专利文献1的附图标号。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1:JP特开2013-4584号公报
技术实现思路
[0007]专利技术要解决的课题
[0008]然而,现状是,在使用新的切割胶带的场合,使样品工件粘贴于切割胶带上,操作者通过目视而确认其粘贴状态,由此进行包含切割胶带的张力在内的参数的调整。另外,同样在生产工艺中,操作者也根据粘贴有工件的切割胶带的粘贴状态,定期地通过目视来确认适当地保持了参数的情况。< ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种张力异常检测装置,其为粘贴有工件的切割胶带的张力异常检测装置,其特征在于,该张力异常检测装置包括:测定部,该测定部测定上述切割胶带的张力;以及判定部,该判定部在上述切割胶带的张力处于预先设定的上述切割胶带的张力的适当范围内的场合,判定为上述切割胶带的张力适当,在上述切割胶带的张力不处于上述适当范围内的场合,判定为上述切割胶带的张力异常。2.根据权利要求1所述的切割胶带的张力异常检测装置,其特征在于,上述测定部基于向上述切割胶带中的未粘贴上述工件的测定点喷射气体时的上述切割胶带的位移,测定上述测定点处的上述切割胶带的张力。3.根据权利要求2所述的切割胶带的张力异常检测装置,其特征在于,还具有校正部,该校正部在上述测定点处的上述切割胶带的张力偏离上述适当范围的场合,对上述工件的下一个上述工件所粘贴的切割胶带的张力进行校正。4.根据权利要求2或3所述的切割胶带的张力异常检测装置,其特征在于,上...
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