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循环渐进平坦化方法及用于该方法的半导体研磨清洁装置制造方法及图纸

技术编号:3900200 阅读:162 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种循环渐进平坦化方法及用于该方法的半导体研磨清洁装置,该研磨清洁装置包括有一底座体以及三个设置于该底座体上的刷头元件,该底座体的两端接合所述刷头元件,而该底座体两端之间接合有一个刷头元件,其中该三个刷头元件位于同一平面,且接合于该底座体两端的刷头元件的排列方向垂直于位于该底座体两端之间的刷头元件的排列方向。本发明专利技术在化学机械研磨制程中,提供清洁的功能;能与目前业界使用的化学机械研磨设备互相组装结合,故更方便使用;对于不同尺寸晶圆皆可应用本发明专利技术来加以清洁晶圆平坦研磨制程中的表面;本发明专利技术的渐进方式能精准控制晶圆表面平坦化的程度,降低操作控制成本,减少不必要的晶圆材料和研磨液的浪费。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种半导体研磨清洁装置,应用于化学机械研磨制程中,该半导体研磨清洁装置接触一晶圆的表面,以清洁该晶圆平坦研磨中的表面,其特征在于,该半导体研磨清洁装置包含有:一底座体;以及三个刷头元件,设置于所述底座体上,且其中二个刷头元件接合于所述底座体的两端,而剩余一个刷头元件接合于所述底座体上并位于所述底座体两端之间,其中该三个刷头元件皆位于同一平面并接触该晶圆的表面,且接合于所述底座体两端的刷头元件的排列方向垂直于位于所述底座体两端之间的刷头元件的排列方向。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈庆昌
申请(专利权)人:陈庆昌
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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