一种电路器件的重叠检测方法、装置、计算机设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种电路器件的重叠检测方法、装置、计算机设备及介质。其中，该方法包括：获取待检测的电路；确定电路中各器件对应的区域，以及各区域中每个检测单元的标记信息，在一个器件对应的区域中，每个检测单元均标识有器件对应的标记信息，每个器件均唯一对应有一个标记信息；根据各检测单元中标记信息的数量，确定电路的重叠检测结果。通过本发明专利技术，对电路器件进行重叠检测，降低计算的时间复杂度，提高检测效率。提高检测效率。提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种电路器件的重叠检测方法、装置、计算机设备及介质


[0001]本专利技术涉及电子
，尤其涉及一种电路器件的重叠检测方法、装置、计算机设备及介质。

技术介绍

[0002]在使用现有的电子设计自动化软件(Electronic design automation，EDA)进行电路器件布局设计过程中，若电路中的器件存在重叠，则有可能会引起严重的电路故障，进而导致电路烧毁。因此，需要对电路中的器件进行重叠检测。
[0003]现有技术中，通过遍历所有器件并且相互之间进行比较的方式，进行电路中器件的重叠检测。使用此方法虽然可以成功得到正确的检测结论，但其计算效率较低。当存在n个器件时，此传统方法的计算时间复杂度为O(n2)。因此，当电路设计的复杂度不断上升时，晶片及电阻电容等器件的数目也会不断增多，此传统方法所消耗的计算时间也会增大。

技术实现思路

[0004]为对电路器件进行重叠检测，降低重叠检测计算的时间复杂度，本专利技术提出了一种电路器件的重叠检测方法、装置、计算机设备及介质。
[0005]第一方面，本专利技术提供了一种电路器件的重叠检测方法，方法包括：
[0006]获取待检测的电路；
[0007]确定电路中各器件对应的区域，以及各区域中每个检测单元的标记信息，在一个器件对应的区域中，每个检测单元均标识有器件对应的标记信息，每个器件均唯一对应有一个标记信息；
[0008]根据各检测单元中标记信息的数量，确定电路的重叠检测结果。
[0009]考虑到在电路设计过程中，采用两两成对的方式对电路中的各个器件进行重叠检测，计算时间复杂度较大，随着器件的数量增多，一个电路的检测时长会不断加大，因此通过本专利技术实施例提供的方法，在获取待检测的电路之后，通过各器件在电路中的标记信息进行重叠检测，算法时间复杂度为O(n)，相对于现有技术来说，计算的时间复杂度降低，同时避免电路设计过程中由电路器件重叠引发电路故障的发生。
[0010]结合第一方面，在第一方面的第一实施例中，电路是根据器件处理指令对初始电路中的器件进行操作后得到的，器件处理指令包括放大指令，电路的获取步骤包括：
[0011]根据放大指令，对初始电路中的器件进行预设的放大处理，得到电路。
[0012]结合第一方面或第一方面的第一实施例，在第一方面的第二实施例中，电路是根据器件处理指令对初始电路中的器件进行操作后得到的，器件处理指令包括旋转指令，电路的获取步骤包括：
[0013]根据旋转指令，对初始电路中的器件进行旋转处理，得到电路。
[0014]结合第一方面，在第一方面的第三实施例中，根据各检测单元中标记信息的数量，确定电路的重叠检测结果，包括：
[0015]若存在同一检测单元对应至少两个标记信息，将对应有至少两个标记信息的检测单元划分为多个子检测单元，对各子检测单元进行重叠检测得到检测结果；
[0016]若不存在同一检测单元对应至少两个标记信息，将重叠检测结果确定为不存在重叠。
[0017]结合第一方面的第三实施例，在第一方面的第四实施例中，在确定出存在同一检测单元对应至少两个标记信息之后，将对应有至少两个标记信息的检测单元划分为多个子检测单元，对各子检测单元进行重叠检测得到检测结果之前，根据各检测单元中标记信息的数量，确定电路的重叠检测结果，还包括：
[0018]将检测次数加一，检测次数的初始值为零；
[0019]判断检测次数是否小于预设次数；
[0020]若检测次数小于预设次数，则执行将对应有至少两个标记信息的检测单元划分为多个子检测单元，对各子检测单元进行重叠检测得到检测结果的步骤。
[0021]结合第一方面的第四实施例，在第一方面的第五实施例中，根据各检测单元中标记信息的数量，确定电路的重叠检测结果，还包括：
[0022]若检测次数大于等于预设次数，则根据各子检测单元中所包含的各个坐标点对应的标记信息进行重叠检测。
[0023]结合第一方面的第五实施例，在第一方面的第六实施例中，根据各子检测单元中所包含的各个坐标点对应的标记信息进行重叠检测，包括：
[0024]若存在同一坐标点对应有至少两个标记信息，将重叠检测结果确定为存在重叠。
[0025]第二方面，本专利技术还提供了一种电路器件的重叠检测装置，该装置包括：
[0026]获取模块，获取待检测的电路；
[0027]第一确定模块，用于确定电路中各器件对应的区域，以及各区域中每个检测单元的标记信息，在一个器件对应的区域中，每个检测单元均标识有器件对应的标记信息，每个器件均唯一对应有一个标记信息；
[0028]第二确定模块，用于根据各检测单元中标记信息的数量，确定电路的重叠检测结果。
[0029]考虑到在电路设计过程中，采用两两成对的方式对电路中的各个器件进行重叠检测，计算时间复杂度较大，随着器件的数量增多，一个电路的检测时长会不断加大，因此通过本专利技术实施例提供的装置，在获取待检测的电路之后，通过各器件在电路中的标记信息进行重叠检测，算法时间复杂度为O(n)，相对于现有技术来说，计算的时间复杂度降低，同时避免电路设计过程中由电路器件重叠引发电路故障的发生。
[0030]第三方面，本专利技术还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器和处理器之间互相通信连接，存储器中存储有计算机指令，处理器通过执行计算机指令，从而执行第一方面或第一方面的任一实施例的电路器件的重叠检测方法的步骤。
[0031]第四方面，本专利技术还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现第一方面或第一方面的任一实施例的电路器件的重叠检测方法的步骤。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0033]图1是根据一示例性实施例提出的一种电路器件的重叠检测方法的流程图；
[0034]图2是在一示例中，电路中的各器件的边缘形状示意图；
[0035]图3是在一示例中，电路中器件A和器件B存在重叠的示意图；
[0036]图4是在一示例中，电路中器件C和器件D不存在重叠的示意图；
[0037]图5是在一示例中，将电路中检测单元1和检测单元2划分为子检测单元的示意图；
[0038]图6是在一示例中，电路中器件E和器件F在坐标点a处存在重叠的示意图；
[0039]图7为根据一示例性实施例提出的一种电路器件的重叠检测装置的结构示意图；
[0040]图8是根据一示例性实施例提出的一种计算机设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
[0041]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路器件的重叠检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测的电路；确定所述电路中各器件对应的区域，以及各所述区域中每个检测单元的标记信息，在一个器件对应的区域中，每个检测单元均标识有所述器件对应的标记信息，每个所述器件均唯一对应有一个标记信息；根据各检测单元中标记信息的数量，确定所述电路的重叠检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电路是根据器件处理指令对初始电路中的器件进行操作后得到的，所述器件处理指令包括放大指令，所述电路的获取步骤包括：根据所述放大指令，对所述初始电路中的器件进行预设的放大处理，得到所述电路。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述电路是根据器件处理指令对初始电路中的器件进行操作后得到的，所述器件处理指令包括旋转指令，所述电路的获取步骤包括：根据所述旋转指令，对所述初始电路中的器件进行旋转处理，得到所述电路。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各检测单元中标记信息的数量，确定所述电路的重叠检测结果，包括：若存在同一检测单元对应至少两个标记信息，将对应有至少两个标记信息的检测单元划分为多个子检测单元，对各所述子检测单元进行重叠检测得到检测结果；若不存在同一检测单元对应至少两个标记信息，将重叠检测结果确定为不存在重叠。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在确定出存在同一检测单元对应至少两个标记信息之后，所述将对应有至少两个标记信息的检测单元划分为多个子检测单元，对各所述子检测单元进行重叠检测得到检测结果之前，所述根据各检测单元中标记信息的数量，确定所述电路的重叠检测结果，还包括：将检测次数加一，所述检测次数的初始值为零...

【专利技术属性】
技术研发人员：王亮平，许荣峰，林哲民，
申请(专利权)人：上海奇普乐芯片科技有限公司，
类型：发明
国别省市：