一种触控装置的定位装置及其定位方法，其中触控装置具有多条扫描线。在定位方法中，首先感测这些扫描线上的电容值。接着，选取第ｉ扫描线以及其相邻的扫描线子集合所感测电容值。当第ｉ扫描线上的电容值大于扫描线子集合的电容值时，判断第ｉ扫描线上的电容值为波峰电容值。最后，依据波峰电容值及扫描线子集合的电容值计算触碰位置。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种定位装置及其定位方法，尤其涉及一种可提高触控装置定位触碰 位置的准确性的装置及其方法。
技术介绍
随着技术的日新月异，大多电子装置，例如笔记型计算机、手机或是可携式多媒 体播放器等电子装置，通常配置有触控面板，以取代传统键盘作为新一代的输入接口。触控 面板大致可区分为电阻式、电容式、红外线式及超音波式等，其中以电阻式触控面板与电容 式触控面板为最常见的产品。电容式触控面板为通过手指或导体材质靠近或触碰触控面 板，而使触控面板的电容值产生变化。当触控面板侦测到电容值变化时，便可判断出手指或 导体材质靠近或触碰的位置，并且执行触碰位置所对应的功能操作。电容式触控面板具有 多指触控的特性，可提供人性化地操作，因而逐渐受到市场的青睐。美国专利公告案号第5825352号提出一种多指接触感测方法，其采用电容值变化 曲线中的波峰及波谷来判断所触碰的位置。在此专利案中，先依序地将两相邻传感器所感 测的电容值进行比较，并且依据电容值变化的趋势为上升或下降来寻找波峰或波谷的位 置。当扫描完单一轴向上(例如X轴或Y轴)的传感器后，便储存所侦测到的波峰值及其 位置。倘若波峰值大于参考临界值时，便可判断此波峰的位置受到触碰。而将相邻波峰的 电容值及波峰值加以运算，便可得知多指于触控面板上的触碰位置。然而，触控面板在未受触碰的情况下，会因环境因素而使传感器所感测的电容值 有微小的噪声变化。上述处理程序为先侦测波峰及波谷再进行触碰的判断，因此噪声所引 起的电容值很可能被视为波峰而储存起来，再进一步地判断波峰的位置是否为触碰位置。 此时，对噪声所引起的电容值进行运算不仅浪费系统运算资源，也造成无谓的系统耗电。而 且，以往定位触碰位置的计算方法为依据传感器所感测的电容值来求得质心位置，以作为 触碰位置。对某一传感器而言，在触碰位置位于传感器中央及位于边界的情况下，传感器所 感测的电容值会有所不同，这也影响所计算的触碰位置的准确性。
技术实现思路
本专利技术提供一种，其可不受噪声影响而侦测扫 描线是否处于碰触状态，以降低触碰判断上的运算量。另外，依据扫描线所感测的电容值来 计算出长度值并据以计算触碰位置，以提高触控装置的定位准确性。本专利技术提出一种触控装置的定位方法，其中触控装置具有多条扫描线。首先，感测 所述扫描线上的电容值。接着，选取第i扫描线以及其相邻的扫描线子集合上所感测的电 容值。当第i扫描线上的电容值大于扫描线子集合的电容值，则判断第i扫描线上的电容 值为波峰电容值。依据波峰电容值及扫描线子集合的电容值计算触碰位置。在本专利技术一实施例中，上述依据波峰电容值及扫描线子集合的电容值计算触碰位 置的步骤更包括依据波峰电容值及扫描线子集合的第i+Ι电容值及第i_l电容值，分别计算出第i长度值、第i+ι长度值及第i-Ι长度值；当第i长度值小于次长度值与参考系数的加权值时，计算第i长度值及次长度值的第一权重和作为触碰位置，其中次长度值为第i-1 长度值及第i+ι长度值的最大值。在本专利技术一实施例中，上述依据波峰电容值及扫描线子集合的电容值计算触碰位 置的步骤更包括当第i长度值大于或等于次长度值与参考系数的加权值时，计算第i-Ι长 度值、第i长度值及第i+ι长度值的第二权重和作为触碰位置。本专利技术另提出一种触控装置的定位装置，其中触控装置具有多个传感器。此定位 装置包括多任务器及处理单元。多任务器耦接触控装置，用以选取第i扫描线以及其相邻 的扫描线子集合所分别感测的电容值。处理单元包括峰值检测器及位置检测器。峰值检测 器耦接多任务器。峰值检测器于第i扫描线大于扫描线子集合所感测的电容值，判断第i 扫描线所感测的电容值为波峰电容值。位置检测器耦接多任务器及峰值检测器。当第i扫 描线所感测的电容值为波峰电容值时，位置检测器依据波峰电容值及扫描线子集合的电容 值计算触碰位置。在本专利技术一实施例中，上述位置检测器依据波峰电容值及扫描线子集合的第i+1 电容值及第i-ι电容值，分别计算出第i长度值、第i+ι长度值及第i-ι长度值。当第i长 度值小于次长度值与参考系数的加权值时，位置检测器计算第i长度值及次长度值的第一 权重和作为触碰位置，其中次长度值为第i-ι长度值及第i+ι长度值的最大值。在本专利技术一实施例中，当第i长度值大于或等于次长度值与参考系数的加权值 时，位置检测器计算第i-Ι长度值、第i长度值及第i+ι长度值的第二权重和作为触碰位 置。上述定位方法及定位装置，在本专利技术一实施例中参考系数相关于触控工具的面 积。本专利技术将扫描线所感测的电容值与碰触临界值进行比较，以判断扫描线是否处于 碰触状态。由此，可以免除噪声所引起的电容值影响定位的不必要运算，以及降低系统运算 资源的消耗。另外，当处于碰触状态的扫描线所感测的电容值为波峰电容值时，便依据扫描 线及其相邻的扫描线子集合所感测的电容值计算出多个长度值，并据以计算触控位置。由 此，可提高触碰位置定位的准确性。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详 细说明如下。附图说明图1为本专利技术一实施例的一触控装置1的示意图；图2为本专利技术实施例图1中转换单元120所感测的电容值的示意图；图3为本专利技术一实施例的触控装置的定位方法的流程图；图4为本专利技术实施例图3中计算触碰位置的流程图；图5为本专利技术实施例图3中计算触碰位置的另一流程图；附图标记说明1-触控装置； 50-触控面板；10、20_菱形状电极；100-定位装置；110-多任务器； 120-转换单元；130-处理单元；131-碰触检测器；132-峰值检测器；133-位置检测器；210 213-移动窗口 ；A、B-触碰位置；Cth-碰触临界值；D (x, y)-坐标； S301 S304-本专利技术一实施例的触控装置的定位方法的步骤；S401 S403、S501 S503-本专利技术一实施例的计算触碰位置的步骤。具体实施例方式图1为本专利技术一实施例的一触控装置1的示意图。请参照图1，触控装置1包含一 触控面板50及一定位装置100。触控面板50为一电容式触控面板，其在X轴及Y轴上，以 轴交错方式(inter leaved)进行菱形状电极矩阵的配置。其中，X轴上每一扫描线CINO CIN7上的电极系电性导通，且Y轴上每一扫描线CIN8 CIN15上的电极亦是电性导通。定 位装置100包括多任务器110、转换器单元120以及处理单元130。多任务器110耦接触控面板50。当触控工具(例如手指或触控笔)接触到触控 面板50时，菱形状电极与触控工具形成电容耦合而使传感器所感测的电容值产生变化。因 此，当进行触控面板50的碰触侦测时，多任务器110便依据扫描顺序，依序地驱动转换单元 120感测各扫描线上的电容值。举例来说，扫描顺序依序地为扫描线CINO — CIN1. . . — CIN7 — CIN8 — CIN9. . . — CIN15 — CIN0...，经由侦测触碰 位置位于X轴及Y轴的坐标，便可以二维坐标定位触碰位置。转换单元120为一模拟数字转换器(analog to digital converter，ADC)，可以 为一电容数字转换器(capacitance to digital converter，CDC)，其耦接多任本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种触控装置的定位方法，其特征在于，其中所述触控装置具有多条扫描线，所述定位方法包括以下步骤：感测所述扫描线上的电容值；选取所述扫描线的一第ｉ扫描线以及其相邻的一扫描线子集合上所感测的电容值；当所述第ｉ扫描线上的电容值大于所述扫描线子集合的电容值，则判断所述第ｉ扫描线上的电容值为一波峰电容值；以及依据所述波峰电容值及所述扫描线子集合的电容值计算一触碰位置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：卢正隆，黄舜耕，
申请(专利权)人：联阳半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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