一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备技术方案

本发明专利技术提供一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备，包括：确定图像内的缺陷种类和位置；缺陷包括第一类缺陷和第二类缺陷，第一类缺陷为尺寸跨度未超出阈值且密集出现的缺陷，第二类缺陷为尺寸跨度超出阈值的缺陷；针对第一类缺陷内的任意一种缺陷，将密集的缺陷进行合并；针对第二类缺陷内的任意一种缺陷，将被重复标记或者分段标记的缺陷进行合并。本发明专利技术分别设计了不同的缺陷合并方式，将密集出现的缺陷或者被重复和分段识别的缺陷进行合并。此外，本发明专利技术设计了缺陷扩充的方式，以避免缺陷检测不完整，减少缺陷区域漏检的情况。本发明专利技术通过设计不同的缺陷合并和缺陷扩充，提高了缺陷检测的精度，实现了缺陷的精准识别。识别。识别。

【技术实现步骤摘要】
一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备


[0001]本专利技术属于铸造产品质量检测领域，更具体地，涉及一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备。

技术介绍

[0002]航空、航天、汽车、轨道交通、工程机械等行业重大装备用复杂铸件制造过程存在“关键质量点超差、质量波动大”等共性难题，导致我国重大装备可靠性、使用寿命无法满足要求，制约了制造强国的建立。
[0003]在铸件的生产过程中，难免会铸件缺陷的产生，例如夹杂、气孔、缩孔及缩松等。而在现有的缺陷智能检测过程中，由于部分缺陷跨度较大，如裂纹，可能会导致该处缺陷多次重复识别或分段识别，影响最终产品质量判断；或是部分缺陷尺度较小且密集出现，如高密度夹杂，会出现该处同类缺陷过于密集标记，影响检测质量的同时不利于后续人工审核工作的顺利进行；或某处缺陷检测结果不完整，部分缺陷区域漏检，影响检测精度。一种用于精准分类的探伤图像缺陷相近区域合并方法可在一定程度上解决上述问题，提高缺陷智能检测的质量，有利于实现缺陷的精准识别。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的缺陷，本专利技术的目的在于提供一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备，旨在解决现有铸件探伤图像的缺陷识别精度不高的问题。
[0005]为实现上述目的，第一方面，本专利技术提供了一种探伤图像缺陷的处理方法，包括以下步骤：
[0006]确定图像内的缺陷种类和位置；所述缺陷包括第一类缺陷和第二类缺陷，第一类缺陷为尺寸跨度未超出阈值且密集出现的缺陷，第二类缺陷为尺寸跨度超出阈值的缺陷；
[0007]针对第一类缺陷内的任意一种缺陷，以任意一个缺陷的标注框中心为圆心，对角线长为半径做圆，将圆内所有与圆重叠面积大于原标注框面积预设比例的标注框打上标签，并对打上标签的标注框重复上述做圆和打标签的操作，直至找不出能够打标签的标注框，之后构建一个最小标注框将所有打标签的标注框覆盖，以将第一类缺陷内的同种缺陷合并；
[0008]针对第二类缺陷内的任意一种缺陷，若任意两个缺陷标注框的最短距离小于面积相对较小标注框对角线长的预设比例，则将两个缺陷的标注框统一尺寸，之后分别计算标注框像素灰度的哈希值，并根据哈希值计算两个标注框的汉明距离；若某个缺陷标注框与至少一个标注框的汉明距离小于预设距离，则构建一个最小标注框将该缺陷的标注框与所有与其汉明距离小于预设值的标注框覆盖，以将第二类缺陷内的同种缺陷合并。
[0009]在一个可能的实现方式中，对同种缺陷进行合并之前或者合并之后，还包括如下步骤：
[0010]对于单个缺陷的标注框，将标注框的面积扩充，之后对扩充后的标注框进行缺陷
轮廓检测，若扩充后缺陷轮廓区域面积相比扩充前缺陷轮廓区域面积的第一比值超出预设比值，则将扩充后的标注框作为新的标注框，且重复上述标注框面积扩充、缺陷轮廓检测及缺陷轮廓面积对比操作，直至第一比值未超出预设比值；所述预设比值与标注框面积扩充的比例相关。
[0011]在一个可能的实现方式中，若在图像缺陷检测过程中，将图像划分为多个子图像进行缺陷检测，则先对各个子图像检测得到的缺陷进行上述同种缺陷合并和单个缺陷标注框扩充操作，之后将所有子图像合并得到完整图像，再对完整图像进行上述同种缺陷合并和单个标注框扩充操作。
[0012]在一个可能的实现方式中，若在图像缺陷检测过程中，将图像划分为多个子图像进行缺陷检测，则先对各个子图像检测得到的缺陷进行上述同种缺陷合并操作，之后将所有子图像合并得到完整图像，再对完整图像进行上述同种缺陷合并和单个标注框扩充操作。
[0013]在一个可能的实现方式中，若在图像缺陷检测过程中，将图像划分为多个子图像进行缺陷检测，则先将所有子图像合并得到完整图像，再对完整图像进行上述同种缺陷合并和单个标注框扩充操作。
[0014]在一个可能的实现方式中，所述汉明距离对应的预设距离与标注框统一尺寸的缩放尺度有关。
[0015]在一个可能的实现方式中，所述第一类缺陷包括：高密度夹杂缺陷和针孔缺陷；
[0016]第二类缺陷包括：孔松类缺陷、裂纹缺陷、气孔缺陷、低密度夹杂缺陷和偏析缺陷。
[0017]第二方面，本专利技术提供了一种探伤图像缺陷的处理系统，包括：
[0018]缺陷确定单元，用于确定图像内的缺陷种类和位置；所述缺陷包括第一类缺陷和第二类缺陷，第一类缺陷为尺寸跨度未超出阈值且密集出现的缺陷，第二类缺陷为尺寸跨度超出阈值的缺陷；
[0019]缺陷第一合并单元，用于针对第一类缺陷内的任意一种缺陷，以任意一个缺陷的标注框中心为圆心，对角线长为半径做圆，将圆内所有与圆重叠面积大于原标注框面积预设比例的标注框打上标签，并对打上标签的标注框重复上述做圆和打标签的操作，直至找不出能够打标签的标注框，之后构建一个最小标注框将所有打标签的标注框覆盖，以将第一类缺陷内的同种缺陷合并；
[0020]缺陷第二合并单元，用于针对第二类缺陷内的任意一种缺陷，若任意两个缺陷标注框的最短距离小于面积相对较小标注框对角线长的预设比例，则将两个缺陷的标注框统一尺寸，之后分别计算标注框像素灰度的哈希值，并根据哈希值计算两个标注框的汉明距离；若某个缺陷标注框与至少一个标注框的汉明距离小于预设距离，则构建一个最小标注框将该缺陷的标注框与所有与其汉明距离小于预设值的标注框覆盖，以将第二类缺陷内的同种缺陷合并。
[0021]在一个可能的实现方式中，该系统还包括：
[0022]缺陷扩充单元，用于对于单个缺陷的标注框，将标注框的面积扩充，之后对扩充后的标注框进行缺陷轮廓检测，若扩充后缺陷轮廓区域面积相比扩充前缺陷轮廓区域面积的第一比值超出预设比值，则将扩充后的标注框作为新的标注框，且重复上述标注框面积扩充、缺陷轮廓检测及缺陷轮廓面积对比操作，直至第一比值未超出预设比值；所述预设比值
与标注框面积扩充的比例相关。
[0023]第三方面，本专利技术提供一种电子设备，包括：至少一个存储器，用于存储程序；至少一个处理器，用于执行存储器存储的程序，当存储器存储的程序被执行时，处理器用于执行第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所描述的方法。
[0024]第四方面，本专利技术提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，当计算机程序在处理器上运行时，使得处理器执行第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所描述的方法。
[0025]第五方面，本专利技术提供一种计算机程序产品，当计算机程序产品在处理器上运行时，使得处理器执行第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所描述的方法。
[0026]总体而言，通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：
[0027]本专利技术提供一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备，针对尺寸跨度未超出阈值且密集出现的缺陷和尺寸跨度超出阈值的缺陷，分别设计了不同的缺陷合并方式，将密集出现的缺陷或者被重复和分段识别的缺陷进行合并。此外，本专利技术设计了缺陷扩充的方式，以避免缺陷检测不完整，减少缺陷区域漏检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探伤图像缺陷的处理方法，其特征在于，包括以下步骤：确定图像内的缺陷种类和位置；所述缺陷包括第一类缺陷和第二类缺陷，第一类缺陷为尺寸跨度未超出阈值且密集出现的缺陷，第二类缺陷为尺寸跨度超出阈值的缺陷；针对第一类缺陷内的任意一种缺陷，以任意一个缺陷的标注框中心为圆心，对角线长为半径做圆，将圆内所有与圆重叠面积大于原标注框面积预设比例的标注框打上标签，并对打上标签的标注框重复上述做圆和打标签的操作，直至找不出能够打标签的标注框，之后构建一个最小标注框将所有打标签的标注框覆盖，以将第一类缺陷内的同种缺陷合并；针对第二类缺陷内的任意一种缺陷，若任意两个缺陷标注框的最短距离小于面积相对较小标注框对角线长的预设比例，则将两个缺陷的标注框统一尺寸，之后分别计算标注框像素灰度的哈希值，并根据哈希值计算两个标注框的汉明距离；若某个缺陷标注框与至少一个标注框的汉明距离小于预设距离，则构建一个最小标注框将该缺陷的标注框与所有与其汉明距离小于预设值的标注框覆盖，以将第二类缺陷内的同种缺陷合并。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对同种缺陷进行合并之前或者合并之后，还包括如下步骤：对于单个缺陷的标注框，将标注框的面积扩充，之后对扩充后的标注框进行缺陷轮廓检测，若扩充后缺陷轮廓区域面积相比扩充前缺陷轮廓区域面积的第一比值超出预设比值，则将扩充后的标注框作为新的标注框，且重复上述标注框面积扩充、缺陷轮廓检测及缺陷轮廓面积对比操作，直至第一比值未超出预设比值；所述预设比值与标注框面积扩充的比例相关。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，若在图像缺陷检测过程中，将图像划分为多个子图像进行缺陷检测，则先对各个子图像检测得到的缺陷进行上述同种缺陷合并和单个缺陷标注框扩充操作，之后将所有子图像合并得到完整图像，再对完整图像进行上述同种缺陷合并和单个标注框扩充操作。4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，若在图像缺陷检测过程中，将图像划分为多个子图像进行缺陷检测，则先对各个子图像检测得到的缺陷进行上述同种缺陷合并操作，之后将所有子图像合并得到完整图像，再对完整图像进行上述同种缺陷合并和单个标注框扩充操作。5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，若在图像缺陷检测过程中，将图像划分为多个子图像进行缺陷检测，则...

【专利技术属性】
技术研发人员：李沁阳，吴楚澔，计效园，周圣智，李硕宏，董淏，李宁，殷亚军，周建新，高亮，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：发明
国别省市：