量程校准器和粉尘浓度测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开一种量程校准器和粉尘浓度测量仪，该量程校准器包括基座、校准组件以及光学组件；校准组件具有待校准的第一校准位置以及处于校准状态的第二校准位置，其在第一校准位置和第二校准位置之间可活动切换的设于基座；光学组件设于校准组件；粉尘浓度测量仪包括所述量程校准器。本实用新型专利技术的技术方案通过对粉尘浓度测量仪的测量光路进行量程校准，以提高其量程校准的便捷性和准确性。以提高其量程校准的便捷性和准确性。以提高其量程校准的便捷性和准确性。

【技术实现步骤摘要】
量程校准器和粉尘浓度测量仪


[0001]本技术涉及粉尘浓度测量仪的校准
，特别涉及一种量程校准器和粉尘浓度测量仪。

技术介绍

[0002]现有的粉尘浓度测量仪大多数采用光散射法，这些粉尘浓度测量仪在使用过程中，随着时间的推移，其上相关的光学元件会逐渐脏污。为了保证粉尘浓度测量仪测量的准确性，有必要定期对其测量光路进行量程校准。
[0003]目前常见的做法主要有：一是采用手工量程校准，主要难点在于比较难获得一致稳定的信号值，且量程校准必须去到现场，定期难度大，操作要求高；二是通过额外设置的激光器用于校准，这比较难实现完整测量光路的量程校准。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的是提出一种量程校准器，旨在对粉尘浓度测量仪的测量光路进行量程校准，以提高其量程校准的便捷性和准确性。
[0005]为实现上述目的，本技术提出的量程校准器，包括：
[0006]基座；
[0007]校准组件，所述校准组件具有待校准的第一校准位置以及处于校准状态的第二校准位置，所述校准组件在所述第一校准位置和所述第二校准位置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种量程校准器，其特征在于，包括：基座；校准组件，所述校准组件具有待校准的第一校准位置以及处于校准状态的第二校准位置，所述校准组件在所述第一校准位置和所述第二校准位置之间可活动切换的设于所述基座；光学组件，设于所述校准组件，所述光学组件用于对粉尘浓度测量仪的测量光路发出的光线进行衰减和散射；其中，所述校准组件用于在所述粉尘浓度测量仪的顶升组件输出量程校准动力时，能够自所述第一校准位置活动至所述第二校准位置，以带动所述光学组件自第一位置切换至第二位置；以及用于在所述顶升组件撤销量程校准动力时，能够自所述第二校准位置活动至所述第一校准位置，以带动所述光学组件自第二位置切换至第一位置。2.如权利要求1所述的量程校准器，其特征在于，所述光学组件包括：光学衰减件，设于所述校准组件，所述光学衰减件用于对所述测量光路发出的光线进行衰减；光学散射件，设于所述校准组件，所述光学散射件用于对所述测量光路发出的光线进行散射。3.如权利要求2所述的量程校准器，其特征在于，所述光学衰减件和所述光学散射件均为片状结构。4.如权利要求2所述的量程校准器，其特征在于，所述光学衰减件和所述光学散射件的数量可以设置为一个或多个。5.如权利要求1所述的量程校准器，其特征在于，所述校准组件包括：校准件，所述校准件具有所述第一校准位置以及所述第二校准位置，所述校准件在所述第一校准位置和所述第二校准位置之间可活动切换的设于所述基座，所述基座...

【专利技术属性】
技术研发人员：文新江，王勇平，但汉平，曾毛毛，
申请(专利权)人：深圳市正精达仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：