一种以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置、系统及方法，其通过使用待测电路板上既有的内部集成电路传递控制指令给通过待测电路板上的存储器连接接口与内部集成电路连接的测试装置，测试装置转换控制指令以测试所连接的存储器连接接口的技术手段，可以不使用外部连接线测试待测电路板上的存储器连接接口，并达成提高测试效率的技术功效。并达成提高测试效率的技术功效。并达成提高测试效率的技术功效。
【技术实现步骤摘要】
以电路板电路传送指令测试连接接口的装置、系统及方法
[0001]一种测试装置、系统及其方法，特别是指一种以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置、系统及方法。
技术介绍
[0002]工业4.0(Industry 4.0)，又称为第四次工业革命，其并不是单单创造新的工业技术，而是着重于将现有的工业技术、销售流程与产品体验统合，通过人工智能技术建立具有适应性、资源效率和人因工程学的智能工厂，并在商业流程及价值流程中整合客户以及商业伙伴，以提供完善的售后服务，进而建构出一个有感知意识的新型智能型工业世界。
[0003]随着工业4.0的浪潮袭卷全球，制造业者无不以智能制造优化生产转型，提升竞争力。智能制造是架构在感测技术、网络技术、自动化技术、与人工智能的基础上，通过感知、人机互动、决策、执行、与反馈的过程，来实现产品设计与制造、企业管理与服务的智能化。
[0004]而电子组装业薄利多销、产品价格竞争激烈的特性，让业者追求对原物料及生产工具更有效的管控与最佳化，促使工厂生产资源效益最大化。其中，在电子组装业的生产线上，必定包含各种电路板的测试环节，例如，当电路板为主机板时，也包含对于主机板上的存储器连接接口的测试。
[0005]目前对主机板上的存储器连接接口的测试方式中，其中一种是使用DummyDIMM作为测试装置以对存储器连接接口进行边界扫描测试。在进行边界扫描测试时，通常需要让所有测试装置的JTAG连接端口相互连接，因此，需要在各个测试装置间设置边界扫描的JTAG连接线。
[0006]而在实际的情况中，由于存储器的存储器连接接口间的空间位置较小，同时又连接了较多的JTAG连接线，导致在长时间测试后会可能导致连接中断的问题。同时，由于JTAG为串列信号，当JTAG连接端口越多，JTAG连接线会越长，且JTAG连接线上的数据通讯频率也会随的降低，因此，随着存储器的存储器连接接口的测试装置的数量的增加，JTAG通讯速率将会降低，导致测试时间增加。
[0007]综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在使用JTAG连接线对存储器连接接口进行边界扫描测试时的连线状况与测试时间都不稳定的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决这一问题。
技术实现思路
[0008]有鉴于现有技术存在使用JTAG连接线对存储器连接接口进行边界扫描测试时的连线状况与测试时间都不稳定的问题，本专利技术公开一种以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置、系统及方法，其中：
[0009]本专利技术所公开的以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置，至少包含：至少一接脚，用以连接待测电路板上与装置对应的存储器连接接口，且通过存储器连接接口与待测电路板上的内部集成电路连接，及用以通过内部集成电路传送装置所接收到的控制指
令至与连接于待测电路板上的其他相同装置；处理模块，用以转换控制指令为操作指令并执行操作指令以测试存储器连接接口。
[0010]本专利技术所公开的以电路板的电路传送指令测试连接接口的系统，至少包含：待测电路板，包含多个存储器连接接口，多个存储器连接接口通过内部集成电路相互连接，当控制指令被传送到内部集成电路时，内部集成电路传送控制指令至多个存储器连接接口；多个测试装置，每个测试装置与存储器连接接口连接，且每个测试装置包含至少一接脚，每个测试装置的至少一接脚通过内部集成电路相互连接，及用以通过内部集成电路接收控制指令，并转换控制指令为操作指令并执行操作指令以测试相连接的存储器连接接口。
[0011]本专利技术所公开的以电路板的电路传送指令测试连接接口的方法，其步骤至少包括：连接待测电路板与多个测试装置，待测电路板包含与多个测试装置对应的多个存储器连接接口，每个测试装置与存储器连接接口连接，且每个测试装置包含至少一接脚，每个测试装置的至少一接脚通过内部集成电路相互连接；当控制指令被传送到内部集成电路时，内部集成电路传送控制指令至各存储器连接接口，使各测试装置通过相连接的各存储器连接接口取得控制指令；每个测试装置转换控制指令为操作指令并执行操作指令以测试所连接的存储器连接接口。
[0012]本专利技术所公开的装置、系统及方法如上，与现有技术的间的差异在于本专利技术通过待测电路板上既有的内部集成电路传递控制指令给通过待测电路板上的存储器连接接口与内部集成电路连接的测试装置，测试装置转换控制指令以测试所连接的存储器连接接口，借以解决现有技术所存在的问题，并可以达成提高测试效率的技术功效。
附图说明
[0013]图1为本专利技术所提的以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置的元件示意图。
[0014]图2为本专利技术所提的待测电路板的元件示意图。
[0015]图3A为本专利技术所提的以电路板的电路传送指令测试连接接口的方法流程图。
[0016]图3B为本专利技术所提的测试装置转换控制指令以测试存储器连接接口的方法流程图。
[0017]其中，附图标号：
[0018]100测试装置
[0019]110连接件
[0020]111接脚
[0021]120处理模块
[0022]121控制单元
[0023]125可编程逻辑单元
[0024]190连接器
[0025]200待测电路板
[0026]210处理单元
[0027]220系统总线
[0028]230存储器连接接口
[0029]231～238存储器连接接口
[0030]410信号控制器
[0031]420存取控制器
[0032]步骤310连接待测电路板与测试装置，各测试装置间通过内部集成电路连接
[0033]步骤320
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通过内部集成电路传送控制指令至与测试装置连接的存储器连接接口，使测试装置取得控制指令
[0034]步骤330
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测试装置依据控制指令的目标接脚选择转换控制指令为操作指令并执行操作指令以测试相连接的存储器连接接口
[0035]步骤331
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测试装置转换控制指令为存取指令或测试指令
[0036]步骤333
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当控制指令为存取指令时，测试装置依据存取指令读取目标接脚的信号
[0037]步骤335
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当控制指令为测试指令时，测试装置依据测试指令发送测试信号至目标接脚中的输入接脚，并由目标接脚中的输出接脚取得结果信号
具体实施方式
[0038]以下将配合说明书附图及实施例来详细说明本专利技术的特征与实施方式，内容足以使任何本领域技术人员能够轻易地充分理解本专利技术解决技术问题所应用的技术手段并据以实施，藉此实现本专利技术可达成的功效。
[0039]本专利技术可以使用待测电路板上既有的内部集成电路总线(Inter
‑
IntegratedCircuit Bus,I2C，在本专利技术中也以“内部集成电路”表示)传递控制指令给与待测电路板连接的测试装置，使得测试装置本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种以电路板的电路传送指令测试连接接口的系统，该系统至少包含：一待测电路板，包含多个存储器连接接口及至少一内部集成电路，该多个存储器连接接口通过该内部集成电路相互连接，其中，当一控制指令被传送到该内部集成电路时，该内部集成电路传送该控制指令至该多个存储器连接接口；及多个测试装置，每一该测试装置与一该存储器连接接口连接，且每一该测试装置包含至少一接脚，每一该测试装置的该至少一接脚通过该内部集成电路相互连接，及用以通过该内部集成电路接收一控制指令，并依据与该控制指令对应的一目标接脚选择将该控制指令作为一操作指令或转换该控制指令为该操作指令，并执行该操作指令以测试相连接的一该存储器连接接口。2.如权利要求1所述的以电路板的电路传送指令测试连接接口的系统，其中，每一该测试装置还用以于该目标接脚属于该内部集成电路时转换该操作指令为相对应的一存取指令并依据该存取指令取得该目标接脚的信号，及于该目标接脚不属于该内部集成电路时转换该控制指令为与JTAG兼容的该操作指令，并依据该操作指令发送测试信号至该目标接脚中的输入接脚并由该目标接脚中的输出接脚取得结果信号。3.一种以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置，该装置至少包含：至少一接脚，用以连接一待测电路板上的一存储器连接接口，且通过该存储器连接接口与该待测电路板上的一内部集成电路连接，使该装置与连接于该待测电路板上的其他存储器连接接口的其他装置通过该内部集成电路相互连接，及用以接收被传送到该内部集成电路的一控制指令；及一处理模块，与该至少一接脚连接，用以依据与该控制指令对应的一目标接脚选择将该控制指令作为一操作指令或转换该控制指令为该操作指令，并执行该操作指令以测试该存储器连接接口。4.如权利要求3所述的以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置，其中，该处理模块还包含一控制单元及一可编程逻辑单元，该控制单元用以于该目标接脚属于该内部集成电路时将该控制指令作为操作指令，并于该目标接脚不属于该内部集成电路时转换该控制指令为与JTAG兼容的该操作指令，该可编程逻辑单元用以于该目标接脚属于该内部集成电路时转换该操作指令为相对应的一存取指令并依据该存取指令取得该目标接脚的信号，及于该目标接脚不属于该内部集成电路时，依据该操作指令发送测试信号至该目标接脚中的输入接脚并由该目标接脚中的输出接脚取得结果信号。5.如权利要求3所述的以电...
【专利技术属性】
技术研发人员：张天超，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司英业达集团天津电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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