测试非易失性存储器储存装置背板的系统及方法制造方法及图纸

技术编号:36974393 阅读:29 留言:0更新日期:2023-03-25 17:54
本发明专利技术公开了一种测试非易失性存储器储存装置背板的系统及方法,其通过测试控制装置产生第一信号并通过被测电路板(非易失性存储器储存装置背板)将第一信号传送到模拟装置,模拟装置中的信号处理元件接收第一信号并产生与第一信号相同的第二信号,及信号处理元件通过被测电路板传送第二信号至测试控制装置,使测试控制装置判断第二信号的比特错误率的技术手段,可以使用现有回送测试的架构对电路板进行高频信号的测试,并达成提高测试覆盖率的技术功效。的技术功效。的技术功效。

【技术实现步骤摘要】
测试非易失性存储器储存装置背板的系统及方法


[0001]本专利技术涉及一种测试系统及其方法,特别是指一种测试非易失性存储器储存装置背板的系统及其方法。

技术介绍

[0002]工业4.0(Industry 4.0),又称为第四次工业革命,其并不是单单创造新的工业技术,而是着重于将现有的工业技术、销售流程与产品体验统合,通过人工智能技术建立具有适应性、资源效率和人因工程学的智能工厂,并在商业流程及价值流程中整合客户以及商业伙伴,以提供完善的售后服务,进而建构出一个有感知意识的新型智能型工业世界。
[0003]随着工业4.0的浪潮袭卷全球,制造业者无不以智能制造优化生产转型,提升竞争力。智能制造是架构在感测技术、网络技术、自动化技术、与人工智能的基础上,通过感知、人机互动、决策、执行、与回馈的过程,来实现产品设计与制造、企业管理与服务的智能化。
[0004]而电子组装业薄利多销、产品价格竞争激烈的特性,让业者追求对原物料及生产工具更有效的管控与最佳化,促使工厂生产资源效益最大化。其中,在电子组装业的生产线上,必定包含各种电路板的测试环本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试非易失性存储器储存装置背板的方法,该方法至少包含下列步骤:连接测试控制装置与被测电路板及连接该被测电路板与模拟装置,该模拟装置包含信号处理元件,其中,该被测电路板为非易失性存储器储存装置背板;该测试控制装置产生第一信号并传送到该被测电路板,使该第一信号通过该被测电路板而被传送至该模拟装置;该信号处理元件接收该第一信号并产生与该第一信号相同的第二信号;该信号处理元件传送该第二信号至该被测电路板,使该第二信号通过该被测电路板而被传送至该测试控制装置;以及该测试控制装置接收该第二信号并判断该第二信号的比特错误率以产生该被测电路板的测试结果。2.根据权利要求1所述的测试非易失性存储器储存装置背板的方法,其特征在于,该信号处理元件产生与该第一信号相同的该第二信号的步骤,还包含该信号处理元件将该第一信号或该第二信号回送给该信号处理元件的步骤。3.根据权利要求1所述的测试非易失性存储器储存装置背板的方法,其特征在于,该方法还包含连接该测试控制装置与该模拟装置,该测试控制装置传送接收控制信号至该信号处理元件并通过该被测电路板传送第三信号至该信号处理元件,使该信号处理元件依据该接收控制信号接收该第三信号,及该测试控制装置传送发送控制信号至该信号处理元件,使该信号处理元件依据该发送控制信号通过该被测电路板传送第四信号至该测试控制装置,该测试控制装置依据该第四信号产生该被测电路板与该测试控制装置连接的所有引脚的通断检测结果的步骤。4.根据权利要求1所述的测试非易失性存储器储存装置背板的方法,其特征在于,该测试控制装置产生该第一信号的步骤为该测试控制装置所包含的信号产生元件产生差分信号的该第一信号。5.根据权利要求1所述的测试非易失性存储器储存装置背板的方法,其特征在于,该测试控制装置产生被测电路板的测试结果的步骤还包含该测试控制装置选择检测模式,并依据该测试模式产生对应的测试信号并传送该测试信号至该模拟装置,及依...

【专利技术属性】
技术研发人员:张天超
申请(专利权)人:英业达股份有限公司英业达集团天津电子技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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