一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪制造技术

本实用新型专利技术涉及集成电路测试仪技术领域，具体揭示了一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体顶部的左侧固定连接有控制按钮，所述测试仪本体的顶部固定连接有显示屏，所述测试仪本体顶部右侧的前侧和背侧均固定连接有支撑座，所述支撑座的内侧固定连接有活动轴。本实用新型专利技术通过防尘板围绕支撑座转动，此时防尘板转动于测试仪本体的右侧，通过防尘板的转动带动定位插杆移动，随后通过拉环带动拉板向外侧移动，通过拉板带动定位插杆移动，而定位插杆插入限位座的内部，达到了防尘功能的优点，解决了现有的精密电子工程用集成电路测试仪在使用时不具备防尘功能的问题。不具备防尘功能的问题。不具备防尘功能的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪


[0001]本技术涉及集成电路测试仪
，具体为一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪。

技术介绍

[0002]集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备，集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一，集成电路测试技术是发展集成电路产业集成电路产业的三大支撑技术之一，现有的精密电子工程用集成电路测试仪在使用时不具备防尘的功能，往往集成电路测试仪接口缺乏防护结构，以至于外界灰尘容易进入，从而影响集成电路测试仪灵敏度。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的不足，本技术提供一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪，具备防尘功能的优点，解决了现有的精密电子工程用集成电路测试仪在使用时不具备防尘的功能，往往集成电路测试仪接口缺乏防护结构，以至于外界灰尘容易进入，从而影响集成电路测试仪灵敏度的问题。
[0004]本技术的一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体顶部的左侧固定连接有控制按钮，所述测试仪本体的顶部固定连接有显示屏，所述测试仪本体顶部右侧的前侧和背侧均固定连接有支撑座，所述支撑座的内侧固定连接有活动轴，所述活动轴的表面活动连接有防尘板，所述防尘板底部的前侧和背侧均安装有连接块，所述连接块的底部固定连接有定位插杆，所述测试仪本体右侧底部的前侧和背侧均固定连接有限位座，所述限位座的内腔活动连接有固定板，所述固定板的内腔开设有定位孔，所述定位插杆的外侧贯穿至定位孔的内腔并与定位孔的内部呈插接连接。/>[0005]本技术的一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪，其中所述测试仪本体底部的两侧均固定连接有连接杆，所述连接杆的底部固定连接有支座，所述支座的底部设有防滑纹。
[0006]本技术的一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪，其中所述固定板的右侧固定连接有推杆，所述推杆的右侧贯穿至限位座的右侧并固定连接有推板，所述限位座内壁的右侧开设有开槽，所述开槽的内壁与推杆的表面活动连接。
[0007]本技术的一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪，其中所述限位座内腔的一侧开设有插槽，所述插槽的直径大于定位插杆的直径，且插槽的内腔与定位插杆的表面活动连接。
[0008]本技术的一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪，其中所述定位插杆的内侧固定连接有拉板，所述拉板的内侧固定连接有拉环。
[0009]本技术的一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪，其中所述连接块的顶部固定连接有滑块，所述防尘板内壁的底部开设有横槽，所述横槽的内壁与滑块的顶
部滑动连接。
[0010]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0011]1、本技术通过防尘板围绕支撑座转动，此时防尘板转动于测试仪本体的右侧，通过防尘板的转动带动定位插杆移动，随后通过拉环带动拉板向外侧移动，通过拉板带动定位插杆移动，而定位插杆插入限位座的内部，达到了防尘功能的优点，解决了现有的精密电子工程用集成电路测试仪在使用时不具备防尘的功能，往往集成电路测试仪接口缺乏防护结构，以至于外界灰尘容易进入，从而影响集成电路测试仪灵敏度的问题。
[0012]2、本技术通过插槽的设置，减少了定位插杆与限位座之间的摩擦力，使定位插杆能够顺利的插入限位座的内部，通过推板和推杆的设置，方便对固定板的位置进行推动，从而方便将固定板和定位插杆进行连接。
附图说明
[0013]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0014]图1为本技术结构示意图；
[0015]图2为本技术测试仪本体结构的右视图；
[0016]图3为本技术限位座结构的剖视图。
[0017]图中：1、测试仪本体；2、限位座；3、显示屏；4、支座；5、连接杆；6、控制按钮；7、支撑座；8、防尘板；9、推板；10、推杆；11、拉环；12、横槽；13、活动轴；14、滑块；15、开槽；16、定位插杆；17、拉板；18、连接块；19、固定板；20、插槽；21、定位孔。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]请参阅图1
‑
3，本技术的一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪，包括测试仪本体1，测试仪本体1顶部的左侧固定连接有控制按钮6，测试仪本体1的顶部固定连接有显示屏3，测试仪本体1顶部右侧的前侧和背侧均固定连接有支撑座7，支撑座7的内侧固定连接有活动轴13，活动轴13的表面活动连接有防尘板8，防尘板8底部的前侧和背侧均安装有连接块18，连接块18的底部固定连接有定位插杆16，测试仪本体1右侧底部的前侧和背侧均固定连接有限位座2，限位座2的内腔活动连接有固定板19，固定板19的内腔开设有定位孔21，定位插杆16的外侧贯穿至定位孔21的内腔并与定位孔21的内部呈插接连接。
[0020]测试仪本体1底部的两侧均固定连接有连接杆5，连接杆5的底部固定连接有支座4，支座4的底部设有防滑纹。
[0021]固定板19的右侧固定连接有推杆10，推杆10的右侧贯穿至限位座2的右侧并固定连接有推板9，限位座2内壁的右侧开设有开槽15，开槽15的内壁与推杆10的表面活动连接，通过推板9和推杆10的设置，方便对固定板19的位置进行推动，从而方便将固定板19和定位插杆16进行连接。
[0022]限位座2内腔的一侧开设有插槽20，插槽20的直径大于定位插杆16的直径，且插槽20的内腔与定位插杆16的表面活动连接，通过插槽20的设置，减少了定位插杆16与限位座2之间的摩擦力，使定位插杆16能够顺利的插入限位座2的内部。
[0023]定位插杆16的内侧固定连接有拉板17，拉板17的内侧固定连接有拉环11。
[0024]连接块18的顶部固定连接有滑块14，防尘板8内壁的底部开设有横槽12，横槽12的内壁与滑块14的顶部滑动连接。
[0025]在使用本技术时：首先通过防尘板8围绕支撑座7转动，此时防尘板8转动于测试仪本体1的右侧，通过防尘板8的转动带动定位插杆16移动，随后通过拉环11带动拉板17向外侧移动，通过拉板17带动定位插杆16移动，通过定位插杆16的移动带动连接块18移动，通过连接块18的移动带动滑块14在横槽12的内部滑动，随后定位插杆16插入限位座2的内部，最后通过推板9推动推杆10向内侧移动，而推杆10在开槽15的内部滑动，通过推杆10的移动带动固定板19移动，通过固定板19的移动带动定位孔21移动，此时本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪，包括测试仪本体（1），其特征在于：所述测试仪本体（1）顶部的左侧固定连接有控制按钮（6），所述测试仪本体（1）的顶部固定连接有显示屏（3），所述测试仪本体（1）顶部右侧的前侧和背侧均固定连接有支撑座（7），所述支撑座（7）的内侧固定连接有活动轴（13），所述活动轴（13）的表面活动连接有防尘板（8），所述防尘板（8）底部的前侧和背侧均安装有连接块（18），所述连接块（18）的底部固定连接有定位插杆（16），所述测试仪本体（1）右侧底部的前侧和背侧均固定连接有限位座（2），所述限位座（2）的内腔活动连接有固定板（19），所述固定板（19）的内腔开设有定位孔（21），所述定位插杆（16）的外侧贯穿至定位孔（21）的内腔并与定位孔（21）的内部呈插接连接。2.根据权利要求1所述的一种精密电子工程用反应灵敏的集成电路测试仪，其特征在于：所述测试仪本体（1）底部的两侧均固定连接有连接杆（5），所述连接杆（5）的底部固定连接有支座（4），所述支座（4）的底部设有防滑纹。3.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：董红，
申请(专利权)人：上海开研生物科技有限公司，
类型：新型
国别省市：