一种基于三维重建的屏幕检测方法、装置及相关介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于三维重建的屏幕检测方法、装置及相关介质，该方法包括：基于结构光原理，采用投影光源对待检测的屏幕投射光线，得到所述屏幕表面的深度信息；通过三维图像重建技术将所述深度信息转换为三维点云模型；根据所述三维点云模型对所述屏幕进行缺陷识别与检测。本发明专利技术基于三维机器视觉，采用结构光原理获取屏幕表面的深度信息，并通过三维图像重建技术将深度信息转换成三维模型，从而大大提高了检测的精度和准确性，同时还可以避免遮挡、反光、透射等问题，因此可以更加准确地识别和检测屏幕缺陷。识别和检测屏幕缺陷。识别和检测屏幕缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种基于三维重建的屏幕检测方法、装置及相关介质


[0001]本专利技术涉及屏幕检测
，特别涉及一种基于三维重建的屏幕检测方法、装置及相关介质。

技术介绍

[0002]当前的屏幕检测技术一般采用二维摄像机进行检测，但是二维摄像机只能获取到屏幕的平面图像，也就是说，无法获取屏幕表面的深度信息。因此在检测屏幕表面非常细微的缺陷时，例如像素坏点、颜色偏差等问题，由于采集到的图像是二维图像，因此最终的检测精度会受到很大的限制。此外，现有的二维摄像机检测方法还会受到光线反射、遮挡等因素的影响，这些影响因素同样会使最终的检测结果产生误差。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供了一种基于三维重建的屏幕检测方法、装置、计算机设备及存储介质，旨在提高提高对于屏幕检测的精度。
[0004]第一方面，本专利技术实施例提供了一种基于三维重建的屏幕检测方法，包括：
[0005]基于结构光原理，采用投影光源对待检测的屏幕投射光线，得到所述屏幕表面的深度信息；
[0006]通过三维图像重建技术将所述深度信息转换为三维点云模型；
[0007]根据所述三维点云模型对所述屏幕进行缺陷识别与检测。
[0008]第二方面，本专利技术实施例提供了一种基于三维重建的屏幕检测装置，包括：
[0009]光线投射单元，用于基于结构光原理，采用投影光源对待检测的屏幕投射光线，得到所述屏幕表面的深度信息；
[0010]三维重建单元，用于通过三维图像重建技术将所述深度信息转换为三维点云模型；
[0011]缺陷检测单元，用于根据所述三维点云模型对所述屏幕进行缺陷识别与检测。
[0012]第三方面，本专利技术实施例提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的基于三维重建的屏幕检测方法。
[0013]第四方面，本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述的基于三维重建的屏幕检测方法。
[0014]本专利技术实施例提供了一种基于三维重建的屏幕检测方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法包括：基于结构光原理，采用投影光源对待检测的屏幕投射光线，得到所述屏幕表面的深度信息；通过三维图像重建技术将所述深度信息转换为三维点云模型；根据所述三维点云模型对所述屏幕进行缺陷识别与检测。本专利技术实施例基于三维机器视觉，采用结构光原理获取屏幕表面的深度信息，并通过三维图像重建技术将深度信息转换成三维
模型，从而大大提高了检测的精度和准确性，同时还可以避免遮挡、反光、透射等问题，因此可以更加准确地识别和检测屏幕缺陷。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本专利技术实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1为本专利技术实施例提供的一种基于三维重建的屏幕检测方法的流程示意图；
[0017]图2为本专利技术实施例提供的一种基于三维重建的屏幕检测方法的子流程示意图；
[0018]图3为本专利技术实施例提供的一种基于三维重建的屏幕检测装置的示意性框图；
[0019]图4为本专利技术实施例提供的一种基于三维重建的屏幕检测装置的子示意性框图。
具体实施方式
[0020]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0021]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0022]还应当理解，在此本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0023]还应当进一步理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0024]下面请参见图1，图1为本专利技术实施例提供的一种基于三维重建的屏幕检测方法的流程示意图，具体包括：步骤S101～S103。
[0025]S101、基于结构光原理，采用投影光源对待检测的屏幕投射光线，得到所述屏幕表面的深度信息；
[0026]S102、通过三维图像重建技术将所述深度信息转换为三维点云模型；
[0027]S103、根据所述三维点云模型对所述屏幕进行缺陷识别与检测。
[0028]本实施例在对屏幕进行检测时，首先基于结构光原理获取屏幕表面的深度信息，然后利用三维图像重建技术将深度信息转换为三维点云模型，从而根据三维点云模型实现屏幕的缺陷检测。
[0029]本实施例采用结构光原理，通过向屏幕表面投射特定的光纹，然后利用三维摄像机对反射的光纹进行捕捉和处理，以获取屏幕表面的深度信息和物体轮廓。该技术具有高精度、高效率、非接触性、自动化等特点，可以广泛应用于屏幕质量检测、显示器校准、光学设计等领域，具有重要的应用价值和发展前景。
[0030]此外，本实施例还可以通过算法优化和硬件优化等方式，降低成本并提高检测效
率，使整个系统更加经济实用。另外，本实施例所提供的方法具有自动化、非接触性等特点，不需要人工干预即可自动进行检测，如此可以大大提高屏幕检测的效率和精度。也就是说，与现有技术相比，本实施例具有更高的精度、更强的适应性、更低的成本、更广泛的应用范围以及更高的自动化程度等优点，可以为屏幕质量检测、显示器校准、光学设计等领域提供更加高效、精准的解决方案。
[0031]在一实施例中，如图2所示，所述步骤S101包括：步骤S201～S203。
[0032]S201、向所述屏幕投射预设图案；其中，所述预设图案包括条纹图像、格子图案；
[0033]S202、通过摄像机捕获所述屏幕反射或散射的光线图案；
[0034]S203、对所述光线图案进行形变分析，计算得到所述屏幕表面的深度信息。
[0035]本实施例在采用结构光原理进行屏幕检测时，首先通过向屏幕的表面发射预设图案，然后利用屏幕表面产生的光反射、散射和衍射等现象，获取得到屏幕表面的深度信息。在这里，结构光的方法能够利用投射特定图案的光线照射至屏幕表面，并通过摄像机捕捉反射或散射回来的光线图案，从而计算出屏幕表面的深度信息。本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于三维重建的屏幕检测方法，其特征在于，包括：基于结构光原理，采用投影光源对待检测的屏幕投射光线，得到所述屏幕表面的深度信息；通过三维图像重建技术将所述深度信息转换为三维点云模型；根据所述三维点云模型对所述屏幕进行缺陷识别与检测。2.根据权利要求1所述的基于三维重建的屏幕检测方法，其特征在于，所述基于结构光原理，采用投影光源对待检测的屏幕投射光线，得到所述屏幕表面的深度信息，包括：向所述屏幕投射预设图案；其中，所述预设图案包括条纹图像、格子图案；通过摄像机捕获所述屏幕反射或散射的光线图案；对所述光线图案进行形变分析，计算得到所述屏幕表面的深度信息。3.根据权利要求1所述的基于三维重建的屏幕检测方法，其特征在于，所述基于结构光原理，采用投影光源对待检测的屏幕投射光线，得到所述屏幕表面的深度信息之前，包括：获取所述屏幕的屏幕信息；其中，所述屏幕信息包括屏幕类型和屏幕检测要求；根据所述屏幕信息对所述投影光源进行亮度和颜色标定；所述基于结构光原理，采用投影光源对待检测的屏幕投射光线，得到所述屏幕表面的深度信息，还包括：对所述屏幕反射或散射的光线进行监测；并根据监测结果对所述投影光源的亮度和颜色进行自适应调整。4.根据权利要求3所述的基于三维重建的屏幕检测方法，其特征在于，所述通过三维图像重建技术将所述深度信息转换为三维点云模型，包括：将所述深度信息转换为点云数据；根据所述屏幕信息确定场景尺寸和体素化大小；将所述点云数据插入到八叉树中；对所述八叉树中的节点采用离散化的方式进行表示，并从根节点到叶子节点遍历整个八叉树，然后将体素化后的坐标进行读取与输出，以构建得到所述三维点云模型。5.根据权利要求1所述的基于三维重建的屏幕检测方法，其特征在于，所述根据所述三维点云模型对所述屏幕进行缺陷识别与检...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁克，丁兢，陆俊君，李翔，马洁，王丰，叶闯，张成，林锦辉，胡财荣，刘芊伟，淳豪，张敏，王凯，
申请(专利权)人：香港科技大学深港协同创新研究院深圳福田，
类型：发明
国别省市：