产品验证系统技术方案

本发明专利技术揭露一种产品验证系统，包括一第一机台以及一第二机台。第一机台为操作端，具有一第一红外线收发模块。第二机台为测试端，具有一第二红外线收发模块。第一红外线收发模块与第二红外线收发模块实现红外线传输，负责第一机台与第二机台之间的通讯。本发明专利技术可大幅降低系统复杂度，并解决实体传输线路维修不易的问题，以及减少射频噪声干扰或天线效应的产生，有效提高测试品品质。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关于一种测试系统，特别关于一种产品验证系统。
技术介绍
半导体晶圆在分割为晶粒前通常需要一验证作业，以筛除坏掉的晶粒，减少无谓 的封装成本。此验证作业一般包括晶圆测试(wafer probe)，对晶片上的每个晶粒进行针测，在 检测头装上以金线制成的细如毛发的探针(probe)，与晶粒上的接点(pad)接触，测试其电 气特性，不合格的晶粒会被标上记号，而后当晶片依晶粒为单位切割成独立的晶粒时，标有 记号的不合格晶粒会被淘汰，不再进行下一个制程，以免徒增制造成本。本专利技术提供实现上述晶圆验证作业的测试系统。
技术实现思路
本专利技术揭露的产品验证系统包括一第一机台以及一第二机台。第一机台为操作 端，其中包括一第一红外线收发模块、一第一控制单元以及一储存单元。第二机台为测试 端，耦接一待测产品。第二机台包括一第二红外线收发模块以及一第二控制单元。第一红外线收发模块与第二红外线收发模块负责第一机台与第二机台之间的通 讯。第一控制单元提供的一测试命令将由第一红外线收发模块发送至第二红外线收发模 块，再由第二红外线收发模块传送至第二控制单元。根据测试命令，第二控制单元测试该待 测产品，以获得测试数据。测试数据将由第二红外线收发模块发送至第一红外线收发模块， 再传送至第一控制单元，由第一控制单元储存于储存单元。储存单元内的测试数据可供后 续分析使用。本专利技术提供一种产品验证系统，包括一第一机台，用以控制该产品验证系统的操 作；一第二机台，耦合至该第一机台，根据该第一机台所传送的一测试命令对一待测产品进 行一测试程序，并产生一测试数据，传送至该第一机台；以及其中该第一机台与该第二机台 的传输是利用红外线方式。本专利技术所述的产品验证系统，该第一机台包括一第一红外线收发模块，用以传送 该测试命令或接收该测试数据；一第一控制单元，通过该第一红外线收发模块，提供该测试 命令至该第二机台；以及一储存单元，储存自该第二机台所传送的该测试数据。本专利技术所述的产品验证系统，该第二机台包括一第二红外线收发模块，用以传送 该测试数据或接收该测试命令；一第二控制单元，耦合于该第二红外线收发模块，根据所接 收的该测试命令，测试该待测产品，并产生该测试数据。本专利技术所述的产品验证系统，该第一控制单元的数据传输形式为并行传输 (parallel communication)0本专利技术所述的产品验证系统，该第一红外线收发模块包括一第一并行-串行转 换模块，耦合该第一控制单元，将该测试命令由并行传输形式转换为一串行传输形式；一第一发送端运算单元，接收串行传输形式的该测试命令，将串行传输形式的该测试命令载入 识别码并进行一红外线调变；以及一第一红外线发送器，耦合该第一发送端运算单元，以发 送上述红外线调变后的该测试命令。本专利技术所述的产品验证系统，该第一红外线收发模块还包括一第一红外线接收 器，接收该测试数据；一第一接收端运算单元，耦合于该第一红外线接收器，以解调并判断 该测试数据；以及一第一串行_并行转换模块，耦合该第一接收端运算单元，将该测试数据 由串行传输形式转换为并行传输形式。本专利技术所述的产品验证系统，该第二控制单元的数据传输形式为并行传输。本专利技术所述的产品验证系统，该第二红外线收发模块包括一第二红外线接收器， 用以接收该测试命令；一第二接收端运算单元，解调并判断该测试命令，以取得串行传输形 式的该测试命令；以及一第二串行_并行转换模块，将串行传输形式的该测试命令转换为 并行传输形式。本专利技术所述的产品验证系统，该第二红外线收发模块包括一第二并行_串行转 换模块，耦合该第二控制单元，将并行传输形式的该测试数据转换为串行传输形式；一第二 发送端运算单元，对上述串行传输形式的该测试数据载入识别码且进行一红外线调变；以 及一第二红外线发送器，耦接该第二发送端运算单元，以发送上述经红外线调变后的该测 试数据。本专利技术所述的产品验证系统，该待测产品包括半导体晶圆的晶粒或已切割的晶 粒。本专利技术所述的产品验证系统，该测试程序包括电气特性测试或晶圆测试(wafer probe)0本专利技术还提供一种产品验证系统，包括一第一机台，用以控制该产品验证系统的 操作，该第一机台包括一第一红外线收发模块，用以传送或接收信号；一第一控制单元， 提供一测试命令，通过该第一红外线收发模块，发送该测试命令至外部；以及一储存单元， 用以储存该第一红外线收发模块所接收的数据；一第二机台，包括一第二控制单元，根据 该测试命令测试一待测产品，以产生一测试数据；以及一第二红外线收发模块，用以接收该 测试命令或发送该测试数据。本专利技术所述的产品验证系统，该第一控制单元或第二控制单元的数据传输形式为 并行传输(parallel communication)。本专利技术所述的产品验证系统，上述第一红外线收发模块包括一第一并行_串行 转换模块，耦接该第一控制单元，将该测试命令由并行传输形式转换为一串行传输形式；一 第一发送端运算单元，对上述串行传输形式的该测试命令载入识别码并进行一红外线调 变；以及一第一红外线发送器，耦合该第一发送端运算单元，以发送上述红外线调变后的该 测试命令。本专利技术所述的产品验证系统，该第一红外线收发模块包括一第一红外线接收器， 接收一传输数据；一第一接收端运算单元，解调并判断该传输数据以取得该测试数据；以 及一第一串行-并行转换模块，耦合该第一接收端运算单元，将该测试数据由串行传输形 式转换为并行传输形式。本专利技术所述的产品验证系统，该第二红外线收发模块包括一第二红外线接收器，接收一传输数据；一第二接收端运算单元，解调并判断自该第二红外线接收器所传送的该传输数据，以取得串行传输形式的该测试命令；以及一第二串行-并行转换模块，将该测试 命令由串行传输形式转换为并行传输形式。本专利技术所述的产品验证系统，该第二红外线收发模块包括一第二并行_串行转 换模块，耦合该第二控制单元，将该测试数据由并行传输形式转换为串行传输形式；一第二 发送端运算单元，将上述串行传输形式的该测试数据载入识别码且进行一红外线调变；以 及一第二红外线发送器，耦接该第二发送端运算单元，以发送上述红外线调变后的该测试 数据。本专利技术所述的产品验证系统，该待测产品包括半导体晶圆的晶粒或已切割的晶 粒。本专利技术所述的产品验证系统，该测试程序包括电气特性测试或晶圆测试(wafer probe)0上述第一机台与第二机台之间利用红外线无线传输，无需使用实体线路连接即可 进行通讯，大幅降低系统复杂度，并解决实体传输线路维修不易的问题。本专利技术利用红外线 无线通讯亦可在测试过程，对射频(RF)晶片的待测产品，减少射频噪声干扰或天线效应的 产生，有效提高测试品品质，可广泛应用于电子晶片测试上。附图说明图1根据本专利技术的较佳实施例，为本专利技术的产品验证系统方块图。图2根据本专利技术的较佳实施例，为图1的第一机台102的方块图。图3根据本专利技术的较佳实施例，为图1的第二机台104的方块图。图4根据本专利技术的较佳实施例，为产品验证系统的传输编码格式。具体实施例方式图1为本专利技术产品验证系统的一种实施方式，其中包括一第一机台102以及一第 二机台104，彼此以红外线通讯。第一机台102为操作端，其中包括一第一红外线收发模块106、一第一控制单元 108以及一储存单元本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种产品验证系统，其特征在于，包括：一第一机台，用以控制该产品验证系统的操作；一第二机台，耦合至该第一机台，根据该第一机台所传送的一测试命令对一待测产品进行一测试程序，并产生一测试数据，传送至该第一机台；以及其中该第一机台与该第二机台的传输是利用红外线方式。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：滕贞勇，张智凯，
申请(专利权)人：普诚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]