光电路及测量监控器特性的方法技术

本发明专利技术涉及光电路及测量监控器特性的方法。一种光电路包括将来自第一光敏检测器的输出电流提供到为第二光敏检测器设置的转换器，以及处理器，该处理器基于由测量装置测量的输入到光设备的信号光的水平，并且基于第一和第二光敏检测器的转换效率来计算由第二光敏检测器检测到的、从该光设备输出的信号光的水平，并且因此计算输出信号光水平和从为第二光敏检测器设置的转换器输出的其监控值之间的相关性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光电路，并且更具体而言，涉及包括信号光水平监控器(signal light level monitor)的光电路以及监控器特性测量方法。
技术介绍
图1中示出了包括光放大器的光电路的一个示例，其是基于例如在日 本专利申请未实审公布No. 2002-374023A (此后称作JP2002-374023)中 公开的传统光放大设备的。该光电路宽泛地可以被分为两个部件放大光 信号的光模块部件103;以及控制光模块部件103的电子控制部件104。光模块部件103包括用于将信号光输入光模块部件103的光连接器 51;将信号光从光模块部件103输出的光连接器52;掺铒光纤(EDF) 53 和54，其是用于直接光学地放大信号光的介质；用于均衡包括在要从光模 块部件103输出的波分复用(WDM)信号光中的各个通道的信号光功率 的增益均衡器55;用于检测EDF 53和54的每个之前和之后的信号光功率 的光敏二极管(PD) 56至59;以及分别将信号光分支到PD 56至59的光 耦合器60至63。电子控制部件104包括用于分别转换从PD56至59输出的电流以输 出数字数据(PD监控值)的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种包括至少一个光设备的光电路，所述光设备输入第一信号光和第二信号光中的一个并输出另一个，所述光电路还包括：　第一光敏检测器，用于将所述第一信号光转换为第一检测信号，其中，所述第一光敏检测器具有第一转换效率；　第二光敏检测器，用 于将所述第二信号光转换为第二检测信号，其中，所述第二光敏检测器具有第二转换效率；　转换器，该转换器为所述第一和第二光敏检测器的每个而设置，所述转换器用于将相应的检测信号转换为监控信号；以及　控制器，用于进行控制以使得所述第一检测 信号连接到非对应的转换器并且所述第二检测信号连接到断路，根据所述第一转换效率和先前测量的所述第一...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：吉田秀司，
申请(专利权)人：日本电气株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]