【技术实现步骤摘要】
芯片老化检测辅助装置
[0001]本技术涉及芯片
，特别涉及芯片老化检测辅助装置。
技术介绍
[0002]集成电路或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种把电路小型化的方式，芯片老化的主要因素为：日光辐射、温度和水，需要使用老化检测装置对芯片老化程度进行检测。
[0003]公开号：CN216526158U公开了一种用于芯片检测的辅助固定装置，属于芯片检测
；传统的芯片检测的辅助固定装置一次只能对一个芯片进行固定，不能进行批量处理，降低工作效率；包括工作台，所述工作台上表面固定设有两对支撑杆，所述支撑杆上端固定设有固定架。
[0004]目前，现有的检测装置在使用时存在以下缺点：缺少快速夹持定位机构，通常在芯片老化检测前，需要操作人员根据实际尺寸大小手动调节夹持机构进行限位固定处理。为此，我们提出了芯片老化检测辅助装置。
技术实现思路
[0005]本技术的主要目的在于提供芯片老化检测辅助装置，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0006]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.芯片老化检测辅助装置，包括U型架(1)和限位架(3)，其特征在于：所述U型架(1)的内侧开设有滑槽(2)，所述滑槽(2)内滑动连接有滑动块(4)，所述滑动块(4)的一侧通过螺栓固定连接有用于夹持芯片的限位架(3)，所述限位架(3)的一侧开设有放置槽(8)，所述滑槽(2)内位于滑动块(4)的一侧通过弹簧座安装有压簧(5)。2.根据权利要求1所述的芯片老化检测辅助装置，其特征在于：所述限位架(3)的顶部与放置槽(8)内均开设有通孔(9)，所述通孔...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋杰，
申请(专利权)人：叁技科技天津有限公司，
类型：新型
国别省市：
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