一种raid多校验方法技术

本发明专利技术公开了一种raid多校验方法，包括获取raid的一个条带上的所有数据块；当一个条带上存在两个校验块时，采用如下方式生成各校验块的校验码。本raid多校验方法在一个条带有多个校验码时，一个校验码生成的系数是另一个校验码生成系数的倒序，如果用硬件来实现，只需要一套逻辑实现，减少硬件成本，如果用软件实现，只需要一个算法，减少算法的开发。减少算法的开发。减少算法的开发。

【技术实现步骤摘要】
一种raid多校验方法


[0001]本专利技术属于独立磁盘冗余阵列领域，具体涉及一种raid多校验方法。

技术介绍

[0002]在现代存储领域，为了提高存储数据的可靠性和改善存储系统的输入、输出性能，人们设计了多种数据存储方案，这些数据存储方案通常是各种类型的独立磁盘冗余阵列(Redundant Arrays of Independent Disks，RAID)。通过使用特定的硬件或软件，RAID把多个物理存储设备如磁盘，联合起来，形成一个统一的逻辑存储设备。
[0003]比较常用的RAID有RAID 0、RAID 1、RAID 5、RAID 6、RAID 10等。其中RAID 0不具有冗余能力，RAID 1只是对磁盘做了镜像，其它3种阵列分别由多个磁盘组成，它们以条带的方式向阵列中的磁盘写数据，校验数据存放在阵列中的各个磁盘上。RAID 5的每个条带含有1个校验块，支持任意损坏其中一个磁盘、通过其它磁盘上的校验块来重建数据；RAID 6的每个条带含有2个校验块，支持任意损坏其中两个磁盘、通过其它磁盘上的校验块来恢复数据；RAID TP本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种raid多校验方法，其特征在于：所述raid多校验方法，包括：获取raid的一个条带上的所有数据块；当一个条带上存在两个校验块时，采用如下方式生成各校验块的校验码：k1*d1+k2*d2+k3*d3+
…
+kn*dn＝qkn*d1+k(n
‑
1)*d2+k(n
‑
2)*d3+
…
+k1*dn＝g其中，d1、d2、d3
…
dn一个条带上数据块的值，q、g分别表示校验码，k1、k2、k3
…
kn是校验码q生成时的系数，kn、k(n
‑
1)、k(n
‑
2)
…
k1是校验码g生成时的系数。2.如权利要求1所述的raid多校验方法，其特征在于：当一个带上存在三个校验块时，采用如下方式生成各校验块的校验码：d1+d2+d3
…
+dm＝pk1*d1+k...

【专利技术属性】
技术研发人员：李学强，胡志成，李志铎，孙涛，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十二研究所，
类型：发明
国别省市：