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本发明公开了一种raid多校验方法,包括获取raid的一个条带上的所有数据块;当一个条带上存在两个校验块时,采用如下方式生成各校验块的校验码。本raid多校验方法在一个条带有多个校验码时,一个校验码生成的系数是另一个校验码生成系数的倒序,如...该专利属于中国电子科技集团公司第五十二研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子科技集团公司第五十二研究所授权不得商用。
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本发明公开了一种raid多校验方法,包括获取raid的一个条带上的所有数据块;当一个条带上存在两个校验块时,采用如下方式生成各校验块的校验码。本raid多校验方法在一个条带有多个校验码时,一个校验码生成的系数是另一个校验码生成系数的倒序,如...