【技术实现步骤摘要】
一种LED晶片划痕观察装置
[0001]本技术涉及LED晶片检测
,尤其涉及一种LED晶片划痕观察装置。
技术介绍
[0002]LED一般是指发光二极管,是一种电能转化为光能的固态半导体器件。作为新型的发光器件,LED具有高光效、节能、使用寿命长、响应时间短、环保等优点,因此被称为最有潜力的新一代光源。LED芯片的制程工艺复杂,尤其对于高端的LED芯片除了要求芯片背面不能有污染物外,还要求研磨后不能有明显划痕,为此研磨的工艺工程师需要不断观察划痕的情况,对研磨工艺进行反复调试。在观察过程中,需要倾斜装载有LED晶片的研磨盘一定角度才能观察到划痕,然而研磨盘由于质量较重,使得工艺工程师操作不便。
技术实现思路
[0003]本技术所要解决的技术问题是:提供一种LED晶片划痕观察装置,能够减少划痕观察的操作难度。
[0004]为了解决上述技术问题,本技术采用的技术方案为:一种LED晶片划痕观察装置,包括底座、装载台和调整器;所述装载台的一侧端与底座铰接,所述装载台的台面上转动设置有研磨盘放置座;所述调整器 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种LED晶片划痕观察装置,其特征在于:包括底座、装载台和调整器;所述装载台的一侧端与底座铰接,所述装载台的台面上转动设置有研磨盘放置座;所述调整器具有活动端,所述活动端抵接在装载台朝向底座的一端面上,所述调整器用于调节装载台与底座之间的夹角大小。2.根据权利要求1所述LED晶片划痕观察装置,其特征在于:还包括限位装置,所述限位装置包括限位件和插销;所述限位件设置在研磨盘放置座上,所述插销拆卸设置在限位件上,所述装载台的台面上设置有与插销相适配的固定孔。3.根据权利要求1所述LED晶片划痕观...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄章挺,张帆,郑高林,
申请(专利权)人:福建兆元光电有限公司,
类型:新型
国别省市:
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