本发明专利技术涉及一种不仅能够对无磁区偏移实现判断,而且能够对无磁区偏移情况实现数据输出,而且误判率低的一种磁片无磁区的检测方法,无磁区检测模块通过图像找到磁片中的每个无磁区的宽度边缘及磁片的左测边缘;之后拟合出磁片左侧边缘的基准线及每个无磁区宽度边缘的两条平行线;之后通过每个无磁区宽度边缘的两条平行线计算出对应无磁区的中心线;之后计算出每条中线到基准线的平均值;之后将每条中线到基准线的平均值与对应的设定值进行比对。优点:本方法通过对无磁区边缘拟合直线并通过对线与线之间距离的计算及比对,这样不仅能够对无磁区是否出现偏移实现判断,而且能够对无磁区偏移情况实现数据输出。对无磁区偏移情况实现数据输出。对无磁区偏移情况实现数据输出。
【技术实现步骤摘要】
一种磁片无磁区的检测方法
[0001]本专利技术属于检测
,具体涉及一种磁片无磁区的检测方法。
技术介绍
[0002]本申请人所有的在先专利CN 217901539 U、名称“一种磁片无磁区自动检测装置”,包括检测机构(1)、翻面机构(2)、检测治具(3)和转盘(4);所述检测机构(1)包括A面检测机构(5)和B面检测机构(6);所述A面检测机构(5)和B面检测机构(6)结构相同,且分别设置在翻面机构(2)的左右两侧;所述检测治具(3)设置在转盘(4)上;所述A面检测机构(5)、翻面机构(2)和B面检测机构(6)以转盘(4)为中心依次设置在转盘(4)的外圈。所述检测机构(1)包括相机(7)、光源(8)、玻璃(9)、显影片(10)和检测台(11);所述玻璃(9)和显影片(10)设置在检测台(11)上,玻璃(9)设置在显影片(10)的上端;所述相机(7)和光源(8)设置玻璃(9)的上端,且和检测台(11)之间存在间隙;所述光源(8)设置在相机(7)下端。所述翻面机构(2)包括翻转组件(12)、上下组件(13)和固定架(14);所述翻转组件(12)经伸缩杆(15)和固定架(14)转动连接;所述上下组件(13)设置在翻转组件(12)的上端;所述固定架(14)下端设置有电机(16)。所述检测治具(3)包括检测料盘(17)、气缸三(18)、固定板(19)和框架(20);所述气缸三(18)穿设在框架(20)内;所述框架(20)上固定设置有固定板(19);所述固定板(19)的上表面设置有检测料盘(17),固定板(19)的一端向外凸出设置,且凸出部分设置有安装孔(21),固定板(19)经安装孔(21)和转盘(4)固定连接。所述相机(7)下端设置有镜头(22)和旋转组件(23);所述镜头(22)设置在相机(7)的底端;所述旋转组件(23)转动设置在相机(7)上,且与镜头(22)控制连接。所述检测台(11)包括支撑架(24)和台面(25);所述台面(25)的一侧开设有开口(26),另一侧设置有液压件(27);所述液压件(27)上端固定在台面(25)的下表面,液压件(27)下端和支撑架(24)固定。所述翻转组件(12)包括气缸一(28)、翻转料盘(29)和翻转组件本体(30);所述气缸一(28)穿设在翻转组件本体(30)内,且与翻转料盘(29)连接;所述翻转料盘(29)设置在翻转组件本体(30)的下表面。所述上下组件(13)包括气缸二(31)、转移料盘(32)和上下组件本体(33);所述气缸二(31)穿设在上下组件本体(33)内,且与转移料盘(32)连接;所述转移料盘(32)设置在上下组件本体(33)的下表面。不足之处在于:一是该种磁片无磁区自动检测装置虽然也能对磁片无磁区偏移(包括无磁区位置出现了变化、无磁区宽度出现了变化)进行检测,但是该种磁片无磁区自动检测装置是基于图像比对技术进行识别的(通过拍摄的磁片图像与标准磁片的图像进行比对识别),其只是做形式判断,即判断该只磁片无磁区是否有偏移(无论是比对时发现无磁区位置出现了变化,还是无磁区宽度出现了变化,检测的结构是该磁片有偏移,其为不良品),而对于不良磁片是因为无磁区位置变化造成的,还是无磁区宽度变化造成的,则生产者无法获知,无磁区位置是左偏了还是右偏了以及偏移了多少也是未知的,无磁区宽度是变大了还是变小了以及变了多少同样也是未知的;二是该种磁片无磁区自动检测装置是通过显影片间接检测的(所述显影片为现有技术,显影片内含有可移动的磁粉,在显影片下压磁片时,因磁片中的充磁部分的吸引位于显影片中的磁粉在充磁部分(充磁区)的正
上方汇集(汇集的磁粉还是在显影片内),此时显影片中的磁粉汇集的区域就是磁片中对应的充磁区域(由于磁粉的汇集,显影片中与充磁区正对的部分在拍摄的图像中颜色更暗(相对与非充磁区)),这样相机对显影片进行拍摄就能间接对磁片进行检测。),显影片的材质及显影片与产品(磁片)的贴合程度都会对图像中的边缘区域造成干扰,当上述干扰因数使得图像中的边缘区域噪点变得较大时,则将提高一种磁片无磁区自动检测装置对磁片无磁区检测的误判率。
技术实现思路
[0003]设计目的:为避免
技术介绍
中的不足,设计一种不仅能够对无磁区偏移实现判断,而且能够对无磁区偏移情况实现数据输出,而且误判率低的一种磁片无磁区的检测方法。
[0004]设计方案:为实现上述设计目的。
[0005]1、所述无磁区检测模块对磁片无磁区检测包括如下步骤;步骤一,无磁区检测模块通过图像找到磁片中的每个无磁区的宽度边缘及磁片的左测边缘;步骤二,无磁区检测模块拟合出磁片左侧边缘的基准线及每个无磁区宽度边缘的两条平行线;步骤三,无磁区检测模块通过每个无磁区宽度边缘的两条平行线计算出对应无磁区的中心线;步骤四,无磁区检测模块计算出每条中线到基准线的平均值;步骤五,无磁区检测模块将每条中线到基准线的平均值与对应的设定值进行比对,当平均值与对应的设定值差小于允许值时则判定该中线所在的无磁区位置符合设计要求,否则判定该中线所在的无磁区位置不符合设计要求的设计,是本专利技术的技术特征之一。这样设计的目的在于:所述无磁区检测模块对磁片无磁区检测包括如下步骤;步骤一,无磁区检测模块通过图像找到磁片中的每个无磁区的宽度边缘及磁片的左测边缘;步骤二,无磁区检测模块拟合出磁片左侧边缘的基准线及每个无磁区宽度边缘的两条平行线;步骤三,无磁区检测模块通过每个无磁区宽度边缘的两条平行线计算出对应无磁区的中心线;步骤四,无磁区检测模块计算出每条中线到基准线的平均值;步骤五,无磁区检测模块将每条中线到基准线的平均值与对应的设定值进行比对,当平均值与对应的设定值差小于允许值时则判定该中线所在的无磁区位置符合设计要求,否则判定该中线所在的无磁区位置不符合设计要求,这样一种磁片无磁区的检测方法对于磁片中的无磁区是否有变化(位置变化)进行判断识别,另外,由于无磁区检测模块计算出每条中线到基准线的平均值,当磁片中有无磁区位置出现了偏差,无磁区检测模块通过计算能够判断出该无磁区相对于对应的标准无磁区是左偏了还是右偏了及偏了多少(判断为偏移的无磁区,其中心到基准线的平均值减去对应的标准值,如差值为正数,则认为该无磁区右偏了且差值为具体偏移量,如差值为负数,则认为该无磁区左偏了且差值为具体偏移量),这些无磁区位置偏移情况的数据能够做为对磁片生产进行参数调整的数据,这样不仅能够提高生产效率,而且能够降低不良率。
[0006]2、当磁片中的无磁区位置均符合设计要求时,无磁区检测模块能够对磁片中的每个无磁区的宽度进行计算判断,当计算出的无磁区宽度值和对应的设定宽度值差小于允许值一时则判定该无磁区的宽度符合设计要求,否则判定该无磁区宽度不符合设计要求的设计,是本专利技术的技术特征之二。这样设计的目的在于:当磁片中的无磁区位置均符合设计要求时,无磁区检测模块能够对磁片中的每个无磁区的宽度进行计算判断,当计算出的无磁区宽度值和对应的设定宽度值差小于允许值一时则判定该无磁区的宽度符合设计要求,否
则判定该无磁区宽度不符合设计要求,所述无磁区的宽度通过以下公式计算获得,
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种磁片无磁区的检测方法,包括装载在料盘上的待检测磁片、显影片、相机和无磁区检测模块,所述相机设置在显影片的正上方,当装载在料盘上的待检测磁片位于检测工位且显影片压在待检测磁片上时相机对压在待检测磁片上的显影片进行拍摄,所述相机能够将拍摄到的图像上传给无磁区检测模块且无磁区检测模块通过图像能够对磁片无磁区进行检测,其特征是:所述无磁区检测模块对磁片无磁区检测包括如下步骤;步骤一,无磁区检测模块通过图像找到磁片中的每个无磁区的宽度边缘及磁片的左测边缘;步骤二,无磁区检测模块拟合出磁片左侧边缘的基准线及每个无磁区宽度边缘的两条平行线;步骤三,无磁区检测模块通过每个无磁区宽度边缘的两条平行线计算出对应无磁区的中心线;步骤四,无磁区检测模块计算出每条中线到基准线的平均值;步骤五,无磁区检测模块将每条中线到基准线的平均值与对应的设定值进行比对,当平均值与对应的设定值差小于允许值时则判定该中线所在的无磁区位置符合设计要求,否则判定该中线所在的无磁区位置不符合设计要求。2.根据权利要求1所述的一种磁片无磁区的检测方法,其特征是:当磁片中的无磁区位置均符合设计要求时,无磁区检测模块能够对磁片中的每个无磁区的宽度进行计算判断,当计算出的无磁区宽度值和对应的设定宽度值差小于允许值一时则判定该无磁区的宽度符合设计要求,否则判定该无磁区宽度不符合设计要求。3.根据权利要求2所述的一种磁片无磁区的检测方法,其特征是:所述无磁区的宽度通过以下公式计算获得,其中d为无磁区的宽度,公式中的直线方程ax+by+c=0为该无磁区中的一条拟合平行线的直线方程,坐标点(x0,y0)为无磁区中的另一条拟合平行线上的点的坐标。4.根据权利要求1所...
【专利技术属性】
技术研发人员:侯文峰,朱钱华,王魏强,林笃盛,王英军,张杭烽,
申请(专利权)人:杭州智感科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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