一种弹片探针和压接治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种弹片探针和压接治具，属于信号传输及测试技术领域。所述弹片探针包括依次连接的第一接触部、弯折部和第二接触部，所述第一接触部背向所述弯折部的一端端部具有V形导通槽，所述V形导通槽远离所述V形导通槽开口的内壁上具有至少一个凸起。本实用新型专利技术实施例提供的一种弹片探针，在斜面被磨损变形后，可以通过新的凸起仍能实现弹片探针与FPC的导通，从而避免斜面磨损导致弹片探针与FPC之间导通失效的问题，进而增大弹片探针的使用寿命。使用寿命。使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
一种弹片探针和压接治具


[0001]本技术属于信号传输及测试
，具体涉及一种弹片探针和压接治具。

技术介绍

[0002]在液晶面板、集成电路等电子部件模块的制造工序中，往往需要进行导通检测，这通常需要使用探针将电子部件模块的PCB板与FPC（连接器）对应连接，进而完成相应的检测工作。
[0003]相关技术中，为增大弹片探针与FPC的导通寿命，弹片探针的一端设置有两个相对布置的斜面（即形成V形槽）。在进行导通测试时，通过下移弹片探针，使得FPC上对应的导通部的两侧分别与相对应的斜面接触导通。
[0004]然而，在长期使用过程中，斜面会逐步磨损并向外发生微小形变（斜面的夹角增大），使得斜面上接触点的阻抗增大，导致弹片探针与FPC之间的导通失效。

技术实现思路

[0005]针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本技术提供了一种弹片探针和压接治具，其目的在于，在斜面被磨损变形后，可以通过新的凸起仍能实现弹片探针与FPC的导通，从而避免斜面磨损导致弹片探针与FPC之间导通失效的问题，进而增大弹片探针的使用寿命。
[0006]第一方面，本技术提供了一种弹片探针，所述弹片探针包括依次连接的第一接触部、弯折部和第二接触部，所述第一接触部背向所述弯折部的一端端部具有V形导通槽，所述V形导通槽远离所述V形导通槽开口的内壁上具有至少一个凸起。
[0007]可选地，所述凸起位于所述V形导通槽的底部，且所述凸起位于所述V形导通槽的两个斜面之间。
[0008]可选地，所述凸起的数量为多个，且多个所述凸起在所述V形导通槽中深度方向上的高度不同。
[0009]可选地，所述凸起位于所述V形导通槽的一个斜面上，且所述凸起与所述V形导通槽的另一个斜面间隔布置。
[0010]可选地，所述凸起朝向所述V形导通槽开口的侧面为弧形。
[0011]可选地，所述第一接触部或者所述第二接触部的边缘上具有缺口，所述缺口的内壁用于连接料带上的断点。
[0012]可选地，所述缺口背向所述第一接触部或者所述第二接触部的一侧具有延伸部，所述延伸部与所述第一接触部或者所述第二接触部一体成型。
[0013]可选地，所述V形导通槽的两个斜面之间的夹角为40
°‑
60
°
。
[0014]可选地，所述弯折部包括多个弧形单元，各所述弧形单元上均具有多个间隔布置的弧形槽，且各所述弧形槽沿相对应的所述弧形单元的长度方向延伸，相邻的两个所述弧形单元中的多个所述弧形槽一一对应且连通。
[0015]第二方面，本技术提供了一种压接治具，所述压接治具包括如第一方面所述的一种弹片探针。
[0016]总体而言，通过本技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有的有益效果如下：
[0017]对于本技术实施例提供的一种弹片探针，由于弹片探针包括依次连接的第一接触部、弯折部和第二接触部，其中，第二接触部可以与PCB板上的PAD点接触导通，从而实现电信号从PCB板、第二接触部和弯折部传递至第一接触部，而弯折部则在压接过程中通过弯折变形产生对第一接触部的回复力，使得第一接触部能够与FPC上的导通部之间紧密接触。
[0018]进一步地，第一接触部背向弯折部的一端端部具有V形导通槽，V形导通槽远离V形导通槽开口的内壁上具有至少一个凸起。当弹片探针下移时，V形导通槽的两个斜面与FPC上的导通部滑动配合至目标位置，使得导通部插装至V形导通槽中，并使得导通部的各侧边分别与相对应的斜面接触并导通（此时凸起与导通部间隔布置），此时可以实现弹片探针与FPC的导通。当该弹片探针长期使用后，斜面被磨损变形后，在弯折部的弹力下，第一接触部下移，使得凸起与导通部的顶部接触导通（凸起未被磨损，满足阻抗要求），此时通过新的凸起同样可以实现弹片探针与FPC的导通，从而避免斜面磨损导致弹片探针与FPC之间导通失效的问题，进而增大弹片探针的使用寿命。
[0019]也就是说，本技术实施例提供的一种弹片探针，在斜面被磨损变形后，可以通过新的凸起仍能实现弹片探针与FPC的导通，从而避免斜面磨损导致弹片探针与FPC之间导通失效的问题，进而增大弹片探针的使用寿命。
附图说明
[0020]图1是本技术实施例提供的一种弹片探针的结构示意图；
[0021]图2是本技术实施例提供的一种弹片探针的局部放大图；
[0022]图3是本技术实施例提供的一种弹片探针的导通示意图；
[0023]图4是本技术实施例提供的另一种弹片探针的局部放大图。
[0024]在所有附图中，同样的附图标记表示相同的技术特征，具体为：
[0025]10、弹片探针；1、第一接触部；11、V形导通槽；111、斜面；12、凸起；13、针尖；2、弯折部；21、弧形单元；211、弧形槽；3、第二接触部；4、缺口；5、延伸部；
[0026]20、FPC；30、导通部。
具体实施方式
[0027]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。此外，下面所描述的本技术各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
[0028]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的
方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0029]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
[0030]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0031]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种弹片探针，其特征在于，所述弹片探针包括依次连接的第一接触部、弯折部和第二接触部，所述第一接触部背向所述弯折部的一端端部具有V形导通槽，所述V形导通槽远离所述V形导通槽开口的内壁上具有至少一个凸起。2.根据权利要求1所述的一种弹片探针，其特征在于，所述凸起位于所述V形导通槽的底部，且所述凸起位于所述V形导通槽的两个斜面之间。3.根据权利要求2所述的一种弹片探针，其特征在于，所述凸起的数量为多个，且多个所述凸起在所述V形导通槽中深度方向上的高度不同。4.根据权利要求1所述的一种弹片探针，其特征在于，所述凸起位于所述V形导通槽的一个斜面上，且所述凸起与所述V形导通槽的另一个斜面间隔布置。5.根据权利要求1
‑
4任意一项所述的一种弹片探针，其特征在于，所述凸起朝向所述V形导通槽开口的侧面为弧形。6.根据权利要求1所述的一种弹片探针，其特征在于，所述第一接触部或者所述第二接触部的边...

【专利技术属性】
技术研发人员：浦佳，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：