【技术实现步骤摘要】
一种进气结构及气相沉积设备
[0001]本技术涉及气相沉积
,具体而言,涉及一种进气结构及气相沉积设备。
技术介绍
[0002]高密度电浆化学气相沉积(High Density Plasma Chemical Vapor Deposition,HDPCVD)设备在进行工艺加工时,不同种类的工艺气体需要从腔室侧面均匀的流入反应腔内,且在进入反应腔内部之前不允许互相接触。
[0003]目前HDPCVD设备主要的进气结构分为两种,第一种是在腔体上加工一个环形气道,但该方法会增大加工难度并增大加工成本。第二种是将匀气、进气通道集成到一个独立的进气环中,进气环结构包括若干个匀气道和进气道,但匀气道和进气道连通需要通过在进气环的一侧钻孔,贯穿匀气道和进气道的侧壁实现,匀气道和进气道连通后还需将进气环侧壁上的孔堵焊,焊后热应力极易造成虚焊,产生漏孔。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种进气结构及气相沉积设备,其具有较高的气密性和较低的加工成本。
[0005]本技术的实施例是这样实现的:r/>[0006]本本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种进气结构,其特征在于,包括进气主体(110)、第一密封条(120)和第二密封条(130),所述进气主体(110)具有相对设置的两个加工端面(111),两个所述加工端面(111)分别用于在所述进气主体(110)内加工匀气槽和出气槽,所述第一密封条(120)将所述匀气槽的槽口密封以形成匀气道(1121),所述第二密封条(130)将所述出气槽的槽口密封以形成出气道(1122),所述匀气道(1121)和所述出气道(1122)的底部通过连接孔(113)连通。2.根据权利要求1所述的进气结构,其特征在于,所述匀气道(1121)的底面平行于所述出气道(1122)的底面,所述连接孔(113)分别垂直于所述匀气道(1121)和所述出气道(1122)的底面。3.根据权利要求1所述的进气结构,其特征在于,所述进气主体(110)上设有与所述匀气道(1121)连通的进气孔(116)和多个与所述出气道(1122)连通的出气孔(117),多个所述出气孔(117)在所述进气主体(110)上均匀分布。4.根据权利要求3所述的进气结构,其特征在于,所述匀气道(1121)和所述出气道(1122)均包括至少两个且一一对应设置,每个所...
【专利技术属性】
技术研发人员:战勇,杨晓楠,姜宏亮,李钦波,
申请(专利权)人:拓荆创益沈阳半导体设备有限公司,
类型:新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。