基于半导体共轭聚合物荧光探针的单分子检测方法技术

本发明专利技术涉及一种基于半导体共轭聚合物荧光探针的单分子检测方法以及包含半导体共轭聚合物荧光探针和磁珠的试剂盒，可用于蛋白质的单分子级别的定量检测。本申请的检测方法通过普通荧光显微镜即可实现，并且检测灵敏度高，耗时短，检测动态范围宽。检测动态范围宽。检测动态范围宽。

【技术实现步骤摘要】
基于半导体共轭聚合物荧光探针的单分子检测方法


[0001]本专利技术属于单分子检测领域，具体涉及基于半导体共轭聚合物荧光探针的单分子检测方法及相关试剂盒。

技术介绍

[0002]单分子检测（SMD）是以单个分子的分析为基础构建的一种方法，到目前为止，它已经在生命科学的研究中备受关注。近几年来，该方法被应用于细胞成像、蛋白质相互作用的研究以及蛋白质和核酸的定量检测中。在上述提及的应用中，定量检测是以对目标物分子的一个接一个的计数来实现的，这种定量检测手段代表了检测的最终极限。传统的平均测定方法如免疫层析、化学发光、酶联免疫等是以信号强度和目标物浓度之间的关系来定量的。信号强度越高，被测定目标物的浓度越高。与平均测定方法所不同的是，在SMD定量方法中，对可以产生信号的分子进行计数，更具有可视性和数字性，保证了较高的重现性。由于SMD定量检测方法具有平均测定所无法比拟的优点，目前，已经有工作将SMD应用到定量分析之中（参见专利文献1~3）。
[0003]具体而言，专利文献1为本申请专利技术人的在先申请，涉及利用具有特定粒径（180~400nm本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于半导体共轭聚合物荧光探针的单分子检测方法，其包括以下步骤：（1）将能够与靶标分子结合的捕获抗体固定到磁珠上，加入靶标分子，使靶标分子的第一位点与捕获抗体结合，从而捕获样品中的靶标分子；（2）加入能够与靶标分子的第二位点结合的检测抗体，使检测抗体与靶标分子的第二位点结合，然后加入能够直接或间接与检测抗体结合的原位信号增强粒子；或者先将检测抗体与原位信号增强粒子结合而形成复合物，再将该复合物加入；所述原位信号增强粒子的粒径为180nm~350nm，且含有1质量%以上且20质量%以下的半导体共轭聚合物荧光探针、及载体，（3）用光学成像设备将所述原位信号增强粒子发出的发光信号成像；（4）对原位信号增强粒子的个数进行统计，进一步计算得到样品中靶标分子的浓度，其中，步骤（1）和（2）可以分别替换为下述的步骤（1
’
）和（2
’
），（1
’
）将检测抗体与样品混合，使其与样品中的靶标分子的第二位点结合，然后加入能够直接或间接与检测抗体结合的原位信号增强粒子；或者先使原位信号增强粒子与检测抗体结合而形成复合材料，再将该复合材料加入样品中，使该复合材料与样品中的靶标分子的第二位点结合；其中，所述原位信号增强粒子与所述步骤（1）中的原位信号增强粒子相同；（2
’
）将能够与靶标分子结合的捕获抗体固定至磁珠上，然后加入至步骤（1
’
）的...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪国粦，安源，杨园园，程玲军，官志超，
申请(专利权)人：苏州宇测生物科技有限公司，
类型：发明
国别省市：