卫星元器件的质量评价方法、系统及计算机可读介质技术方案

本发明专利技术涉及一种卫星元器件的质量评价方法、系统及计算机可读介质，该方法包括：步骤S1：在当前生产批次内抽取第一卫星元器件和第二卫星元器件；步骤S2：在当前生产批次内根据标准试验方法对第一卫星元器件进行辐照验证试验和/或温度循环试验；步骤S3：在当前生产批次内根据第二卫星元器件的电性能参数和试验后的第一卫星元器件的电性能参数，计算分布能力指数、离群率和筛选前后变化率；步骤S4：重复步骤S1～步骤S3，获得多个生产批次中每个生产批次所对应的分布能力指数、离群率和筛选前后变化率，并计算多个生产批次之间的整体评价指标；步骤S5：根据整体评价指标判断整体质量。本发明专利技术可以提高卫星元器件的整体质量评价的准确度。确度。确度。

【技术实现步骤摘要】
卫星元器件的质量评价方法、系统及计算机可读介质


[0001]本专利技术主要涉及卫星元器件的质量评价
，具体地涉及一种卫星元器件的质量评价方法、系统及计算机可读介质。

技术介绍

[0002]批量生产的星座卫星是否能可靠并稳定地运行，关键在于卫星上的卫星元器件的性能是否稳定。受限于工业基础能力的发展，目前卫星元器件的研制基础较为薄弱，卫星元器件在同一生产批次内以及不同生产批次之间可能存在较大的性能差异和较大的数据离散性，导致组网卫星无法可靠并稳定地运行。因此需要对卫星元器件的质量参数进行评价，从而可以筛选出质量达标的卫星元器件，并利用相关的质量评价参数为其他卫星元器件的研制提供重要的数据参考。
[0003]现有的卫星元器件的质量评价方法通常聚焦在常规生产环境中的卫星元器件的电性能参数，忽略了在真实太空应用场景中卫星元器件的各项性能参数，例如总电离剂量(Total Ionizing Dose，TID)和在轨温度等。对卫星元器件的质量评价也往往局限于同一生产批次内或者不同生产批次之间的单一性能参数，没有耦合较多的关键性能参数对卫星元器件的整个生产过程进行整体质量评价，存在对卫星元器件的整体质量评价的准确度不高的问题，导致在真实太空应用场景中，无法提前反映卫星元器件的在轨使用质量，卫星上的卫星元器件可能性能不稳定而存在使用风险。

技术实现思路

[0004]本申请所要解决的技术问题是提供一种卫星元器件的质量评价方法、系统及计算机可读介质，可以全面地考虑卫星元器件在整个生产过程中的整体质量波动情况，提高了卫星元器件的整体质量评价的准确度。
[0005]本申请为解决上述技术问题而采用的技术方案是一种卫星元器件的质量评价方法，用于评价卫星元器件的多个生产批次之间的整体质量，包括：步骤S1：在当前生产批次内抽取至少一个第一卫星元器件和至少一个第二卫星元器件，其中，当前生产批次内的样本包括第一卫星元器件和第二卫星元器件；步骤S2：在当前生产批次内根据标准试验方法对每个第一卫星元器件进行辐照验证试验和/或温度循环试验，获得试验后的每个第一卫星元器件；步骤S3：在当前生产批次内根据每个第二卫星元器件的电性能参数和试验后的每个第一卫星元器件的电性能参数，计算分布能力指数、离群率和筛选前后变化率；步骤S4：重复步骤S1～步骤S3，获得多个生产批次中每个生产批次所对应的分布能力指数、离群率和筛选前后变化率，根据每个生产批次所对应的分布能力指数、离群率和筛选前后变化率计算多个生产批次之间的整体评价指标；以及步骤S5：根据整体评价指标判断整体质量。
[0006]在本申请的一实施例中，第一卫星元器件和第二卫星元器件包括卫星的微处理器。
[0007]在本申请的一实施例中，电性能参数包括：功耗、漏电流和电阻中的一种或多种。
[0008]在本申请的一实施例中，在步骤S3中，根据下面的公式计算分布能力指数C
pk
：
[0009]C
pk
＝(1
‑
K)C
p
[0010]其中，K表示修正系数，C
p
表示修正前的分布能力指数。
[0011]在本申请的一实施例中，在步骤S3中，根据下面的公式计算修正前的分布能力指数C
p
：
[0012][0013][0014][0015]其中，T
u
表示当前生产批次内电性能参数中的最大值，T
l
表示当前生产批次内电性能参数中的最小值，S表示当前生产批次内的样本的标准差，S2表示当前生产批次内的样本的方差，表示当前生产批次内的样本的均值，n表示当前生产批次内的样本的数量，x
i
表示当前生产批次内第i个样本的电性能参数值。
[0016]在本申请的一实施例中，根据下面的公式计算修正系数K：
[0017][0018]T＝T
u
‑
T
l
[0019][0020]其中，ε表示偏移量。
[0021]在本申请的一实施例中，在步骤S3中，根据下面的公式计算离群率L
out
：
[0022][0023]其中，N
i
表示当前生产批次内第i个样本的标记值，标记值N
i
的取值包括0或者1，若第i个样本的电性能参数值x
i
属于开区间的范围外，则标记值N
i
＝1，若第i个样本的电性能参数值x
i
不属于开区间的范围外，则标记值N
i
＝0。
[0024]在本申请的一实施例中，在步骤S3中，根据下面的公式计算筛选前后变化率C：
[0025][0026][0027][0028]其中，表示当前生产批次内经筛选后剩余样本的均值，S
selection
表示当前生产批次内经筛选后剩余样本的标准差，筛选样本的条件包括：若第i个样本的电性能参数值x
i
属于开区间的范围外，则第i个样本将被筛选剔除。
[0029]在本申请的一实施例中，在步骤S4中，根据每个生产批次所对应的分布能力指数、离群率和筛选前后变化率计算多个生产批次之间的整体评价指标的步骤包括：根据电子系统可靠性方法和贝叶斯原理采用下面的公式计算多个生产批次之间的整体评价指标Q：
[0030]Q＝A
×
P
f
×
π
Physical
×
π
Manufacturing
[0031][0032][0033]其中，A表示调整系数，调整系数A包括大于0的常数，P
f
表示卫星元器件在不同应用环境中的使用系数，使用系数P
f
的取值范围包括1≤P
f
≤10，表示多个生产批次中的全部分布能力指数C
pk
的均值，m1表示电性能参数种类的数量，i2＝1，...，r，r表多个生产批次的数量，C
pk_i2
表示多个生产批次中的第i2个生产批次的分布能力指数，L
out_total
表示多个生产批次中的全部离群率L
out
的总和，表示多个生产批次中的全部筛选前后变化率C的均值，m2表示卫星元器件的生产工序的数量，P
i3
表示第i3个生产工序的合格率，合格率P的取值范围包括0≤P≤1。
[0034]在本申请的一实施例中，卫星元器件的生产工序包括封装、监制、挑选、验收、其他中的一种或多种。
[0035]在本申请的一实施例中，步骤S5进一步包括：判断整体评价指标是否大于等于第一预设阈值，若判断为是，则指示整体质量好；若判断为否，则指示整体质量不好。
[0036]本申请为解决上述技术问题还提出一种卫星元器件的质量评价系统，包括：存储器，用于存储可由处理器执行的指令；处理器，用于执行指令以实现如上的质量评价方法。
[0037]本申请为解决上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种卫星元器件的质量评价方法，用于评价所述卫星元器件的多个生产批次之间的整体质量，其特征在于，包括：步骤S1：在当前生产批次内抽取至少一个第一卫星元器件和至少一个第二卫星元器件，其中，所述当前生产批次内的样本包括所述第一卫星元器件和所述第二卫星元器件；步骤S2：在所述当前生产批次内根据标准试验方法对每个第一卫星元器件进行辐照验证试验和/或温度循环试验，获得试验后的每个第一卫星元器件；步骤S3：在所述当前生产批次内根据每个第二卫星元器件的电性能参数和所述试验后的每个第一卫星元器件的电性能参数，计算分布能力指数、离群率和筛选前后变化率；步骤S4：重复所述步骤S1～所述步骤S3，获得多个生产批次中每个生产批次所对应的分布能力指数、离群率和筛选前后变化率，根据所述每个生产批次所对应的分布能力指数、离群率和筛选前后变化率计算所述多个生产批次之间的整体评价指标；以及步骤S5：根据所述整体评价指标判断所述整体质量。2.如权利要求1所述的质量评价方法，其特征在于，第一卫星元器件和第二卫星元器件包括卫星的微处理器。3.如权利要求1所述的质量评价方法，其特征在于，所述电性能参数包括：功耗、漏电流和电阻中的一种或多种。4.如权利要求1所述的质量评价方法，其特征在于，在所述步骤S3中，根据下面的公式计算所述分布能力指数C
pk
：C
pk
＝(1
‑
K)C
p
其中，K表示修正系数，C
p
表示修正前的分布能力指数。5.如权利要求4所述的质量评价方法，其特征在于，在所述步骤S3中，根据下面的公式计算所述修正前的分布能力指数C
p
：：：其中，T
u
表示所述当前生产批次内所述电性能参数中的最大值，T
l
表示所述当前生产批次内所述电性能参数中的最小值，S表示所述当前生产批次内的样本的标准差，S2表示所述当前生产批次内的样本的方差，表示所述当前生产批次内的样本的均值，n表示所述当前生产批次内的样本的数量，x
i
表示所述当前生产批次内第i个样本的电性能参数值。6.如权利要求5所述的质量评价方法，其特征在于，根据下面的公式计算所述修正系数K：T＝T
u
‑
T
l
其中，ε表示偏移量。7.如权利要求5所述的质量评价方法，其特征在于，在所述步骤S3中，根据下面的公式计算所述离群率L
out
：其中，N
i
表示所述当前生产批次内第i个样本的标记值，所述标记值N
i
的取值包括0或者1，若所述第i个样本的电性能参数值x
i
属于开区间的范围外，则所述标记值N
u
＝1，若所述第i个样本的电性能参数值x
i
...

【专利技术属性】
技术研发人员：张冬冬，吴炎来，郑晓燕，衡婷，崔帅，
申请(专利权)人：上海微小卫星工程中心，
类型：发明
国别省市：