电容检测装置制造方法及图纸

技术编号:3878963 阅读:175 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种电容检测装置,包括装置本体、设在所述装置本体上的检测件,所述检测件包括至少两根检测杆,所述检测件可上下滑动地设在所述装置本体上,所述检测件与所述装置本体之间设有用于提供所述检测件一个弹性回复力的弹性件。当装置本体发生角度偏移,使得多根检测杆没有同时接触到电容引脚线时,可以滑动检测杆,通过调整检测杆的位置,就能使得多根检测杆可以同时接触到电容的引脚线,弹性件的作用用于使检测杆复位,同时利用弹性件的伸缩性能,可防止检测杆的下端部压伤电容的引脚线。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测装置,具体涉及一种电容检测装置
技术介绍
现有技术的电容检测装置,包括装置本体、固定在装置本体上的检测件,检 测件包括两根相并排设置的检测杆,检测杆与检测电路相连,该检测装置在使用 时,装置本体固定在转动块上,转动块可上下转动地设在固定座上,转动轴水平 设置,装置本体随着转动块上下运动,当装置本体上的两根检测杆的下端部同时 抵在电容的一个引脚上,才能进行电容容量的测量,在流水线工作过程中,工艺 的准确度不是很髙时,装置本体在从上向下运动时,容易发生角度偏移,如图1 和图2所示,使得装置本体上的两根检测杆l'的下端部不能同时接触电容2'的引 脚线,影响电容容量的测量。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种多根检测杆可以同时接触到电容引脚线的电容 检测装置。为了达到以上目的,本专利技术采用的技术方案是 一种电容检测装置,包括装 置本体、设在所述装置本体上的检测件,所述检测件包括至少两根检测杆,所述 检测件可上下滑动地设在所述装置本体上,所述检测件与所述装置本体之间设有 用于提供所述检测件一个弹性回复力的弹性件。所述装置本体沿其上下方向上开设有通孔,所述检测件穿过所述通孔,所述 弹性件位于所述通孔内,所述弹性件的一端连接在所述装置本体上,另一端连接 在所述检测件上。所述检测件包括两根相并排设置的检测杆,所述装置本体上开设有两个所述 通孔,每根检测杆可上下滑动地穿过一个所述通孔,每个通孔内有一个所述弹性 件,每根检测杆通过一个所述弹性件与所述装置本体相连接。所述检测杆露出所述通孔的上端部上设有用于防止所述检测杆过度向下滑动 的限位件。由于本专利技术采用了以上的技术方案,其优点在于检测件中包括至少两根检测杆,多根检测杆可在装置本体上上下滑动,当装置本体发生角度偏移,使得多 根检测杆没有同时接触到电容引脚线时,可以滑动检测杆,通过调整检测杆的位 置,就能使得多根检测杆可以同时接触到电容的引脚线。附图说明附图1为现有的检测装置在发生角度偏移,两根检测杆无法同时接触电容 引脚线的示意图一;附图2为现有的检测装置在发生角度偏移,两根检测杆无法同时接触电容 引脚线的示意图二;附图3为本专利技术的主视剖视附图4为本专利技术在使用时的示意附图5为本专利技术的检测装置在发生角度偏移时,两根检测杆仍能同时接触 电容引脚线的示意图一;附图6为本专利技术的检测装置在发生角度偏移时,两根检测杆仍能同时接触 电容引脚线的示意图二。具体实施方式 下面结合附图来进一步阐述本专利技术的具体结构。参见附图3 — 6所示, 一种电容检测装置,包括装置本体l、设在装置本体l 上的检测件2,检测件2可上下滑动地设在装置本体1上,检测件2与装置本体1 之间设有用于提供检测件2 —个弹性回复力的弹性件3,检测件2中包括两根检 测杆21,由于检测杆21是可上下滑动地,则装置本体1在发生角度偏移时,通 过滑动检测杆21就能始终保证两根检测杆21的下端部同时抵在电容IO的引脚线 上,如图5和图6所示,弹性件3的作用用于使检测杆21复位,同时利用弹性件 3的伸縮性能,可防止检测杆21的下端部压伤电容10的引脚线。具体来说,装置本体1沿其上下方向上开设有两个通孔4,两根检测杆21相 并排设置,每根检测杆21穿过一个通孔4,并可在通孔4中上下滑动,每个通孔 4中放置有一个弹性件3,弹性件可选用弹簧,弹性件3的一端连接在装置本体1 上,另一端连接在检测杆21上。检测杆21的上端部上连接有检测电线,通过检 测电线驱动检测杆21上下运动,为了防止检测杆21过度向下滑动,检测杆露出 通孔4的上端部上设有限位件5,该限位件5水平方向的长度大于通孔4上端孔口的大小,从而达到限位,如图3所示。在装置本体l上开设有安装孔6,用于安装转动块7,转动块7插入安装孔6 内,并与装置本体l相固定连接,转动块7装在胶木板固定座8上,转动块7可 在固定座8上上下转动,从而带动装置本体1也上下转动。该检测装置在使用时, 采用两套检测装置,两套检测装置的检测杆分别用于抵在电容的正负引脚上,图 4中只示出了一套检测装置,另一套检测装置未示出,转动块7首先带动装置本 体l从下向上运动,此时待检测的电容IO被输送至检测台上,电容10的正负引 脚被隔板9分开,然后,装置本体l从上向下运动,使得装置本体l上的两根检 测杆21可以抵在电容10的引脚上,如果装置本体1发生角度偏移,两根检测杆 21没有同时抵在电容10的一个引脚上时,则通过检测电线可驱动检测杆21向下 滑动,通过调整检测杆21,实现了两根检测杆21可以同时抵在电容10的一个引 脚上,无需手动操作,提高工作效率。当一个电容检测完毕后,装置本体l随着 转动块7向上运动,检测杆21在弹性件3的弹性回复力作用下复位,检测完的电 容被送走,下一个待检测的电容被送至检测台上,重复上述过程进行检测。权利要求1、一种电容检测装置,包括装置本体、设在所述装置本体上的检测件,所述检测件包括至少两根检测杆,其特征在于所述检测件可上下滑动地设在所述装置本体上,所述检测件与所述装置本体之间设有用于提供所述检测件一个弹性回复力的弹性件。2、 根据权利要求1所述的电容检测装置,其特征在于所述装置本体沿其上 下方向上开设有通孔,所述检测件穿过所述通孔,所述弹性件位于所述通孔内, 所述弹性件的一端连接在所述装置本体上,另一端连接在所述检测件上。3、 根据权利要求2所述的电容检测装置,其特征在于所述检测件包括两根 相并排设置的检测杆,所述装置本体上开设有两个所述通孔,每根检测杆可上下 滑动地穿过一个所述通孔,每个通孔内有一个所述弹性件,每根检测杆通过一个 所述弹性件与所述装置本体相连接。4、 根据权利要求3所述的电容检测装置,其特征在于所述检测杆露出所述 通孔的上端部上设有用于防止所述检测杆过度向下滑动的限位件。全文摘要本专利技术公开了一种电容检测装置,包括装置本体、设在所述装置本体上的检测件,所述检测件包括至少两根检测杆,所述检测件可上下滑动地设在所述装置本体上,所述检测件与所述装置本体之间设有用于提供所述检测件一个弹性回复力的弹性件。当装置本体发生角度偏移,使得多根检测杆没有同时接触到电容引脚线时,可以滑动检测杆,通过调整检测杆的位置,就能使得多根检测杆可以同时接触到电容的引脚线,弹性件的作用用于使检测杆复位,同时利用弹性件的伸缩性能,可防止检测杆的下端部压伤电容的引脚线。文档编号G01R27/26GK101634674SQ200910115868公开日2010年1月27日 申请日期2009年8月31日 优先权日2009年8月31日专利技术者郭维国 申请人:苏州六赫机械有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容检测装置,包括装置本体、设在所述装置本体上的检测件,所述检测件包括至少两根检测杆,其特征在于:所述检测件可上下滑动地设在所述装置本体上,所述检测件与所述装置本体之间设有用于提供所述检测件一个弹性回复力的弹性件。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:郭维国
申请(专利权)人:苏州六赫机械有限公司
类型:发明
国别省市:32[中国|江苏]

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