波长测量计、测量方法及计算机可读存储介质技术

本申请提供一种波长测量计、测量方法及计算机可读存储介质，涉及光谱测量技术领域。该测量计包括：光入射模块、微纳结构散射片和检测器模块；光入射模块、微纳结构散射片和检测器模块依次沿入射光传播方向排列设置；微纳结构散射片具有粗糙表面，粗糙表面由飞秒激光在透明材料表面诱导产生多个不同高度的随机纳米结构形成；其中，光入射模块用于接收待测波长入射光，并将待测波长入射光准直为平行光；微纳结构散射片用于对平行光进行随机传播，并产生散射光场；检测器模块用于根据散射光场的分布生成散斑图像，并基于散斑图像重建光谱，获得待测波长入射光的波长。该波长测量系统结构紧凑、成本低、分辨率高、鲁棒性强。鲁棒性强。鲁棒性强。

【技术实现步骤摘要】
波长测量计、测量方法及计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及光谱测量
，具体而言，涉及一种波长测量计、测量方法及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]传统的波长测量方法是依靠棱镜或者衍射光栅这种色散元件将不同的光束分散并映射到对应的空间位置中，但其光谱分辨率受到色散元件色散能力和探测器性能的限制，在综合考虑光路长度和仪器体积的情况下，虽然可提升一定的精度，但是需要付出高昂的代价。由于光在通过随机散射介质后形成的散斑图像对波长变化高度敏感，成为新一代光谱仪和波长计的重要研究方向。散射介质的材料选取广泛，毛玻璃、积分球、多模光纤等都可以成为散斑光谱仪和波长计的应用材料，经过标定后，便可以进行波长测量。
[0003]目前，波长测量较为成熟的方案是光纤散斑光谱仪，光纤散斑光谱仪由于使用长度很长的多模光纤，虽克服了分辨率低的缺陷，但存在容易受外部环境条件变化影响、仪器的结构不够紧凑的缺陷。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请实施例的目的在于提供一种波长测量计、测量方法及计算机可读存储介质，通过利用微纳结构散本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种波长测量计，其特征在于，所述波长测量计包括：光入射模块、微纳结构散射片和检测器模块；所述光入射模块、微纳结构散射片和检测器模块依次沿入射光传播方向排列设置；所述微纳结构散射片具有粗糙表面，所述粗糙表面由飞秒激光在透明材料表面诱导产生多个不同高度的随机纳米结构形成；其中，所述光入射模块用于接收待测波长入射光，并将所述待测波长入射光准直为平行光；所述微纳结构散射片用于对所述平行光进行随机传播，并产生散射光场；所述检测器模块用于根据所述散射光场的分布生成散斑图像，并基于所述散斑图像重建光谱，获得所述待测波长入射光的波长。2.根据权利要求1所述的波长测量计，其特征在于，所述多个不同高度的随机纳米结构之间的间隔尺寸范围为20nm
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1μm。3.根据权利要求1所述的波长测量计，其特征在于，所述微纳结构散射片上随机纳米结构的峰正对着入射光传播方向。4.根据权利要求3所述的波长测量计，其特征在于，其中，所述透明材料为蓝宝石材料；所述微纳结构散射片的粗糙表面形成方式，包括：在所述蓝宝石材料上沉积半导体薄膜，以获得待加工样品；通过飞秒激光对所述待加工样品表面进行扫描和诱导，以获得自组织结构样品表面；其中，所述自组织结构样品表面分布多个不同高度的随机纳米结构；对所述自组织结构样品表面的半导体薄膜进行去除处理，以获得所述粗糙表面。5.根据权利要求1所述的波长测量计，其特征在于，所述光入射模块包括：导光光纤和准直透镜；所述导光光纤和准直透镜依次沿入射光传播方向排列设置在所述微纳结构散射片前侧；其中，所述导光光纤用于接收待测波长入射光并传输至所述准直透镜处；所述准直透镜用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓国亮，蔡睿，周昊，周寿桓，
申请(专利权)人：四川大学，
类型：发明
国别省市：