雷达模组批量测试方法技术

本发明专利技术公开了一种雷达模组批量测试方法，其包括：选取多个能够正常的雷达模组，将多个雷达模组按预设位置规则排布成雷达模组拼板；使用测试系统对雷达模组拼板连续进行多次测试，并收集各次测试的测试数据；基于各次测试的测试数据，确定测试系统是否稳定；若是，使用测试系统对多个雷达模组拼板进行测试，并收集各个雷达模组拼板的测试数据；基于各个雷达模组拼板的测试数据，确定测试值门限；使用测试系统对待测雷达模组拼板进行测试，并基于测试值门限和待测雷达模组拼板的测试数据，确实待测雷达模组拼板中的各个雷达模组是否合格。本发明专利技术提供的雷达模组批量测试方法，可在一次测试中批量测试多个雷达模组，能够提高测试效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
雷达模组批量测试方法


[0001]本专利技术是关于雷达领域，特别是关于一种雷达模组批量测试方法。

技术介绍

[0002]随着人工智能、大数据、云计算等技术的迭代发展，物联网必然实现“万物智联”的形态。通过人工智能(Atificial Intelligence，AI)对智能终端采集的数进行分析处理，提高产品的智能化和用户的使用体验，最终改变人们的生活，而在人工智能物联网(Artificial Intelligence&Internet of Things，AIoT)丰富的场景中，传感器是感知人和物体所处环境、状态的基本单元，传感器的智能化、平民化和规模化，是加速AIoT应用部署的必经之路，特别地，高度匹配AIoT应用的毫米波雷达传感器在未来的出货速度和出货量势必会大大增加。
[0003]毫米波雷达传感器模组在出货之前，一般都需要对其进行各项性能的测试，现有技术中对雷达模组的测试，通常每次只测试一个雷达模组，这种测试方式效率较低。
[0004]因此，针对上述技术问题，有必要提供一种雷达模组批量测试方法。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种雷达模组批量测试方法，其具有较高的测试效率和测试质量。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供的技术方案如下：
[0007]一种雷达模组批量测试方法，其包括：
[0008]选取多个能够正常的雷达模组，将所述多个雷达模组按预设位置规则排布成雷达模组拼板；
[0009]使用测试系统对所述雷达模组拼板连续进行多次测试，并收集各次测试的测试数据；
[0010]基于各次测试的测试数据，确定所述测试系统是否稳定；
[0011]若是，使用所述测试系统对多个雷达模组拼板进行测试，并收集各个雷达模组拼板的测试数据；
[0012]基于各个雷达模组拼板的测试数据，确定测试值门限；
[0013]使用所述测试系统对待测雷达模组拼板进行测试，并基于所述测试值门限和所述待测雷达模组拼板的测试数据，确实所述待测雷达模组拼板中的各个雷达模组是否合格。
[0014]在一个或多个实施方式中，使用测试系统对所述雷达模组拼板连续进行多次测试，包括：
[0015]将雷达模组拼板安装于测试系统的屏蔽箱内，使雷达模组拼板的中心和测试系统的角反射器中心在同一条垂直线上；
[0016]烧录雷达模组拼板测试固件；
[0017]使所述角反射器位于测试系统的距离门中心；
[0018]使用测试系统对该雷达模组拼板连续进行多次测试。
[0019]在一个或多个实施方式中，使雷达模组拼板中心和测试系统的角反射器中心在同一条垂直线上，包括：
[0020]通过激光水平仪进行校准，使雷达模组拼板中心和测试系统的角反射器中心在同一条垂直线上。
[0021]在一个或多个实施方式中，使所述角反射器位于测试系统的距离门中心，包括：
[0022]给雷达模组拼板中心位置的雷达模组上电，通过1dfft数据处理确认角反射器是否位于测试系统的距离门中心；
[0023]若否，调整所述角反射器的高度，使所述角反射器位于测试系统的距离门中心。
[0024]在一个或多个实施方式中，所述方法还包括：
[0025]给雷达模组拼板其他位置的雷达模组上电，检测所述其他位置的雷达模组是否位于确定的距离门。
[0026]在一个或多个实施方式中，基于各次测试的测试数据，确定所述测试系统是否稳定，包括：
[0027]计算各次测试的测试数据的均值和极差，并绘制均值极差控制图；
[0028]基于所述均值极差控制图，分析雷达模组拼板多次测试的测试数据稳定性；
[0029]基于所述测试数据稳定性，确定所述测试系统是否稳定。
[0030]在一个或多个实施方式中，基于各个雷达模组拼板的测试数据，确定雷达模组拼板测试值门限，包括：
[0031]基于各个雷达模组拼版各位置处的雷达模组的测试数据，计算雷达模组拼版各位置处的雷达模组的测试数据的均值和标准方差；
[0032]基于各所述雷达模组的测试数据的均值和标准方差，确定雷达模组拼版各位置处的雷达模组的测试值门限；
[0033]选定雷达模组拼版某一位置处的雷达模组的测试值门限为雷达模组拼板测试值门限；
[0034]基于所述选定位置处的雷达模组的测试值门限与其他位置处的雷达模组的测试值门限的差值，确定其他位置处的雷达模组的测试值门限的补偿参数。
[0035]在一个或多个实施方式中，所述测试数据包括雷达模组拼版中的雷达模组经角反射器反射后接收的能量、信噪比、能量边界值、雷达模组电流和法向角反射器的测角误差中的至少一种。
[0036]在一个或多个实施方式中，基于各所述雷达模组的测试数据的均值和标准方差，确定雷达模组拼版各位置处的雷达模组的测试值门限，包括：
[0037]以各位置处的雷达模组的测试数据的均值加上N倍的各位置处的雷达模组的测试数据的标准方差，为雷达模组拼版各位置处的雷达模组的测试值上限；
[0038]以各位置处的雷达模组的测试数据的均值减去N倍的各位置处的雷达模组的测试数据的标准方差，为雷达模组拼版各位置处的雷达模组的测试值下限。
[0039]在一个或多个实施方式中，所述方法还包括：
[0040]基于各个雷达模组的信噪比测试数据，将各个雷达模组按照信噪比排序；
[0041]按信噪比从低至高依次对各雷达模组进行功能测试，直至被测雷达模组的功能达
标，并以该功能达标的雷达模组的信噪比值为雷达模组拼版的信噪比测试值下限；
[0042]按信噪比从高至低依次对各雷达模组进行虚警测试，直至被测雷达模组无虚警，并以该无虚警的雷达模组的信噪比值为雷达模组拼版的信噪比测试值上限。
[0043]在一个或多个实施方式中，所述方法还包括：
[0044]基于各个雷达模组拼板的测试数据，挑选雷达模组拼板中能量测试值为中值的雷达模组作为标准板，并以所述能量测试值中值为能量标准值；
[0045]基于所述标准板和所述能量标准值，检验测试系统的测试环境。
[0046]与现有技术相比，本专利技术提供的雷达模组批量测试方法，通过将多个雷达模组组成拼版，连续多次测试单一雷达模组拼版，可以确定测试系统的稳定性；通过测试多个雷达模组拼版，可以基于收集的数据确定测试值门限，这个门限可为后续评估待测雷达模组拼版中的雷达模组是否合格提供了一个具体的判断标准，并基于测试值门限和实际收集到的待测雷达模组拼版中的雷达模组的测试数据，来批量确定待测雷达模组拼版中的雷达模组是否合格，这种方法可以更准确地评估雷达模组的性能，避免了人为主观判断可能带来的误差，可提高测试质量和测试效率；并且该方法可重复性强和易于标准化。
附图说明
[0047]图1是本专利技术一实施方式中雷达模组批量测试方法的流程图。
具体实施方式
[0048]下面结合附图，对本发本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种雷达模组批量测试方法，其特征在于，包括：选取多个能够正常的雷达模组，将所述多个雷达模组按预设位置规则排布成雷达模组拼板；使用测试系统对所述雷达模组拼板连续进行多次测试，并收集各次测试的测试数据；基于各次测试的测试数据，确定所述测试系统是否稳定；若是，使用所述测试系统对多个雷达模组拼板进行测试，并收集各个雷达模组拼板的测试数据；基于各个雷达模组拼板的测试数据，确定测试值门限；使用所述测试系统对待测雷达模组拼板进行测试，并基于所述测试值门限和所述待测雷达模组拼板的测试数据，确实所述待测雷达模组拼板中的各个雷达模组是否合格。2.如权利要求1所述的雷达模组批量测试方法，其特征在于，使用测试系统对所述雷达模组拼板连续进行多次测试，包括：将雷达模组拼板安装于测试系统的屏蔽箱内，使雷达模组拼板的中心和测试系统的角反射器中心在同一条垂直线上；烧录雷达模组拼板测试固件；使所述角反射器位于测试系统的距离门中心；使用测试系统对该雷达模组拼板连续进行多次测试。3.如权利要求2所述的雷达模组批量测试方法，其特征在于，使雷达模组拼板中心和测试系统的角反射器中心在同一条垂直线上，包括：通过激光水平仪进行校准，使雷达模组拼板中心和测试系统的角反射器中心在同一条垂直线上。4.如权利要求2所述的雷达模组批量测试方法，其特征在于，使所述角反射器位于测试系统的距离门中心，包括：给雷达模组拼板中心位置的雷达模组上电，通过1dfft数据处理确认角反射器是否位于测试系统的距离门中心；若否，调整所述角反射器的高度，使所述角反射器位于测试系统的距离门中心。5.如权利要求4所述的雷达模组批量测试方法，其特征在于，所述方法还包括：给雷达模组拼板其他位置的雷达模组上电，检测所述其他位置的雷达模组是否位于确定的距离门。6.如权利要求1所述的雷达模组批量测试方法，其特征在于，基于各次测试的测试数据，确定所述测试系统是否稳定，包括：计算各次测试的测试数据的均值和极差，并绘制均值极差控制图；基于所述均值极差控制图，分析雷达模组拼板多次测试的测试数据稳定性；基于所述测试数据稳定性，确定所述测试系统是否稳定。7.如权利要求1所述的雷达模组批...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶祥，陶兵海，
申请(专利权)人：南京矽典微系统有限公司，
类型：发明
国别省市：