一种硅片检测自动对焦结构制造技术

技术编号:38702283 阅读:9 留言:0更新日期:2023-09-07 15:38
本实用新型专利技术公开了一种硅片检测自动对焦结构,包括底座、支撑板、硅片以及凸透镜,所述支撑板固定连接在底座的上表面,所述支撑板的顶端连接有能够调节凸透镜角度的驱动组件,所述驱动组件的底端与凸透镜外表面相连接,涉及硅片检测技术领域,与现有技术相比的优点是通过设置驱动组件,利用螺纹杆与螺纹套筒的螺纹连接带动升降板进行上下移动,并带动伸缩杆上下移动,从而带动伸缩杆输出端的连接板进行移动,通过连杆带动连接块进行上下移动,使凸透镜的一个角进行升降,从而调节凸透镜的角度,通过设置伸缩杆,利用伸缩杆的伸缩,补足凸透镜倾斜式在水平方向上的长度差,避免凸透镜倾斜后,被连接块损坏。被连接块损坏。被连接块损坏。

【技术实现步骤摘要】
一种硅片检测自动对焦结构


[0001]本技术涉及硅片检测
,具体为一种硅片检测自动对焦结构。

技术介绍

[0002]硅片是太阳能电池片的载体,硅片质量的好坏直接决定了太阳能电池片转换效率的高低,因此需要对来料硅片进行检测,该工序主要用来对硅片的一些技术参数进行在线测量,这些参数主要包括硅片表面不平整度、少子寿命、电阻率、P/N型和微裂纹等。该组设备分自动上下料、硅片传输、系统整合部分和四个检测模块。
[0003]公开号为CN216082451U的专利公开了一种硅片检测自动对焦装置,涉及硅片检测
,包括矩形框架,还包括:安装在所述矩形框架上的观察机构;和安装在所述矩形框架上的第一移动组件;和安装在所述第一移动组件上的第二移动组件;和安装在所述第二移动组件上的第三移动组件;所述观察机构包括凸透镜,所述凸透镜两端固定连接第一驱动轴,本技术的有益效果是:通过设置观察机构,能够实现凸透镜的升降和旋转,便于进行快速对焦,加快检测速度,大大提升了检测效率,通过设置第一移动组件、第二移动组件和第三移动组件,实现了硅片的全方位移动,便于对硅片进行全方位检测,大大提升了检测效率。
[0004]上述专利是通过可通过旋转第一旋套带动凸透镜进行旋转,从而完成凸透镜的对焦,然而第一旋套带动凸透镜进行旋转后无法固定,而聚焦后的工作是一个长时间的过程,所以即使在聚焦后,也无法长时间保持聚焦的状态,从而影响到硅片检测效果。
[0005]为此,我们提出一种硅片检测自动对焦结构。

技术实现思路

[0006]鉴于上述和/或现有一种硅片检测自动对焦结构中存在的问题,提出了本技术。
[0007]因此,本技术是在支撑板的表面设置驱动组件,利用螺纹杆与螺纹套筒的螺纹连接带动升降板进行上下移动,并带动伸缩杆上下移动,从而带动伸缩杆输出端的连接板进行移动,通过连杆带动连接块进行上下移动,使凸透镜的一个角进行升降,从而调节凸透镜的角度,完成聚焦,以解决上述
技术介绍
中提出的聚焦后无法长时间保持住的问题。
[0008]一种硅片检测自动对焦结构,包括底座、支撑板、硅片以及凸透镜,所述支撑板固定连接在底座的上表面,所述支撑板的顶端连接有能够调节凸透镜角度的驱动组件,所述驱动组件的底端与凸透镜外表面相连接。
[0009]作为本技术的一种硅片检测自动对焦结构的一种优选方案,其中所述驱动组件包括螺纹杆,所述螺纹杆有三个,所述螺纹杆的表面与支撑板的顶端转动连接。
[0010]作为本技术的一种硅片检测自动对焦结构的一种优选方案,其中所述螺纹杆的顶端延伸至支撑板的上方,所述螺纹杆位于支撑板下方位置的表面螺纹连接有螺纹套筒。
[0011]作为本技术的一种硅片检测自动对焦结构的一种优选方案,其中所述螺纹套筒的外壁固定连接有升降板,所述升降板的底端固定连接有伸缩杆,所述伸缩杆的输出端固定连接有连接板。
[0012]作为本技术的一种硅片检测自动对焦结构的一种优选方案,其中所述连接板远离伸缩杆的一端转动连接有连杆,所述凸透镜的表面固定连接有连接块。
[0013]作为本技术的一种硅片检测自动对焦结构的一种优选方案,其中所述连接块有三个,所述连接块远离凸透镜的一端与连杆转动连接。
[0014]作为本技术的一种硅片检测自动对焦结构的一种优选方案,其中所述底座上表面位于支撑板下方的位置固定连接有质物板,所述质物板的上表面开设有质物槽,所述硅片放置在质物槽的内壁。
[0015]与现有技术相比的优点:
[0016]1、通过设置驱动组件,利用螺纹杆与螺纹套筒的螺纹连接带动升降板进行上下移动,并带动伸缩杆上下移动,从而带动伸缩杆输出端的连接板进行移动,通过连杆带动连接块进行上下移动,使凸透镜的一个角进行升降,从而调节凸透镜的角度;
[0017]2、通过设置伸缩杆,利用伸缩杆的伸缩,补足凸透镜倾斜式在水平方向上的长度差,避免凸透镜倾斜后,被连接块损坏。
附图说明
[0018]图1为一种硅片检测自动对焦结构结构示意图;
[0019]图2为一种硅片检测自动对焦结构主视图;
[0020]图3为一种硅片检测自动对焦结构俯视剖视图;
[0021]图4为一种硅片检测自动对焦结构图1中A的结构示意图。
[0022]图中:底座1、支撑板2、质物板3、质物槽31、硅片24、凸透镜5、螺纹杆61、螺纹套筒62、升降板63、连接板64、连杆65、连接块66、伸缩杆67。
具体实施方式
[0023]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本技术的实施方式作进一步地详细描述。
[0024]本技术提供一种硅片检测自动对焦结构,如图1、图2、图3以及图4所示,包括底座1、支撑板2、硅片24以及凸透镜5,支撑板2固定连接在底座1的上表面,支撑板2的顶端连接有能够调节凸透镜5角度的驱动组件,驱动组件的底端与凸透镜5外表面相连接,凸透镜5是根据光的折射原理制成的,底座1用于为该装置提供支撑,支撑板2用于设置驱动组件,并为驱动组件提供支撑,驱动组件用于带动凸透镜5的三个角进行升降,从而调节凸透镜5的角度,从而完成对焦,凸透镜5是中央较厚,边缘较薄的透镜,凸透镜5分为双凸、平凸和凹凸或正弯月形等形式,凸透镜5有会聚光线的作用故又称会聚透镜。
[0025]驱动组件包括螺纹杆61,螺纹杆61有三个,螺纹杆61的表面与支撑板2的顶端转动连接,螺纹杆61的顶端延伸至支撑板2的上方,螺纹杆61位于支撑板2下方位置的表面螺纹连接有螺纹套筒62,螺纹套筒62的外壁固定连接有升降板63,升降板63的底端固定连接有伸缩杆67,伸缩杆67的输出端固定连接有连接板64,连接板64远离伸缩杆67的一端转动连
接有连杆65,凸透镜5的表面固定连接有连接块66,连接块66有三个,连接块66远离凸透镜5的一端与连杆65转动连接,底座1上表面位于支撑板2下方的位置固定连接有质物板3,质物板3的上表面开设有质物槽31,硅片24放置在质物槽31的内壁,螺纹杆61用于与螺纹套筒62螺纹连接,通过螺纹套筒62与螺纹杆61的螺纹连接可以带动升降板63上下移动,通过升降板63的上下移动带动伸缩杆67上下移动,伸缩杆67用于在凸透镜5倾斜时,补足水平方向上的长度差,连接板64用于连接连杆65,并与连杆65转动连接,通过连杆65带动连接块66上下移动,从而调节凸透镜5的角度,质物板3用于开设有质物槽31,放置硅片24,质物槽31用于放置硅片24。
[0026]工作原理:具体使用时,先将硅片24放置在质物板3表面的质物槽31中,再通过观察凸透镜5对焦,通过转动螺纹杆61的顶端,利用螺纹杆61与螺纹套筒62的螺纹连接,带动升降板63上下移动,升降板63上下移动会带动升降板63底端的伸缩杆67上下移动,从而带动伸缩杆67输出端的连接板64,通过连接板64带动连杆65的顶端上下移动,从而通过连杆65的底端带动连接块66上下移动,使凸透镜5本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硅片检测自动对焦结构,包括底座(1)、支撑板(2)、硅片(24)以及凸透镜(5),其特征在于,所述支撑板(2)固定连接在底座(1)的上表面,所述支撑板(2)的顶端连接有能够调节凸透镜(5)角度的驱动组件,所述驱动组件的底端与凸透镜(5)外表面相连接。2.根据权利要求1所述的一种硅片检测自动对焦结构,其特征在于,所述驱动组件包括螺纹杆(61),所述螺纹杆(61)有三个,所述螺纹杆(61)的表面与支撑板(2)的顶端转动连接。3.根据权利要求2所述的一种硅片检测自动对焦结构,其特征在于,所述螺纹杆(61)的顶端延伸至支撑板(2)的上方,所述螺纹杆(61)位于支撑板(2)下方位置的表面螺纹连接有螺纹套筒(62)。4.根据权利要求3所述的一种硅片检测自动对焦结构,其特征在于,所述螺纹套筒(62...

【专利技术属性】
技术研发人员:查霞明
申请(专利权)人:苏州奥维斯智能门窗有限公司
类型:新型
国别省市:

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