探测方法、探测设备及计算机可读存储介质技术

本申请提供一种探测方法、探测设备及计算机可读存储介质，涉及激光雷达技术领域，该方法包括：根据接收的反射光，确定反射光对应的至少一个特征参数；根据预先设置的电压对应关系，确定与至少一个特征参数相对应的驱动电压；根据驱动电压驱动滤光组件；再次通过滤光组件过滤得到反射光；根据再次得到的反射光，结合预先设置的驱动序列信号进行运算，得到探测参数。在本申请提供的技术方案中，通过确定的驱动电压对滤光组件进行驱动，使得滤光组件可以更多地过滤得到由出射光所形成的反射光，探测设备则可以根据大量的出射光所形成的反射光进行运算，进而可以减少滤光组件对由出射光所形成的反射光的过滤，可以提高探测设备进行探测的准确性。行探测的准确性。行探测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
探测方法、探测设备及计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及激光雷达
，尤其涉及一种探测方法、探测设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着雷达技术的不断发展，激光雷达以准确度高和抗干扰能力强等优势逐渐应用在多个方面，通过向被探测物体发射激光，并接收被探测物体所反射的激光，从而可以准确得到被探测物体的相关信息。
[0003]相关技术中，激光雷达可以包括：发光模组、接收模组和处理器，接收模组中可以包括滤光片。相应的，处理器可以控制发光模组发射激光，并通过滤光片过滤后，接收反射后的激光，则处理器可以根据发射的激光和反射后的激光，确定被探测物体的相关信息。
[0004]但是，激光雷达在工作过程中，发光模组发射激光可能会导致温度上升，从而引起发光模组的温度漂移，导致滤光片无法准确过滤得到反射的激光，进而影响激光雷达的准确性。

技术实现思路

[0005]本申请提供一种探测方法、探测设备及计算机可读存储介质，解决了现有技术中发光模组发射激光可能会导致温度上升，从而引起发光模组的温度漂移，导致滤光片无法准确本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探测方法，其特征在于，所述方法包括：根据接收的反射光，确定所述反射光对应的至少一个特征参数；根据预先设置的电压对应关系，确定与至少一个所述特征参数相对应的驱动电压；根据所述驱动电压驱动滤光组件；再次通过所述滤光组件过滤得到反射光；根据再次得到的反射光，结合预先设置的驱动序列信号进行运算，得到探测参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预先设置的电压对应关系，确定与至少一个所述特征参数相对应的驱动电压，包括：根据至少一个所述特征参数，结合预先设置的电压对应关系，确定初始电压；根据采集得到的温度数据，对所述初始电压进行修正，得到驱动电压。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据至少一个所述特征参数，结合预先设置的电压对应关系，确定初始电压，包括：针对至少一个所述特征参数中的每个所述特征参数，确定所述特征参数所对应的参数类型；根据所述参数类型，选取不同的所述电压对应关系进行查找，得到与所述特征参数对应的初始电压。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述参数类型，选取不同的所述电压对应关系进行查找，得到与所述特征参数对应的初始电压，包括：若所述特征参数对应的参数类型为第一类型参数，则根据所述特征参数，在第一电压对应关系中进行查找，得到所述特征参数对应的初始电压；若所述特征参数对应的参数类型为第二类型参数，则根据当前驱动电压和/或温度数据，从多个第二电压对应关系中，选取与所述当前驱动电压或所述温度数据相匹配的目标第二电压对应关系；在所述目标第二电压对应关系中，查找与所述特征参数相对应的所述初始电压。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据再次得到的反射光，结合预先设置的驱动序列信号进行运算，得到探测参数，包括：根据再次得到的反射光生成回波序列信号；将所述回波序列信号与预...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷述宇，
申请(专利权)人：宁波飞芯电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：